ดาวน์โหลดแคตตาล็อก
คุณสามารถดาวน์โหลดแคตตาล็อก PDF สำหรับแต่ละผลิตภัณฑ์
คลิกที่ภาพแคตตาล็อกและกรอกแบบฟอร์ม (เพียงครั้งเดียว)
คุณสามารถดาวน์โหลดและดูแคตตาล็อกในรูปแบบ PDF
ข้อมูล บริษัท
จอลนิวส์
คู่มือผลิตภัณฑ์
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM)
ตัวเลือก (TEM)
Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc. / ผลิตภัณฑ์ (TEM)
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)
SEM ซีรีส์
FE-SEM
ตัวเลือก (FE-SEM)
SEM ธรรมดา
ตัวเลือก (SEM ธรรมดา)
อุปกรณ์ประยุกต์ลำแสงไอออน (FIB, CP)
ระบบมัลติบีม (FIB)
ตัวเลือก (FIB)
อุปกรณ์สำหรับเตรียมตัวอย่าง (CP)
ตัวเลือก (CP)
เครื่องมือสำหรับการวิเคราะห์พื้นที่ขนาดเล็กและพื้นผิว (EPMA, Auger, XPS, ESCA)
-
EPMA เป็นตัวย่อของ Electron Probe Microanalyzer