ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM)

ในเดือนพฤษภาคม พ.ศ. 1949 ไม่นานหลังจากสิ้นสุดสงครามโลกครั้งที่สอง JEOL ก่อตั้งขึ้นในฐานะผู้ผลิตกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนและเปิดตัวกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) เป็นครั้งแรกในโลก JEOL ยังคงเป็นบริษัทชั้นนำและจัดหา TEM ล่าสุดให้กับแนวหน้าของกิจกรรมการวิจัยในฐานะบริษัทชั้นนำ
หน้านี้แนะนำ TEM ขนาด 120kV ที่เหมาะสำหรับวัสดุเนื้ออ่อน, TEM ขนาด 200/300kV ตั้งแต่รุ่นเอนกประสงค์ไปจนถึงรุ่นไฮเอนด์, cryo TEM และ TEM ของเซมิคอนดักเตอร์ ซึ่งกำลังมีความสำคัญมากขึ้นในช่วงไม่กี่ปีที่ผ่านมา และสิ่งที่แนบมากับยูนิตหลัก

ผลิตภัณฑ์

TEM สำหรับ cryo

CRYO ARM ™ 300 II (JEM-3300) กล้องจุลทรรศน์ Cryo-Electron แบบปล่อยภาคสนาม

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)กล้องจุลทรรศน์ไครโออิเล็กตรอนแบบปล่อยภาคสนาม

CRYO ARM™ 300 (JEM-Z300FSC) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบปล่อยประจุภาคสนาม

CRYO ARM™ 300 (JEM-Z300FSC)ไมโครสโคปแบบไครโอ-อิเล็กตรอนแบบแผ่รังสีภาคสนาม

CRYO ARM™ 200 (JEM-Z200FSC) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบปล่อยประจุภาคสนาม

CRYO ARM™ 200 (JEM-Z200FSC)ไมโครสโคปแบบไครโอ-อิเล็กตรอนแบบแผ่รังสีภาคสนาม

TEM สำหรับเซมิคอนดักเตอร์

รุ่น JEM-ACE200F High throughput Analytical Electron Microscope

รุ่น JEM-ACE200F High throughput Analytical Electron Microscope

อุณหภูมิ 300kV

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์ความละเอียดอะตอม

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์ความละเอียดอะตอม

อุณหภูมิ 200kV

JEM-ARM200F NEOARM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเชิงวิเคราะห์ความละเอียดอะตอม

JEM-ARM200F NEOARM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเชิงวิเคราะห์ความละเอียดอะตอม

ARM200F แบบเอกรงค์

ARM200F แบบเอกรงค์

JEM-F200 กล้องจุลทรรศน์อิเลคตรอนเอนกประสงค์

JEM-F200 กล้องจุลทรรศน์อิเลคตรอนเอนกประสงค์

JEM-2100Plus กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

JEM-2100Plus กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

JEM-2200FS กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดภาคสนาม

JEM-2200FS กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบปล่อยภาคสนาม

อุณหภูมิ 120kV

JEM-120i กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบแฟลช JEM-1400

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบแฟลช JEM-1400

ตัวเลือก TEM

JED-2300T เอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายพลังงาน

JED-2300T เอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายพลังงาน

กล้อง SightSKY (EM-04500SKY) กล้อง CMOS คัปปลิ้งไฟเบอร์เสียงรบกวนต่ำ

SightSKY (EM-04500SKY) กล้อง CMOS แบบไฟเบอร์คัปปลิ้งที่มีความไวแสงสูง

EM-05500TGP ระบบโทโมกราฟ TEM

EM-05500TGP ระบบโทโมกราฟ TEM

ผลิตภัณฑ์ JEOL-IDES

ผลิตภัณฑ์ JEOL-IDES

ชิปหน้าต่าง SiN

ชิป SiNWindow

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

การพัฒนา /
ตัวอย่างการติดตั้ง

เสียงจากผู้ใช้ของเราในรูปแบบของการสัมภาษณ์ กรณีการติดตั้ง และความลับในการพัฒนา คุณอาจพบคำแนะนำหรือข้อมูลที่มีประโยชน์ซึ่งสามารถใช้แก้ไขปัญหาของคุณได้ กรุณาคลิ้กเพื่อตรวจสอบข้อมูลเหล่านี้

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา