ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

ผลิตภัณฑ์ที่ยกเลิกการผลิต

เมนู

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM)

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)

อุปกรณ์สำหรับเตรียมตัวอย่าง (CP)

ระบบมัลติบีม (FIB)

อิเล็กตรอนโพรบไมโครอนาไลเซอร์ (EPMA)

Auger ไมโครโพรบ (Auger)

โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโตรมิเตอร์ (ESCA)

เอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนส์สเปกโตรมิเตอร์ (แบบตั้งโต๊ะ)

การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์โพรบ

ผลิตภัณฑ์อื่นๆ

นิวเคลียร์แมกโนติกเรโซเเนนซ์สเปกโตรมิเตอร์ (NMR)

อิเล็กตรอนสปินเรโซเเนนซ์สเปกโตรมิเตอร์ (ESR)

อุปกรณ์ต่อพ่วง ESR

แก๊สโครมาโทกราฟี-แมสสเปกโตรมิเตอร์(GC-MS)

ลิควิดโครมาโตรกราฟี เเมกสเปกโตรมิเตอร์ LC-MS (DART-MS)

มัลดี้ไทม์ออฟไฟลท์ แมสสเปกโตรมิเตอร์ (MALDI-TOF MS)

ตรวจสอบข้อบกพร่องการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (WS)

อิเล็กตรอนบีมลิโทกราฟีซิสเทม

อุปกรณ์สร้างฟิล์มบาง (E-Beam และ Plasma Sources เป็นต้น)

เครื่องวิเคราะห์เคมีคลินิก (CA)

เครื่องวิเคราะห์กรดอะมิโน

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

การพัฒนา /
ตัวอย่างการติดตั้ง

เสียงจากผู้ใช้ของเราในรูปแบบของการสัมภาษณ์ กรณีการติดตั้ง และความลับในการพัฒนา คุณอาจพบคำแนะนำหรือข้อมูลที่มีประโยชน์ซึ่งสามารถใช้แก้ไขปัญหาของคุณได้ กรุณาคลิ้กเพื่อตรวจสอบข้อมูลเหล่านี้

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา