ระบบมัลติบีม (FIB)
ระบบลำแสงไอออนแบบโฟกัสเป็นเครื่องมือในการกัดชิ้นงานทดสอบโดยใช้ลำแสงไอออนที่ความเร็วสูงและมีความเที่ยงตรงสูงในระหว่างการสังเกต สามารถที่จะเตรียมชิ้นงานทดสอบสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) โดยการกัดอัตโนมัติและการวิเคราะห์ 3 มิติ
ระบบหลายลำแสงที่ติดตั้งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) สามารถวิเคราะห์ได้หลากหลายโดยติดตั้งเครื่องตรวจจับ
ระบบ MultiBeam (FIB)
ผลิตภัณฑ์
IBF
ตัวเลือก FIB
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป
การพัฒนา /
ตัวอย่างการติดตั้ง
เสียงจากผู้ใช้ของเราในรูปแบบของการสัมภาษณ์ กรณีการติดตั้ง และความลับในการพัฒนา คุณอาจพบคำแนะนำหรือข้อมูลที่มีประโยชน์ซึ่งสามารถใช้แก้ไขปัญหาของคุณได้ กรุณาคลิ้กเพื่อตรวจสอบข้อมูลเหล่านี้
ติดต่อ
เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา