กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนทั่วไป
ดีเอ็นเอของ JEOL ที่มีส่วนทำให้เกิดความก้าวหน้าของวิทยาศาสตร์ทั่วโลกและการพัฒนาสังคมอย่างต่อเนื่อง
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนช่วยให้สามารถศึกษาโครงสร้างระดับจุลภาคที่กล้องจุลทรรศน์เเบบใช้เเสงไม่สามารถศึกษาได้ นอกจากนี้ยังสามารถวิเคราะห์ชนิดและองค์ประกอบของธาตุได้อีกด้วย
JEOL ซึ่งมีจุดเริ่มต้นจากการพัฒนากล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ได้จัดหาเครื่องมือใช้ลำแสงอิเล็กตรอน ลำแสงไอออน และเทคโนโลยีเอ็กซ์เรย์ รวมถึงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ที่หลากหลายเเละใช้ในวงกว้าง
ผลิตภัณฑ์

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM)
การสังเกตการณ์ที่มีความละเอียดสูงและการวิเคราะห์เชิงโครงสร้างของระดับอะตอม สามารถวิเคราะห์องค์ประกอบของพื้นที่ไมโครถึงนาโนได้

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)
โดยหลักแล้ว การสังเกตโครงสร้างพื้นผิวและการวิเคราะห์องค์ประกอบสามารถทำได้

อุปกรณ์ประยุกต์ลำแสงไอออน
สามารถเตรียมชิ้นงานทดสอบได้อย่างแม่นยำ การเฝ้าสังเกตและการวิเคราะห์พร้อมกันสามารถทำได้โดยขึ้นอยู่กับรุ่นและสิ่งที่แนบมา

เครื่องมือสำหรับการวิเคราะห์พื้นที่ขนาดเล็กและพื้นผิว
มันวิเคราะห์สถานะรายละเอียดขององค์ประกอบที่มีอยู่ในพื้นที่ไมโครถึงนาโนหรือพื้นผิวของสาร

เครื่องเอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนซ์สเปกโตรมิเตอร์
สามารถวิเคราะห์ชนิดและเนื้อหาขององค์ประกอบในตัวอย่างต่างๆ เช่น ของแข็ง ผง ของเหลว และฟิล์มบาง โดยไม่ต้องใช้ตัวอย่างอ้างอิง

ข้อมูลที่เกี่ยวข้อง
สัมมนาล่าสุด / การสัมมนาผ่านเว็บ
ข้อมูลทางเทคนิคล่าสุดจะถูกแบ่งปันกับคุณในรูปแบบการสัมมนาโดยใช้ตัวอย่างการวิเคราะห์
ภาพยนตร์ที่ผ่านมา (รายการสัมมนาทางเว็บ)
มีห้องสมุดบันทึกการสัมมนาทางเว็บ (สัมมนาทางเว็บ) ที่จัดขึ้นในอดีต