ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

ดาวน์โหลดแคตตาล็อก

คุณสามารถดาวน์โหลดแคตตาล็อก PDF สำหรับแต่ละผลิตภัณฑ์
คลิกที่ภาพแคตตาล็อกและกรอกแบบฟอร์ม (เพียงครั้งเดียว)
คุณสามารถดาวน์โหลดและดูแคตตาล็อกในรูปแบบ PDF

เมนู

ข้อมูล บริษัท

ข้อมูล บริษัท

ข้อมูล บริษัท
(ไม่ต้องลงทะเบียน)

จอลนิวส์

JEOL NEWS ฉบับที่ 59 ฉบับที่ 1 ปี 2024

JEOL NEWS ฉบับที่ 59 ฉบับที่ 1 ปี 2024

คู่มือผลิตภัณฑ์

คู่มือผลิตภัณฑ์

คู่มือผลิตภัณฑ์
(ไม่ต้องลงทะเบียน)

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM)

CRYO ARM ™ 300 II (JEM-3300) กล้องจุลทรรศน์ Cryo-Electron แบบปล่อยภาคสนาม

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) กล้องจุลทรรศน์ไครโออิเล็กตรอนแบบปล่อยภาคสนาม

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบปล่อยประจุภาคสนาม

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) กล้องจุลทรรศน์ไครโออิเล็กตรอนแบบปล่อยภาคสนาม

JEM-Z200CA (CRYO ARM™ 200) กล้องจุลทรรศน์ไครโออิเล็กตรอนแบบปล่อยภาคสนาม

JEM-Z200CA (CRYO ARM™ 200) กล้องจุลทรรศน์ไครโออิเล็กตรอนแบบปล่อยภาคสนาม

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบความละเอียดอะตอม

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบละเอียดระดับอะตอม

JEM-ARM200F NEOARM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเชิงวิเคราะห์ความละเอียดอะตอม

JEM-ARM200F NEOARM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบวิเคราะห์ความละเอียดอะตอม

กล้องจุลทรรศน์อิเลคตรอนเชิงวิเคราะห์ความละเอียดอะตอม JEM-ARM200F แบบโมโนโครม

JEM-ARM200F กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบวิเคราะห์ความละเอียดอะตอมแบบโมโนโครม

JEM-F200 กล้องจุลทรรศน์อิเลคตรอนเอนกประสงค์

JEM-F200 กล้องจุลทรรศน์อิเลคตรอนเอนกประสงค์

JEM-2200FS กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดภาคสนาม

JEM-2200FS กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดภาคสนาม

EM-2100Plus กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

JEM-2100Plus กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบแฟลช JEM-1400

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบแฟลช JEM-1400

JEM-120i กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

JEM-120i กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

ตัวเลือก (TEM)

กล้อง SightSKY EM-04500SKY กล้อง CMOS Fiber-Coupling ความไวสูง สัญญาณรบกวนต่ำ

กล้อง CMOS ความไวสูง เสียงรบกวนต่ำ SightSKY EM-04500SKY

ระบบ OBF

ระบบ OBF

JEM-1400/JEM-1400Plus กำลังอัปเกรดด้วยกล้องแฟลช

JEM-1400/JEM-1400Plus กำลังอัปเกรดด้วยกล้องแฟลช

SAAF Octa แบ่งส่วนเป็นรูปวงแหวนเครื่องตรวจจับสนามทั้งหมด Octa

SAAF Octa แบ่งส่วนเป็นรูปวงแหวนเครื่องตรวจจับสนามทั้งหมด Octa

4DCanvas™ ตัวตรวจจับ Pixelated STEM

4DCanvas™ ตัวตรวจจับ Pixelated STEM

สมุดข้อมูลแอปพลิเคชัน 4DCanvas™

สมุดข้อมูลแอปพลิเคชัน 4DCanvas™

แพลตฟอร์มการวิเคราะห์แบบรวม FEMTUS™ -EDS Edition-

แพลตฟอร์มการวิเคราะห์แบบรวม FEMTUS™ -EDS Edition-

Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc. / ผลิตภัณฑ์ (TEM)

โบรชัวร์ผลิตภัณฑ์ (Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc.)

โบรชัวร์สินค้า (IDES)

บันทึกการใช้งาน IDES การสร้างภาพ STEM สำหรับตัวอย่าง 'ซีโอไลต์' ที่ไวต่อลำแสงอิเล็กตรอน

บันทึกการใช้งาน IDES การสร้างภาพ STEM สำหรับตัวอย่าง "ซีโอไลต์" ที่ไวต่อลำแสงอิเล็กตรอน

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)

SEM ซีรีส์

SEM ซีรีส์

SEM ซีรีส์

FE-SEM

รุ่น JSM-IT810 Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope

รุ่น JSM-IT810 Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope

รุ่น JSM-IT800 Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope

JSM-IT800 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแบบสแกนสนาม Schottky

JSM-IT800 Super Hybrid Lens (SHL) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสนาม Schottky

JSM-IT800 เลนส์ซูเปอร์ไฮบริด (SHL) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแบบสแกนสนาม Schottky

JSM-IT800(i)/(คือ) Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope

JSM-IT800(i)/(is) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแบบสแกนสนาม Schottky

ตัวเลือก (FE-SEM)

ตู้เก็บเสียง Neo Comfort FE-SEM

ตู้เก็บเสียง Neo Comfort FE-SEM

SM-92100EUVC เอ็กซ์ไซเมอร์ ยูวี คลีนเนอร์

SM-92100EUVC เอ็กซ์ไซเมอร์ ยูวี คลีนเนอร์

Gather-X JED ซีรีส์ Dry SD™ Windowless EDS

Gather-X JED ซีรีส์ Dry SD™ Windowless EDS

SS-94000SXES/SS-94040SXSER ซุปเปอร์สเปกโตรมิเตอร์

SS-94000SXES/SS-94040SXSER ซุปเปอร์สเปกโตรมิเตอร์

คู่มือการใช้งาน Soft X-ray Emission Spectra เวอร์ชัน 8.0 (กรกฎาคม 2023)

คู่มือ Soft X-ray Emission Spectra เวอร์ชัน 8.0 (กรกฎาคม 2023)

สเปกโตรมิเตอร์การปล่อยรังสีเอกซ์แบบอ่อน SXES-LR/ER, -LREP/EREP

สเปกโตรมิเตอร์การปล่อยรังสีเอกซ์แบบอ่อน SXES-LR/ER, -LREP/EREP

เอกซเรย์อาร์เรย์ SEM

การสร้างสามมิติของตัวอย่างเนื้อเยื่อเอกซ์เรย์เอกซ์เรย์

SEM ธรรมดา

JSM-IT710HR กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

JSM-IT710HR กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

JSM-IT700HR InTouchScope™ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

JSM-IT700HR InTouchScope™ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

JSM-IT510 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด InTouchScope™

JSM-IT510 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด InTouchScope™

JSM-IT210 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

JSM-IT210 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

JSM-IT200 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด InTouchScope™

JSM-IT200 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด InTouchScope™

JCM-7000 NeoScope™ แบบตั้งโต๊ะอเนกประสงค์ SEM

JCM-7000 NeoScope™ แบบตั้งโต๊ะอเนกประสงค์ SEM

เครื่องมือตั้งโต๊ะ JCM-7000 NeoScope™ สำหรับการวิเคราะห์วัสดุต่างประเทศและการกำหนดวัสดุ

เครื่องมือแบบตั้งโต๊ะ JCM-7000 NeoScope™ สำหรับการวิเคราะห์วัสดุแปลกปลอมและการกำหนดวัสดุ

เครื่องมือตั้งโต๊ะ JCM-7000 NeoScope™ เพื่อการประกันคุณภาพ

เครื่องมือแบบตั้งโต๊ะ JCM-7000 NeoScope™ เพื่อการประกันคุณภาพ

ตัวเลือก (SEM ธรรมดา)

EDS สำหรับ JSM-IT200 / DrySD™60

EDS สำหรับ JSM-IT200 / DrySD™60

อุปกรณ์ประยุกต์ลำแสงไอออน (FIB, CP)

ระบบมัลติบีม (FIB)

JIB-PS500i ระบบ FIB-SEM

JIB-PS500i ระบบ FIB-SEM

JIB-4700F ระบบมัลติบีม

JIB-4700F ระบบมัลติบีม

ตัวเลือก (FIB)

CRYO-FIB-SEM ไครโอลาเมลเลอร์

CRYO-FIB-SEM ไครโอลาเมลเลอร์

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS ระบบการเตรียมตัวอย่าง TEM อัตโนมัติ STEMPLING

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS ระบบการเตรียมตัวอย่าง TEM อัตโนมัติ STEMPLING

อุปกรณ์สำหรับเตรียมตัวอย่าง (CP)

IB-19540CP/IB-19550CCP 4P

เครื่องขัดหน้าตัด IB-19540CP/IB-19550CCP™

IB-10500HMS CROSS SECTION POLISHER™ ระบบการกัดปริมาณงานสูง

IB-10500HMS CROSS SECTION POLISHER™ ระบบงานกัดที่มีปริมาณงานสูง

IB-19520CCP ข้ามส่วนขัด™

IB-19520CCP ข้ามส่วนขัด™

IB-19530CP CROSS SECTION POLISER™

IB-19530CP CROSS SECTION POLISER™

ตัวเลือก (CP)

CROSS SECTION POLISHER™ กล้องจุลทรรศน์กำหนดตำแหน่งที่แม่นยำ

CROSS SECTION POLISHER™ กล้องจุลทรรศน์กำหนดตำแหน่งที่แม่นยำ

CROSS SECTION POLISHER™ กล้องจุลทรรศน์กำหนดตำแหน่งที่แม่นยำ TYPE2

CROSS SECTION POLISHER™ กล้องจุลทรรศน์กำหนดตำแหน่งที่แม่นยำ TYPE2

เครื่องมือสำหรับการวิเคราะห์พื้นที่ขนาดเล็กและพื้นผิว (EPMA, Auger, XPS, ESCA)

  • EPMA เป็นตัวย่อของ Electron Probe Microanalyzer

อิเล็กตรอนโพรบไมโครอนาไลเซอร์ (EPMA)

ข้อมูลแอปพลิเคชั่น WDS

ข้อมูลแอปพลิเคชั่น WDS

JXA-iHP200F Schottky field emission Electron Probe Microanalyzer JXA-iSP100 ทังสเตน/LaB 6 Electron Probe Microanalyzer

เครื่องวิเคราะห์ไมโครโพรบอิเล็กตรอน JXA-iHP200F/JXA-iSP100

ตัวเลือก (EPMA)

SS-94000SXES/SS-94040SXSER ซุปเปอร์สเปกโตรมิเตอร์

SS-94000SXES/SS-94040SXSER ซุปเปอร์สเปกโตรมิเตอร์

คู่มือการใช้งาน Soft X-ray Emission Spectra เวอร์ชัน 8.0 (กรกฎาคม 2023)

คู่มือ Soft X-ray Emission Spectra เวอร์ชัน 8.0 (กรกฎาคม 2023)

สเปกโตรมิเตอร์การปล่อยรังสีเอกซ์แบบอ่อน SXES-LR/ER, -LREP/EREP

สเปกโตรมิเตอร์การปล่อยรังสีเอกซ์แบบอ่อน SXES-LR/ER, -LREP/EREP

Auger ไมโครโพรบ (Auger)

JAMP-9510F สว่านเจาะกระแทกภาคสนาม Microprobe

JAMP-9510F สว่านเจาะกระแทกภาคสนาม Microprobe

ตัวเลือก (สว่าน)

ภาพสเปกตรัม

ภาพสเปกตรัม

โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโตรมิเตอร์ (ESCA)

JPS-9030 โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโตรมิเตอร์ (XPS)

JPS-9030 โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโตรมิเตอร์ (XPS)

สเปกโตรมิเตอร์เรโซแนนซ์แม่เหล็กนิวเคลียร์ (NMR)

JNM-ECZL ซีรีส์ FT NMR

JNM-ECZL ซีรีส์ FT NMR

โซลิดสเตต NMR

โซลิดสเตต NMR

คิวเอ็นเอ็มอาร์

การวิเคราะห์เชิงปริมาณ qNMR โดย NMR

ระบบการเรียกคืนไครโอเจน

ระบบการเรียกคืนไครโอเจน

หัววัด ROYALPROBE™ HFX

หัววัด ROYALPROBE™ HFX

การปฏิบัติตามความสมบูรณ์ถูกต้องของข้อมูลของ JEOL NMR

การปฏิบัติตามความสมบูรณ์ถูกต้องของข้อมูลของ JEOL NMR

ออโตมัส ROYALPROBE™

ออโตมัส ROYALPROBE™

ซุปเปอร์คูล มาร์เวล

ซุปเปอร์คูล มาร์เวล

อิเล็กตรอนสปินเรโซเเนนซ์สเปกโตรมิเตอร์ (ESR)

สเปกโตรมิเตอร์เรโซแนนซ์สปินอิเล็กตรอนซีรีส์ JES-X3

สเปกโตรมิเตอร์เรโซแนนซ์สปินอิเล็กตรอนซีรีส์ JES-X3

ตัวเลือก(ESR)

โบรชัวร์แนบเครื่องสเปกโตรมิเตอร์เรโซแนนซ์สปินอิเล็กตรอน

โบรชัวร์แนบเครื่องสเปกโตรมิเตอร์เรโซแนนซ์สปินอิเล็กตรอน

เอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนส์สเปกโตรมิเตอร์ (XRF)

JSX-1000S เอ็กซ์เรย์เรืองแสงสเปกโตรมิเตอร์ (XRF)

JSX-1000S เอ็กซ์เรย์เรืองแสงสเปกโตรมิเตอร์ (XRF)

ตัวเลือก (XRF)

แคปซูลตัวอย่างของเหลวสุญญากาศต่ำ

แคปซูลตัวอย่างของเหลวสุญญากาศต่ำ

แมสสเปกโตรมิเตอร์(MS)

แก๊สโครมาโทกราฟี-แมสสเปกโตรมิเตอร์(GC-MS)

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta แก๊สโครมาโตกราฟี ควอดรูโพล แมสสเปกโตรมิเตอร์

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta แก๊สโครมาโตกราฟี Quadrupole Mass Spectrometer

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha แก๊สโครมาโตกราฟีประสิทธิภาพสูง - แมสสเปกโตรมิเตอร์ไทม์ออฟไฟลท์

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha โครมาโตกราฟีก๊าซประสิทธิภาพสูง - สเปกโตรมิเตอร์มวลเวลาบิน

JMS-TQ4000GC อัลตร้าควอด™TQ

JMS-TQ4000GC อัลตร้าควอด™TQ

JMS-TQ4000GC สำหรับไดออกซิน

JMS-TQ4000GC สำหรับไดออกซิน

JMS-800D แมสสเปกโตรมิเตอร์ความละเอียดสูง

JMS-800D แมสสเปกโตรมิเตอร์ความละเอียดสูง

ตัวเลือก (GC-MS)

msFineAnalysis AI ver.2 ซอฟต์แวร์วิเคราะห์โครงสร้างสารประกอบที่ไม่รู้จัก

msFineAnalysis AI ver.2 ซอฟต์แวร์วิเคราะห์โครงสร้างสารประกอบที่ไม่รู้จัก

msFineAnalysis series (ซอฟต์แวร์วิเคราะห์เชิงคุณภาพที่ผสานรวม GC-MS)

ซีรีส์ msFineAnalysis (ซอฟต์แวร์การวิเคราะห์เชิงคุณภาพที่ผสานรวม GC-MS)

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha โซลูชันปิโตรเลียมและปิโตรเคมี

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha โซลูชันปิโตรเลียมและปิโตรเคมี

2D GC ที่ครอบคลุมควบคู่ไปกับ JEOL GC-HRTOFMS : GCxGC Applications

GC 2D ที่ครอบคลุมควบคู่กับ JEOL GC-HRTOFMS: แอปพลิเคชัน GCxGC

LC-MS (DART™-MS), มาลดิ-โทเอฟเอ็มส์

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express ไอออนไนซ์ความดันบรรยากาศ แมสสเปกโตรมิเตอร์ที่มีความละเอียดสูงตามเวลาบิน

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express ไอออนไนซ์ความดันบรรยากาศความละเอียดสูง แมสสเปกโตรมิเตอร์ตามเวลาการบินที่มีความละเอียดสูง

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 3.0 ระบบ MALDI-TOFMS ความละเอียดสูงพิเศษ

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 3.0 ระบบ MALDI-TOFMS ที่มีความละเอียดสูงพิเศษ

ตัวเลือก (LC-MS (DART™-MS), MALDI-TOFMS)

msRepeatFinder ซอฟต์แวร์วิเคราะห์พอลิเมอร์

msRepeatFinder ซอฟต์แวร์วิเคราะห์พอลิเมอร์

ระบบภาพ MALDI-TOFMS JEOL×SCiLS

ระบบภาพ MALDI-TOFMS JEOL×SCiLS

คู่มือ MS

JEOL GC-MS Primer - คู่มือ -

JEOL GC-MS Primer - คู่มือ -

การวิเคราะห์วัสดุพอลิเมอร์ด้วยเครื่องสเปกโตรมิเตอร์มวล JEOL - คู่มือ

การวิเคราะห์วัสดุพอลิเมอร์ด้วยเครื่องสเปกโตรมิเตอร์มวล JEOL - คู่มือ

GC-MS ไอออนไนซ์แบบนุ่มนวล Mass_Spectra Collection

GC-MS ไอออนไนซ์แบบนุ่มนวล Mass_Spectra Collection

วิธีการไอออไนเซชันสำหรับแมสสเปกโตรมิเตอร์ JEOL - คู่มือ -

วิธีการไอออไนเซชันสำหรับแมสสเปกโตรมิเตอร์ JEOL - คู่มือ -

อุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์

JBX ซีรี่ส์ Electron Beam Lithography System

JBX ซีรี่ส์ Electron Beam Lithography System

JBX-A9 ซีรี่ส์ ระบบการพิมพ์หินด้วยลำแสงอิเล็กตรอน

JBX-A9 ซีรี่ส์ ระบบการพิมพ์หินด้วยลำแสงอิเล็กตรอน

JBX-8100FS ซีรี่ส์ Electron Beam Lithography System

JBX-8100FS ซีรี่ส์ Electron Beam Lithography System

JBX-9500FS ระบบการพิมพ์หินลำแสงอิเล็กตรอน

JBX-9500FS ระบบการพิมพ์หินลำแสงอิเล็กตรอน

เครื่องผลิตสารเติมแต่ง (AM)

JAM-5200EBM เครื่องยิงลำแสงอิเล็กตรอนแบบโลหะ AM

JAM-5200EBM เครื่องยิงลำแสงอิเล็กตรอนแบบโลหะ AM

ข้อมูลทางเทคนิคใหม่เกี่ยวกับการผลิตสารเติมแต่ง JEOL

ข้อมูลทางเทคนิคใหม่เกี่ยวกับการผลิตสารเติมแต่ง JEOL

อุปกรณ์อุตสาหกรรมสำหรับการสร้างฟิล์มบางและการแปรรูปวัสดุ

แคตตาล็อกทั่วไปของอุปกรณ์อุตสาหกรรม

แคตตาล็อกทั่วไปของอุปกรณ์อุตสาหกรรม

อุปกรณ์สร้างฟิล์มบาง (E-Beam และ Plasma Sources เป็นต้น)

JEBG BS-60/JST BS-ICE ซีรี่ส์แหล่งลำแสงอิเล็กตรอนและอุปกรณ์จ่ายไฟ

JEBG BS-60/JST BS-ICE Series แหล่งกำเนิดลำแสงอิเล็กตรอนและอุปกรณ์จ่ายไฟ

BS-60610BDS ที่มาของการทิ้งระเบิด

BS-60610BDS ที่มาของการทิ้งระเบิด

BS-60250DEM แหล่งกำเนิดลำแสงอิเล็กตรอน

BS-60250DEM แหล่งกำเนิดลำแสงอิเล็กตรอน

BS-800 Series/BS-920 Series Plasma-Assist Plasma Source/พาวเวอร์ซัพพลาย

BS-800 Series/BS-920 Series Plasma-Assist Plasma Source/แหล่งจ่ายไฟ

BS-40 ซีรี่ส์ โรตารีเซนเซอร์

BS-40 ซีรี่ส์ โรตารีเซนเซอร์

ซีรีส์ JEBG・BS / JST・ST (ซีรี่ส์ JEBG แหล่งกำเนิดลำแสงอิเล็กตรอนกำลังสูง)

ซีรีส์ JEBG・BS / JST・ST (แหล่งกำเนิดลำแสงอิเล็กตรอนกำลังสูงของซีรีส์ JEBG)

ระบบพลาสม่าความร้อนเหนี่ยวนำ RF

ระบบพลาสม่าความร้อนเหนี่ยวนำ RF

TP-99140FDR เครื่องป้อนผงละเอียด

TP-99140FDR เครื่องป้อนผงละเอียด

อุปกรณ์แปรรูปวัสดุ (สำหรับการหลอมโลหะและการสังเคราะห์ผงนาโน ฯลฯ )

ระบบพลาสม่าความร้อนเหนี่ยวนำ RF

ระบบพลาสม่าความร้อนเหนี่ยวนำ RF

TP-40020NPS ระบบสังเคราะห์นาโนพาวเดอร์พลาสม่าความร้อน

TP-40020NPS ระบบสังเคราะห์ผงนาโนพลาสมาด้วยความร้อน

TP-99140FDR เครื่องป้อนผงละเอียด

TP-99140FDR เครื่องป้อนผงละเอียด

ซีรีส์ JEBG・BS / JST・ST (ซีรี่ส์ JEBG แหล่งกำเนิดลำแสงอิเล็กตรอนกำลังสูง)

ซีรีส์ JEBG・BS / JST・ST (แหล่งกำเนิดลำแสงอิเล็กตรอนกำลังสูงของซีรีส์ JEBG)

บันทึกการใช้งาน YOKOGUSHI

LIBnote

LIBnote

หมายเหตุแบตเตอรี่โซลิดสเตต

หมายเหตุแบตเตอรี่โซลิดสเตต

การตรวจสอบความสะอาดของการผลิตแบตเตอรี่ลิเธียมไอออนสำหรับยานยนต์

การตรวจสอบความสะอาดของการผลิตแบตเตอรี่ลิเธียมไอออนสำหรับยานยนต์

หมายเหตุแบตเตอรี่

หมายเหตุแบตเตอรี่

โน๊ตโพลีเมอร์

โน๊ตโพลีเมอร์

หมายเหตุเรื่องอาหาร

หมายเหตุเรื่องอาหาร

โซลูชันการวิเคราะห์อาหาร

โซลูชันการวิเคราะห์อาหาร

บันทึกชีวประวัติ

บันทึกชีวประวัติ

ไครโอโน้ต

ไครโอโน้ต

Bio Photographs อัลบั้มภาพทางชีววิทยา SEM

Bio Photographs อัลบั้มภาพทางชีววิทยา SEM

บันทึก CLEM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนและแสงสัมพัทธ์

บันทึก CLEM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนและแสงสัมพัทธ์

โน้ตอุรุชิ

โน้ตอุรุชิ

มาตรการรับมือด้านสิ่งแวดล้อมสำหรับเครื่องมือวิเคราะห์

เทคโนโลยีวิศวกรรมสิ่งแวดล้อมสำหรับเครื่องมือวิเคราะห์ขั้นสูง

เทคโนโลยีวิศวกรรมสิ่งแวดล้อมสำหรับเครื่องมือวิเคราะห์ขั้นสูง
( ไม่ต้องลงทะเบียน )

ควบคุมอุณหภูมิห้อง / มาตรการรับมือการไหลของอากาศ

ควบคุมอุณหภูมิห้อง / มาตรการรับมือการไหลของอากาศ
( ไม่ต้องลงทะเบียน )

มาตรการตอบโต้สนามแม่เหล็ก

มาตรการตอบโต้สนามแม่เหล็ก
( ไม่ต้องลงทะเบียน )

มาตรการรับมือการสั่นสะเทือน

มาตรการรับมือการสั่นสะเทือน
( ไม่ต้องลงทะเบียน )

สินค้าที่เกี่ยวข้อง (มาตรการป้องกันสิ่งแวดล้อมสำหรับเครื่องมือวิเคราะห์)

DS-78600CWS ระบบรักษาเสถียรภาพของน้ำหมุนเวียนสำหรับเครื่องมือวิเคราะห์

DS-78600CWS ระบบรักษาเสถียรภาพของน้ำหมุนเวียนสำหรับเครื่องมือวิเคราะห์
( ไม่ต้องลงทะเบียน )

ระบบแยกการสั่นสะเทือนแบบแอคทีฟ EST-L6HF-A017 สำหรับ JEM-ARM300F2

ระบบแยกการสั่นสะเทือนแบบแอคทีฟ EST-L6HF-A017 สำหรับ JEM-ARM300F2
( ไม่ต้องลงทะเบียน )

        

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา