ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

ผลิตภัณฑ์ที่ยกเลิกการผลิต

เมนู

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM)

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)

อุปกรณ์สำหรับเตรียมตัวอย่าง (CP)

ระบบมัลติบีม (FIB)

อิเล็กตรอนโพรบไมโครอนาไลเซอร์ (EPMA)

Auger ไมโครโพรบ (Auger)

โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโตรมิเตอร์ (ESCA)

เอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนส์สเปกโตรมิเตอร์ (แบบตั้งโต๊ะ)

การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์โพรบ

ผลิตภัณฑ์อื่นๆ

นิวเคลียร์แมกโนติกเรโซเเนนซ์สเปกโตรมิเตอร์ (NMR)

อิเล็กตรอนสปินเรโซเเนนซ์สเปกโตรมิเตอร์ (ESR)

แก๊สโครมาโทกราฟี-แมสสเปกโตรมิเตอร์(GC-MS)

ลิควิดโครมาโตรกราฟี เเมกสเปกโตรมิเตอร์ LC-MS (DART-MS)

มัลดี้ไทม์ออฟไฟลท์ แมสสเปกโตรมิเตอร์ (MALDI-TOF MS)

ตรวจสอบข้อบกพร่องการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (WS)

อิเล็กตรอนบีมลิโทกราฟีซิสเทม

อุปกรณ์สร้างฟิล์มบาง (E-Beam และ Plasma Sources เป็นต้น)

เครื่องวิเคราะห์เคมีคลินิก (CA)

เครื่องวิเคราะห์กรดอะมิโน

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

การพัฒนา /
ตัวอย่างการติดตั้ง

เสียงจากผู้ใช้ของเราในรูปแบบของการสัมภาษณ์ กรณีการติดตั้ง และความลับในการพัฒนา คุณอาจพบคำแนะนำหรือข้อมูลที่มีประโยชน์ซึ่งสามารถใช้แก้ไขปัญหาของคุณได้ กรุณาคลิ้กเพื่อตรวจสอบข้อมูลเหล่านี้

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา