ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

อิเล็กตรอนโพรบไมโครอนาไลเซอร์ (EPMA)

ช่วยให้สามารถสังเกตเนื้อเยื่อพื้นผิวและสัณฐานวิทยาและการวิเคราะห์ธาตุเฉพาะที่ การใช้เครื่องตรวจจับ เช่น เอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายความยาวคลื่น (WDS) และเอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบอ่อน (SXES) สามารถรับผลการวัดที่มีรายละเอียดมากกว่าเครื่องตรวจจับแบบกระจายพลังงาน (EDS) ที่ใช้กับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)
JEOL เป็นผู้ผลิตรายเดียวในโลกที่สามารถเสนอเครื่องเอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบอ่อนได้

ผลิตภัณฑ์

อีพีเอ็มเอ

JXA-iHP200F Field Emission Electron Probe เครื่องวิเคราะห์ไมโครวิเคราะห์ (FE-EPMA)

JXA-iHP200F Field Emission Electron Probe เครื่องวิเคราะห์ไมโครวิเคราะห์ (FE-EPMA)

เครื่องวิเคราะห์ไมโครโพรบอิเล็กตรอน JXA-iSP100 (EPMA)

เครื่องวิเคราะห์ไมโครโพรบอิเล็กตรอน JXA-iSP100 (EPMA)

EPMA ตัวเลือก

สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์แบบอ่อน (SXES)

สเปกโตรมิเตอร์การปล่อยรังสีเอกซ์แบบอ่อน (SXES)

miXcroscopy™ Linked Optical & Scanning Electron Microscopy System

miXcroscopy™ Linked Optical & Scanning Electron Microscopy System

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

การพัฒนา /
ตัวอย่างการติดตั้ง

เสียงจากผู้ใช้ของเราในรูปแบบของการสัมภาษณ์ กรณีการติดตั้ง และความลับในการพัฒนา คุณอาจพบคำแนะนำหรือข้อมูลที่มีประโยชน์ซึ่งสามารถใช้แก้ไขปัญหาของคุณได้ กรุณาคลิ้กเพื่อตรวจสอบข้อมูลเหล่านี้

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา