ซีรีส์ SightSKY™
ความไวสูง, เสียงรบกวนต่ำ
กล้อง CMOS แบบเชื่อมต่อไฟเบอร์

・เซ็นเซอร์ CMOS พิกเซล 19 ล้านพิกเซล ความไวสูง และสัญญาณรบกวนต่ำ ช่วยให้สามารถถ่ายภาพชิ้นงานที่มีรายละเอียดละเอียดอ่อน และให้ภาพที่มีสัญญาณต่อสัญญาณรบกวนสูง แม้ในปริมาณอิเล็กตรอนที่ต่ำ
・ชัตเตอร์ทั่วโลกและอัตราเฟรมสูง (58 fps/โหมดพิกเซลเต็ม) ช่วยให้สามารถรับภาพเป็นชุดได้โดยมีสิ่งแปลกปลอมน้อยลงในระหว่างการศึกษาการสังเกตแบบไดนามิกในสถานที่
・ระบบกล้อง SightSKY™ รองรับการบูรณาการกับแพลตฟอร์มการวิเคราะห์แบบบูรณาการ FEMTUS™ ของ JEOL ซึ่งทำให้ใช้งานและรวบรวมข้อมูลได้ง่าย

คุณสมบัติ

ภาพ TEM ความละเอียดสูงของซิลิกอนไนไตรด์ (Si₃N₄)

การซูมแบบดิจิทัลช่วยให้ภาพมีความชัดเจนและมีรายละเอียดแม้จะดูในความละเอียดระดับอะตอม

เครื่องมือ: JEM-2100Plus
แรงดันไฟเร่ง: 200 kV

ภาพ TEM ความละเอียดสูงและรูปแบบการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนของ Al₇₂Fe₂₄Ni₄ ผลึกกึ่งรูปสิบเหลี่ยม

การซูมแบบดิจิทัลทำให้สามารถสังเกตโครงสร้างอะตอมโดยแสดงลักษณะเป็นคาบโดยประมาณ เช่นเดียวกับที่แสดงเมื่อถ่ายภาพผลึกกึ่งคาบ 

นอกจากนี้ ช่วงไดนามิกสูงยังให้ความแตกต่างของรูปแบบการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนที่ยอดเยี่ยม ตั้งแต่จุดตรงที่มีความเข้มสูงลำดับ 0 ไปจนถึงการสะท้อนที่มีความเข้มน้อยกว่า

ตัวอย่างโดยความอนุเคราะห์จาก:
ดร.เคนจิ ฮิรากะ ศาสตราจารย์กิตติคุณ
สถาบันวิจัยวัสดุ มหาวิทยาลัยโทโฮกุ
ดร.คุนิโอะ ยูบุตะ ศาสตราจารย์พิเศษ
สถาบันฟื้นฟูน้ำ มหาวิทยาลัยชินชู

สามเหลี่ยมมุมขวาบนแสดงการแสดงบันทึก

เครื่องดนตรี : JEM-2100Plus,
แรงดันไฟเร่ง: 200 kV

ภาพ TEM ของโพลีคริสตัลลีนซิลิกอน

โครงสร้างที่ละเอียด เช่น พื้นผิวแฝดของโพลีคริสตัลไลน์ซิลิคอน สามารถสังเกตเห็นได้ด้วยความเปรียบต่างสูง

บีเอฟ-เทม

DF-TEM

ภาพสนามมืดจะถูกสร้างขึ้นโดยมีจุดการเลี้ยวเบนที่ระบุไว้

เครื่องมือ： JEM-2100Plus
แรงดันเร่ง: 200 kV

ภาพ TEM ของ MoSi₂-โม₅Si₃ โลหะผสมยูเทคติก

โมซิ₂-โม₅Si₃ โครงสร้างยูเทกติกและ MoSi₂ และโม₅Si₃ สามารถสังเกตเห็นภาพโครงตาข่ายได้อย่างชัดเจน

เครื่องดนตรี : JEM-F200,
แรงดันไฟเร่ง: 200 kV,
การเตรียมตัวอย่าง: JIB-PS500i

ตัวอย่างโดยความอนุเคราะห์จาก:
ดร. ฮารุยูกิ อินูอิ และ ดร. เคียวสุเกะ คิชิดะ ศาสตราจารย์
บัณฑิตวิทยาลัยวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยเกียวโต

ภาพ TEM ของเรซินโพลีเอทิลีน/โพลีโพรพีลีน

การซูมแบบดิจิทัลช่วยให้มองเห็นโครงสร้างของแผ่นเซลล์ได้อย่างชัดเจน

การเตรียมตัวอย่าง: ไมโครโทม,
เครื่องดนตรี : JEM-2100Plus,
แรงดันไฟเร่ง: 80 kV

ภาพ TEM ของเยื่อหุ้มชั้นไขมันสองชั้นของไลโปโซม

สามารถแยกแยะเยื่อหุ้มชั้นไขมันสองชั้นแบบไลโปโซมได้อย่างชัดเจน

การเตรียมตัวอย่าง: การฝังน้ำแข็ง
เครื่องมือ: JEM-F200 (CR),
แรงดันไฟเร่ง: 200 kV

ภาพ TEM ของไตหนู

สามารถสร้างภาพโครงสร้างละเอียดของโกลเมอรูลัสของไตได้ด้วยความคมชัดสูง ช่วยให้วินิจฉัยทางคลินิกได้อย่างแม่นยำ
โดยเฉพาะอย่างยิ่งโครงสร้างที่สำคัญในการสังเกตชิ้นเนื้อไต เช่น เยื่อฐานและส่วนของเท้า (ลูกศร) สามารถสร้างภาพได้อย่างชัดเจนทั้งที่กำลังขยายต่ำและสูง

การเตรียมตัวอย่าง: ไมโครโทม,
เครื่องดนตรี: JEM-120i,
แรงดันไฟเร่ง: 120 kV

การควบคุมอัจฉริยะด้วยแพลตฟอร์มการวิเคราะห์แบบบูรณาการ FEMTUS™ ของ JEOL

ระบบกล้องถูกรวมเข้ากับแพลตฟอร์มการวิเคราะห์แบบบูรณาการ FEMTUS™ ของ JEOL และให้การใช้งานที่เป็นมิตรกับผู้ใช้

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

ดาวน์โหลดแคตตาล็อก

SightSKY (EM-04500SKY) กล้อง CMOS คัปปลิ้งไฟเบอร์ความไวสูง สัญญาณรบกวนต่ำ

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์ความละเอียดอะตอม

อัปเกรด "GRAND ARM™2" แล้ว
"GRAND ARM™2" ช่วยให้สามารถสังเกตได้ที่ความละเอียดเชิงพื้นที่สูงเป็นพิเศษด้วยการวิเคราะห์ที่มีความละเอียดอ่อนสูงในช่วงแรงดันไฟฟ้าเร่งความเร็วที่กว้าง

JEM-ARM200F NEOARM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเชิงวิเคราะห์ความละเอียดอะตอม

"NEOARM" / JEM-ARM200F มาพร้อมกับปืนยิงแสงเย็น (Cold FEG) ที่เป็นเอกลักษณ์ของ JEOL และตัวแก้ไข Cs ใหม่ (ASCOR) ที่ชดเชยความคลาดเคลื่อนลำดับสูง การผสมผสานระหว่าง Cold FEG และ ASCOR ช่วยให้สามารถถ่ายภาพด้วยความละเอียดระดับอะตอมได้ไม่เพียงแต่ที่แรงดันไฟฟ้าเร่ง 200 กิโลโวลต์เท่านั้น แต่ยังรวมถึงแรงดันไฟฟ้าต่ำที่ 30 กิโลโวลต์อีกด้วย"NEOARM" ยังมาพร้อมกับระบบแก้ไขความคลาดเคลื่อนอัตโนมัติที่ผสานรวมอัลกอริธึมแก้ไขความคลาดเคลื่อนใหม่ของ JEOL เพื่อการแก้ไขความคลาดเคลื่อนอัตโนมัติที่รวดเร็วและแม่นยำ ระบบนี้ช่วยให้สามารถถ่ายภาพด้วยความละเอียดระดับอะตอมได้ในปริมาณงานที่สูงขึ้น

JEM-F200 กล้องจุลทรรศน์อิเลคตรอนเอนกประสงค์

JEM-F200 เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องผ่านภาคสนาม ซึ่งมีความละเอียดเชิงพื้นที่และประสิทธิภาพการวิเคราะห์ที่สูงขึ้น ควบคู่ไปกับอินเทอร์เฟซผู้ใช้ที่ใช้งานง่ายสำหรับการใช้งานอเนกประสงค์

JEM-2100Plus กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

JEM-2100Plus เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านเอนกประสงค์ ซึ่งรวมระบบออปติก JEM-2100 ที่ได้รับการพิสูจน์แล้วเข้ากับระบบควบคุมขั้นสูงเพื่อเพิ่มความสะดวกในการใช้งาน บรรลุประสิทธิภาพที่เหนือกว่าผ่านการใช้งานง่าย JEM-2100Plus นำเสนอโซลูชั่นสำหรับการใช้งานที่หลากหลายตั้งแต่วัสดุศาสตร์ไปจนถึงการศึกษาทางการแพทย์/ชีวภาพ

JEM-120i กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) ที่มีแรงดันไฟฟ้าเร่ง 120kV ถูกนำมาใช้กันอย่างแพร่หลายในสาขาวัสดุอ่อน เช่น ชีววิทยาและโพลีเมอร์ เราพัฒนา JEM-120i ใหม่ด้วยแนวคิด "กะทัดรัด" "ใช้งานง่าย" และ "ขยายได้" ด้วยรูปลักษณ์ภายนอกใหม่ เครื่องมือนี้ได้พัฒนาเป็นเครื่องมือที่มีประโยชน์ที่ใครๆ ก็สามารถใช้งานได้ง่าย ตั้งแต่การใช้งานไปจนถึงการบำรุงรักษา

ข้อมูลเพิ่มเติม