ชิปหน้าต่าง SiN

ฟิล์ม SiN ที่มีความแข็งแรงสูงช่วยให้เราสามารถสังเกตพื้นที่ขนาดใหญ่เป็นมิลลิเมตรได้ นอกจากนี้ยังเหมาะอย่างยิ่งสำหรับการสังเกตส่วนที่หั่นเป็นชุดต่อเนื่องกัน เนื่องจากไม่มีพื้นที่ที่มองไม่เห็นซึ่งเกิดจากกริด TEM ทั่วไป ตัวยึดเฉพาะทำให้ง่ายต่อการทำ Correlative Light และ Electron Microscopy (CLEM)

คุณสมบัติ

ในการใช้ตัวยึด CLEM (ชุดเริ่มต้น SiN Window Chip) ต้องใช้ตัวยึดชิ้นงานทดสอบทั่วไป EM-21010 และ SiN Window Chips (20 ชิป / กล่อง) แยกกัน

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

SiN Window Chip ตัวยึดที่ใช้ร่วมกันได้

• ตัวยึดสำหรับ SiN Window Chip ใช้สำหรับติดตั้งกับตัวจับยึดชิ้นงานทดสอบทั่วไป EM-21010

จิ๊กสำหรับถอดชิปหน้าต่าง SiN และไฟล์แนบ

• จิ๊กนี้ใช้สำหรับยึดรีเทนเนอร์ที่ถอดออกจากตัวจับชิ้นงานทดสอบ

ตัวยึดสำหรับกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล

• ใช้สำหรับยึดรีเทนเนอร์ด้วย SiN Window Chip สำหรับการสังเกตโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล

โหมดที่ใช้ได้

JEM-1400/EM-21010 (SCSH)

วัสดุสิ้นเปลือง

• SiN Window Chip (20 ชิป / กล่อง) (P/N 783131836)

• ก1×2มม² ชิปซิลิกอนไนไตรด์ (SiN) พร้อมหน้าต่างสำหรับวางชิ้นงานทดสอบเพื่อการสังเกตการณ์
  1 ราย (P/N 783131836)
  10 เคส (P/N 783131844) หมายเหตุ : ลด 10%

การใช้งาน

แอปพลิเคชัน SiN_Window_Chip

เคล็มโน้ต

ภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านอัลตร้าไวด์ของไตของหนูเมาส์

การสังเกตการณ์บริเวณกว้างโดยใช้ SiN Window Chip

การสังเกตการแปล TOM20 ในเซลล์ HeLa

อนุภาคทองคำที่กินโดยพารามีเซียม

การระบุอนุภาคละเอียดที่เปล่งแสงเรืองแสงในผงหมึก

ข้อมูลเพิ่มเติม