JEM-1400แฟลช
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
JEM-1400Flash ใช้ในหลากหลายสาขา เช่น ชีววิทยา นาโนเทคโนโลยี โพลีเมอร์ และวัสดุขั้นสูง ในการสังเกตสิ่งส่งตรวจทางชีววิทยารวมถึงวัสดุโมเลกุลระดับมหภาค ยา ส่วนทางพยาธิวิทยาและไวรัส โดยปกติมุมมองทั้งหมดของเนื้อเยื่อ โครงสร้าง ตำแหน่งเป้าหมาย และพื้นที่การสังเกตจะได้รับการยืนยันในครั้งแรกด้วยการขยายต่ำ จากนั้นจึงทำการศึกษาโครงสร้างที่ดีที่น่าสนใจที่ กำลังขยายสูง เพื่อให้ดำเนินการสังเกตการณ์ต่อเนื่องได้อย่างราบรื่น ความต้องการล่าสุดสำหรับขั้นตอนการสังเกตที่ง่ายขึ้นเพื่อรับข้อมูลภาพที่มีปริมาณงานสูงขึ้นจึงเพิ่มขึ้น เพื่อตอบสนองความต้องการเหล่านั้น ไมโครสโคปอิเล็กตรอน 120 kV ใหม่ “JEM-1400Flash” ได้ติดตั้งกล้อง sCMOS ความไวสูง ระบบตัดต่อภาพบริเวณกว้างพิเศษ และฟังก์ชันเชื่อมโยงภาพ OM (กล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล)
คุณสมบัติ
กล้อง sCMOS ความไวแสงสูง กล้อง "Matataki Flash"
"Matataki Flash" ซึ่งเป็นกล้อง sCMOS ความไวสูงที่เป็นนวัตกรรมใหม่ของ JEOL ช่วยลดสัญญาณรบกวนที่อ่านได้อย่างมากในขณะที่มีอัตราเฟรมสูง คุณสมบัติอันทรงพลังนี้ช่วยให้ได้ภาพ TEM ที่คมชัดและมีสัญญาณรบกวนต่ำมาก
ฟังก์ชันใหม่: ระบบตัดต่อภาพพื้นที่กว้างพิเศษ, พาโนรามาไร้ขีดจำกัด (LLP)
นอกเหนือจากการเลื่อนภาพแม่เหล็กไฟฟ้าแบบเดิมแล้ว JEM-1400Flash ยังมาพร้อมกับระบบตัดต่อภาพซึ่งสามารถใช้ไดรฟ์สเตจสำหรับการเปลี่ยนฟิลด์ ระบบใหม่นี้ช่วยให้สามารถจับภาพพาโนรามาตัดต่อได้อย่างง่ายดายบนพื้นที่กว้างที่ไร้ขีดจำกัด ดังนั้น จึงได้พื้นที่กว้างพิเศษ ภาพความละเอียดพิกเซลสูง ซึ่งเทียบได้กับภาพที่ถ่ายด้วยฟิล์มภาพถ่ายทั่วไป
การใช้งานร่วมกันกับกล้อง sCMOS "Matataki Flash" ช่วยให้สามารถดึงภาพ "Limitless Panorama" ได้โดยอัตโนมัติโดยไม่จำกัดจำนวนพิกเซล
ฟังก์ชันใหม่: ฟังก์ชันเชื่อมโยงภาพ OM, ภาพซ้อนทับ
ภาพดิจิทัลที่ได้รับด้วย OM สามารถซ้อนทับบนภาพ TEM ได้ เนื่องจากสามารถค้นหาพื้นที่สังเกตได้บนภาพที่ซ้อนทับ การสังเกตการณ์ที่มีความละเอียดสูงของจุดเรืองแสงจึงทำได้ง่ายบนภาพ TEM
การออกแบบภายนอกใหม่: "สีขาวบริสุทธิ์" และอินเทอร์เฟซผู้ใช้ใหม่
สีของแบรนด์ "สีขาวบริสุทธิ์" ของผลิตภัณฑ์ JEOL ถูกนำมาใช้ใหม่ ซึ่งนำไปสู่การออกแบบภายนอกที่ซับซ้อนของ JEM-1400Flash การออกแบบใหม่ยังใช้สำหรับ (1) แผงควบคุมพร้อมไฟ LED สำหรับการทำงานที่ง่ายต่อการดู (2) โต๊ะทำงานขนาดเล็กที่ให้รูปแบบที่กะทัดรัดของส่วนควบคุมของผู้ใช้ และ (3) ผู้ใช้กราฟิกอัจฉริยะสีดำรุ่นใหม่ อินเตอร์เฟซ.
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
ความละเอียด | 0.2 นาโนเมตร (HC) 0.14 นาโนเมตร (ชม.) |
---|---|
แรงดันไฟฟ้าเร่ง | 10 ถึง 120 kV |
การอวดอ้าง | ×10 ถึง ×1,200,000 (HC), ×10 ถึง ×1,500,000 (HR) |
แม็กซ์ มุมเอียง | ±70° *ด้วยตัวจับชิ้นงานที่มีความลาดเอียงสูงเสริม |
จำนวนตัวอย่างที่จะโหลด | มากถึง 4 *พร้อมตัวยึดสี่ตัวที่เป็นอุปกรณ์เสริม |
ระบบสูญญากาศ | TMP |
ดาวน์โหลดแคตตาล็อก
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบแฟลช JEM-1400
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JEM-1400Flash
การสังเกตตัวอย่างทางชีวภาพโดย JEM-1400Flash ー การไหลจากการเตรียมตัวอย่างไปจนถึงการสังเกต ー
ภาพ TEM ความละเอียดสูงโดย JEM-1400Flash
ภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านอัลตร้าไวด์ของไตของหนูเมาส์
การสังเกตการณ์บริเวณกว้างโดยใช้ SiN Window Chip
การสังเกตการแปล TOM20 ในเซลล์ HeLa
อนุภาคทองคำถูกกินโดย พารามีเซียม
การระบุอนุภาคละเอียดที่เปล่งแสงเรืองแสงในผงหมึก
วิธีการเตรียมสิ่งส่งตรวจ
SiN Window Chip และแอปพลิเคชัน
การสังเกตการณ์บริเวณกว้างโดยใช้ SiN Window Chip
ได้ภาพที่แม่นยำสูงกว้างเป็นพิเศษโดยใช้ชิปหน้าต่าง SiN และระบบตัดต่อภาพอัตโนมัติ "ภาพพาโนรามาไร้ขีดจำกัด (LLP)"
ภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านอัลตร้าไวด์ของไตของหนูเมาส์
ส่วนบางเฉียบของไตของเมาส์ที่ติดตั้งบนชิปหน้าต่าง SiN ถูกถ่ายภาพโดยใช้ฟังก์ชัน Limitless Panorama (LLP) ซึ่งเป็นระบบการตัดต่ออัตโนมัติ
การระบุอนุภาคละเอียดที่เปล่งแสงเรืองแสงในผงหมึก
การใช้ "CLEM บนชิป" ซึ่งทำให้สามารถซ้อนภาพด้วยความแม่นยำสูง เราจึงสามารถระบุอนุภาคละเอียดที่เปล่งแสงฟลูออเรสเซนต์และทำการสังเกต TEM โดยละเอียดได้อย่างง่ายดาย
แร่ใยหิน / ภาพ TEM ความละเอียดสูง
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
กล้อง SightSKY (EM-04500SKY) กล้อง CMOS คัปปลิ้งไฟเบอร์เสียงรบกวนต่ำ
・เซนเซอร์ CMOS ความไวสูง สัญญาณรบกวนต่ำ 19 M พิกเซลช่วยให้ถ่ายภาพได้ชัดเจนขึ้นพร้อมรายละเอียดของชิ้นงานละเอียดที่สามารถสังเกตได้แม้ในปริมาณอิเล็กตรอนต่ำ
・ชัตเตอร์ทั่วโลกและอัตราเฟรมสูง (58 fps/โหมดเต็มพิกเซล) ช่วยให้ได้รับชุดภาพที่มีสิ่งประดิษฐ์น้อยลงระหว่างการสังเกตการณ์แบบไดนามิก
・ซอฟต์แวร์ควบคุมระบบกล้อง "SightX" ช่วยให้ใช้งานได้ง่าย
ชิปหน้าต่าง SiN
ฟิล์ม SiN ที่มีความแข็งแรงสูงช่วยให้เราสามารถสังเกตพื้นที่ขนาดใหญ่เป็นมิลลิเมตรได้ นอกจากนี้ยังเหมาะอย่างยิ่งสำหรับการสังเกตส่วนที่หั่นเป็นชุดต่อเนื่องกัน เนื่องจากไม่มีพื้นที่ที่มองไม่เห็นซึ่งเกิดจากกริด TEM ทั่วไป ตัวยึดเฉพาะทำให้ง่ายต่อการทำ Correlative Light และ Electron Microscopy (CLEM)
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป