ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

เปิดตัวกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนความละเอียดอะตอมใหม่!

อัปเกรด "GRAND ARM™2" แล้ว
"GRAND ARM™2" ใหม่นี้ช่วยให้สามารถสังเกตที่ความละเอียดเชิงพื้นที่สูงพิเศษด้วยการวิเคราะห์ที่มีความไวสูงในช่วงแรงดันไฟฟ้าที่เร่งความเร็วได้หลากหลาย

คุณสมบัติ

 

Feature1

FHP2 ชิ้นขั้วเลนส์ใกล้วัตถุที่พัฒนาขึ้นใหม่

ชิ้นขั้วเลนส์ใกล้วัตถุ FHP ได้รับการปรับให้เหมาะสมสำหรับการสังเกตความละเอียดเชิงพื้นที่สูงเป็นพิเศษ
ในขณะที่ยังคงความสามารถนี้ รูปทรงของชิ้นขั้วได้รับการปรับให้เหมาะสมเพิ่มเติมสำหรับมุมแข็งของเอ็กซ์เรย์และมุมยกของ SDD คู่ขนาดใหญ่ (158 มม.2).
ด้วยเหตุนี้ ประสิทธิภาพการตรวจจับด้วยรังสีเอกซ์ของ FHP2 จึงมีความละเอียดอ่อนเป็นสองเท่าของ FHP สามารถให้ความละเอียดย่อยในแผนที่องค์ประกอบ EDS

ความละเอียดของอะตอม ภาพ STEM-HAADF/ABF และแผนที่ EDS สำหรับ GaN[211]

 

Feature2

ตู้ใหม่

คอลัมน์ TEM ถูกหุ้มด้วยกล่องหุ้มแบบกล่อง ซึ่งสามารถลดผลกระทบจากการเปลี่ยนแปลงสภาพแวดล้อม เช่น อุณหภูมิ การไหลของอากาศ เสียงอะคูสติก และอื่นๆ จากนั้นจะช่วยเพิ่มความเสถียรของกล้องจุลทรรศน์

 

Feature3

ETA Corrector & JEOL COSMO™
การแก้ไขความคลาดเคลื่อนอย่างรวดเร็วและแม่นยำ

JEOL COSMO™ ใช้ Ronchigrams 2 ชิ้นที่ได้จากพื้นที่อสัณฐานใดๆ เพื่อวัดและแก้ไขความคลาดเคลื่อน
ดังนั้น ระบบจึงสามารถแก้ไขความคลาดเคลื่อนได้อย่างแม่นยำและรวดเร็วโดยไม่ต้องใช้ตัวอย่างเฉพาะ

 

Feature4

ปรับปรุงเสถียรภาพ

CFEG ใหม่ (ปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนามเย็น) ใช้ SIP ที่เล็กกว่าซึ่งมีปริมาตรการอพยพที่มากกว่าเดิมสำหรับ GRAND ARM™2 การเพิ่มปริมาณการอพยพของ SIP ช่วยเพิ่มระดับของสุญญากาศใกล้กับอีซีแอลภายใน CFEG และยังช่วยเพิ่มความเสถียรของกระแสการปล่อยและโพรบอีกด้วย การย่อขนาด SIP สามารถลดมวลรวมของ CFEG ได้ประมาณ 100 กก.
การประหยัดน้ำหนักของ CFEG ช่วยเพิ่มความทนทานต่อการสั่นสะเทือนของกล้องจุลทรรศน์

การปรับปรุงอื่นๆ ยังช่วยเพิ่มความเสถียรและความต้านทานต่อการรบกวนต่างๆ สำหรับกล้องจุลทรรศน์

แรงดันเร่ง แกรนด์อาร์ม™ (FHP) GRAND ARM™2 (FHP2)
300 kV น. 63 น. 53
200 kV น. 78 น. 63
80 kV น. 136 น. 96
60 kV น. 136 น. 96
40 kV น. 192 น. 136
แรงดันเร่ง แกรนด์อาร์ม™ (WGP) GRAND ARM™2 (WGP)
300 kV น. 82 น. 59
200 kV น. 105 น. 82
80 kV น. 136 น. 111
60 kV น. 192 น. 136
40 kV น. 313 น. 192

ตารางที่ 1. รับประกันความละเอียดของภาพ STEM พร้อมตัวแก้ไข STEM ETA สำหรับ GRAND ARM™ และ GRAND ARM™2

 

Feature5

ระบบ OBF (ตัวเลือก)

ด้วยวิธีการถ่ายภาพแบบใหม่ 'OBF STEM (STEM ฟิลด์สว่างที่เหมาะสมที่สุด)'ภาพดิบที่ได้จากเครื่องตรวจจับ STEM แบบแบ่งส่วนจะใช้เป็นแหล่งสำหรับการสร้างภาพเฟสขึ้นใหม่ โดยมีตัวกรองฟูริเยร์เฉพาะเพื่อเพิ่มอัตราส่วนสัญญาณต่อสัญญาณรบกวนของภาพที่ดึงออกมา
วิธีการที่มีแนวโน้มดีนี้จะทำให้เกิดคอนทราสต์ที่สูงขึ้นสำหรับทั้งองค์ประกอบที่หนักและเบา แม้ในขณะที่ทำงานภายใต้สภาวะที่มีปริมาณอิเล็กตรอนต่ำมาก วัสดุที่ไวต่อลำแสงที่สังเกตได้ยากด้วยวิธีการ ADF และ ABF STEM มาตรฐานสามารถวิเคราะห์ได้อย่างง่ายดายด้วยคอนทราสต์ที่สูงขึ้นในช่วงการขยายที่กว้าง

คุณอู๋, ต. เซกิ, และคณะ Ultramicroscopy 220, 113133 (พ.ศ. 2021)

STEM การถ่ายภาพในขนาดต่ำ

วัสดุที่ไวต่อลำแสงซึ่งรวมถึง Metal Organic Frameworks (MOFs) และซีโอไลต์ต้องการปริมาณอิเล็กตรอนที่ลดลง (โดยทั่วไปคือโพรบปัจจุบัน < 1.0 pA) ในขณะที่ยังคงความเปรียบต่างของอะตอมที่ชัดเจนสำหรับโครงร่างขององค์ประกอบแสง
OBF STEM มีข้อได้เปรียบสำหรับการทดลองปริมาณรังสีต่ำ โดยทำให้ได้ภาพ STEM ที่มีประสิทธิภาพปริมาณรังสีสูงเป็นพิเศษในความละเอียดระดับอะตอม 

ทั้ง OBF STEM Image MOF MIL-101 (ซ้าย) และ MFI Zeolite (ขวา) ได้มาในช็อตเดียว และยังสามารถสังเกตความละเอียดเชิงพื้นที่สูงที่ 1 Å ในรูปแบบ FFT ในส่วนแทรกด้านขวาได้อีกด้วย ยิ่งไปกว่านั้น ค่าเฉลี่ยของภาพซ้อน (ภาพแทรกด้านซ้าย) ยืนยันว่าความละเอียดและคอนทราสต์มีความสมดุลเป็นอย่างดี

ตัวอย่าง : MOF MIL-101
เครื่องมือ : JEM-ARM300F2
แรงดันไฟเร่ง : 300 kV
คอนเวอร์เจนซ์ กึ่งมุม : 7 mrad
โพรบปัจจุบัน : < 0.15 pA
สิ่งที่ใส่เข้าไป) รูปแบบ FFT และภาพเฉลี่ย 50 เฟรม
ตัวอย่างมารยาทของ Prof. Zhenxia Zhao, Guangxi University

ตัวอย่าง : MFI Zeolite
เครื่องมือ : JEM-ARM300F2
แรงดันไฟเร่ง : 300 kV
คอนเวอร์เจนซ์ กึ่งมุม : 16 mrad
โพรบปัจจุบัน : 0.5 pA
สิ่งที่ใส่เข้าไป) รูปแบบ FFT

การถ่ายภาพที่มีความเปรียบต่างสูงสำหรับองค์ประกอบแสง

นอกจากจะมีประสิทธิภาพปริมาณรังสีสูงแล้ว OBF STEM ยังมีประโยชน์สำหรับการถ่ายภาพองค์ประกอบแสงอีกด้วย
แม้ในแรงดันการเร่งความเร็วที่ต่ำกว่า ก็สามารถให้ทั้งความเปรียบต่างที่สูงขึ้นและความละเอียดเชิงพื้นที่สำหรับองค์ประกอบแสงได้

ตัวอย่าง : กาน [110]
เครื่องมือ : JEM-ARM200F
แรงดันไฟเร่ง : 60 kV
คอนเวอร์เจนซ์ กึ่งมุม : 35 mrad


ตัวอย่าง : Graphene
เครื่องมือ : JEM-ARM200F
แรงดันไฟเร่ง : 60 kV
คอนเวอร์เจนซ์ กึ่งมุม : 35 mrad


ความละเอียดขององค์ประกอบแสงจะดีขึ้นมากด้วยแรงดันไฟเร่งที่สูงกว่า
คอลัมน์อะตอมแต่ละคอลัมน์แยกจากกันอย่างชัดเจนด้วยความละเอียดย่อยของอังสตรอมลึกภายในโครงสร้างที่ซับซ้อนหรือตามแกนผลึกที่มีดัชนีสูงกว่า
คุณภาพของ OBF STEM นั้นยอดเยี่ยมในสภาวะที่มีปริมาณรังสีต่ำ และปรับปรุงเพิ่มเติมภายใต้สภาวะโพรบมาตรฐานของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบแก้ไขด้วย Cs

ตัวอย่าง : β-Si3N4 [0001]
เครื่องมือ : JEM-ARM200F
แรงดันไฟเร่ง : 200 kV
คอนเวอร์เจนซ์ กึ่งมุม : 24 mrad
สิ่งที่ใส่เข้าไป) 10 เฟรมเฉลี่ย


ตัวอย่าง : กาน [211]
เครื่องมือ : JEM-ARM300F2
แรงดันไฟเร่ง : 300 kV
คอนเวอร์เจนซ์ กึ่งมุม : 32 mrad
สิ่งที่ใส่เข้าไป) 20 เฟรมเฉลี่ย


  • e-ABF (ABF ที่ปรับปรุงแล้ว) ไม่พร้อมใช้งานในการกำหนดค่า SAAF Quad

ถ่ายทอดสด OBF Imaging

ในการทดลองจริง การถ่ายภาพ OBF แบบสดเป็นพื้นฐานสำหรับวัสดุที่ไวต่อลำแสง เนื่องจากการดำเนินการทั้งหมดควรดำเนินการในสภาวะที่มีปริมาณรังสีที่จำกัด ฟังก์ชันถ่ายทอดสดรวมอยู่ในระบบ OBF ซึ่งใช้งานภายในซอฟต์แวร์ควบคุม TEM พร้อมการควบคุม GUI ที่เรียบง่ายและการอัปเดตการแสดงผลแบบเรียลไทม์ควบคู่ไปกับภาพ STEM แบบเดิม

Movie

การสังเกตภาพ OBF-STEM แบบสดด้วย JEM-ARM200F

◆ คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน แล้วหนังจะเริ่ม (ประมาณ 1 นาที) ◆

ลิงค์

  • ข่าวประชาสัมพันธ์

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

ข้อมูลจำเพาะที่หน้าหลัก

รุ่น การกำหนดค่าความละเอียดสูงพิเศษ การกำหนดค่าความละเอียดสูง
ขั้วเลนส์ใกล้วัตถุ FHP2 สวพ
แรงดันไฟเร่งมาตรฐาน 300kV, 80kV
ปืนอิเล็กตรอน ปืนปล่อยสนามเย็น
ความละเอียด STEM ติดตั้งตัวแก้ไข STEM Cs 300kV / 80kV แล้ว
53 น. / 96 น. 59 น. / 111 น.
TEM ความละเอียด ติดตั้งตัวแก้ไข TEM Cs 300 kV / 80 kV แล้ว
ความละเอียดตาข่าย 50pm / - ความละเอียดตาข่าย 60 น. / -
ขีด จำกัด ข้อมูลที่ไม่ใช่เชิงเส้น
60 น. / 90 น.
ขีด จำกัด ข้อมูลที่ไม่ใช่เชิงเส้น
70 น. / 100 น.
ขีด จำกัด ข้อมูลเชิงเส้น
90 น. / 160 น.
ขีด จำกัด ข้อมูลเชิงเส้น
100 น. / 170 น.
มุมเอียงสูงสุด เมื่อใช้ตัวจับเอียงชิ้นงานทดสอบ JEOL สำหรับการวิเคราะห์
X:± 30°/ Y: ± 27° X:± 36°/ Y: ± 31°
เมื่อใช้ตัวจับชิ้นงานที่มีความเอียงสูง
เอ็กซ์:± 90° เอ็กซ์:± 90°

ดาวน์โหลดแคตตาล็อก

การใช้งาน

แอปพลิเคชัน JEM-ARM300F2

รูปภาพ

Movie

JEOL ความละเอียดอะตอม EDS map โดย GRAND ARM™2 พร้อมขั้ว FHP2 และ 158 มม.2 ระบบ SDD คู่

◆คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน แล้วภาพยนตร์จะเริ่ม (ประมาณ 1 .5 นาที) ◆

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

ข้อมูลเพิ่มเติม

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา