JEM-F200 กล้องจุลทรรศน์อิเลคตรอนเอนกประสงค์
JEM-F200 เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านภาคสนามแบบใหม่ ซึ่งมีความละเอียดเชิงพื้นที่และประสิทธิภาพในการวิเคราะห์ที่สูงขึ้น ระบบปฏิบัติการใหม่ที่ใช้งานง่ายสำหรับการใช้งานอเนกประสงค์ รูปลักษณ์อันชาญฉลาด และระบบประหยัดพลังงานต่างๆ ที่เป็นมิตรต่อสิ่งแวดล้อม
คุณสมบัติ
JEM-F200 เคลื่อนไหว (YouTube)
คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน และภาพยนตร์จะเริ่มขึ้น (เป็นเวลา 4 นาที)
การออกแบบที่ชาญฉลาด
JEM-F200 มีรูปลักษณ์ใหม่และสวยงาม
ประกอบด้วยอินเทอร์เฟซผู้ใช้ใหม่ที่ใช้งานง่ายซึ่งออกแบบมาโดยเฉพาะสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเชิงวิเคราะห์
นอกจากนี้ยังมีความเสถียรทางกลและทางไฟฟ้าที่โดดเด่น ซึ่งสะท้อนถึงความเชี่ยวชาญด้านวิศวกรรมของ JEOL ที่สั่งสมมาหลายปี
ระบบคอนเดนเซอร์สี่เลนส์
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนในปัจจุบันจำเป็นต้องสนับสนุนเทคนิคการถ่ายภาพที่หลากหลายตั้งแต่ TEM ภาคสนามที่สว่าง/มืด ไปจนถึง STEM ที่ใช้เครื่องตรวจจับที่หลากหลาย
JEM-F200 ที่มีระบบออปติคัลที่สร้างโพรบ 4 ขั้นใหม่ นั่นคือ ระบบคอนเดนเซอร์เลนส์สี่ตัว ควบคุมความเข้มและมุมบรรจบกันของลำแสงอิเล็กตรอนอย่างอิสระ เพื่อตอบสนองต่อข้อกำหนดการวิจัยที่แตกต่างกัน
ระบบสแกนขั้นสูง
JEM-F200 ได้รวมเอาระบบการสแกนใหม่ คือ Advanced Scan System ซึ่งสามารถสแกนลำอิเล็กตรอนในระบบสร้างหัววัดภาพได้ สำเร็จ STEM-EELS แบบกว้าง
พิโก สเตจ ไดร์ฟ
JEM-F200 ใช้ไดรฟ์สเตจปิโก ซึ่งสามารถขับสเตจในระยะ 200 pico โดยไม่ต้องใช้ไดรฟ์เพียโซ และย้ายพื้นที่การดูด้วยช่วงไดนามิกที่กว้างจากตารางตัวอย่างทั้งหมดไปยังภาพลำดับอะตอม
SPECPORTER (อุปกรณ์ขนถ่ายที่ยึดอัตโนมัติ)
การโหลด/ขนถ่ายของที่จับตัวอย่างได้รับการพิจารณาว่ามีข้อผิดพลาดในการทำงานของมนุษย์ โดยเฉพาะอย่างยิ่งสำหรับผู้เริ่มต้น
JEM-F200 รวมอุปกรณ์ใหม่ SPECPORTER เพื่ออำนวยความสะดวกในการโหลดและขนถ่ายตัวจับยึดชิ้นงานทดสอบ
การวางตัวจับยึดชิ้นงานทดสอบไว้ที่ตำแหน่งที่กำหนด และการเปิดใช้งาน SPECPORTER โดยการคลิกเพียงครั้งเดียวจะช่วยรับประกันการโหลดและการขนถ่ายของที่จับได้อย่างปลอดภัย
ปรับปรุง FEG เย็น
JEM-F200 รองรับปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนามเย็นซึ่งเป็นอุปกรณ์เสริม
รับประกันความเสถียรสูง ความสว่างสูง และความละเอียดของพลังงานสูง ปืนอิเล็กตรอนปล่อยสนามเย็นช่วยให้วิเคราะห์พันธะเคมีโดย EELS และเร่งกระบวนการวิเคราะห์ที่เป็นหนี้ลำแสงอิเล็กตรอนความสว่างสูง และโดยลดความคลาดเคลื่อนสีที่เกิดจากการแพร่กระจายพลังงานแหล่งอิเล็กตรอน ช่วยให้ถ่ายภาพที่มีความละเอียดสูงขึ้น
SDD คู่
JEM-F200 รองรับอุปกรณ์ตรวจจับการดริฟท์ซิลิกอนขนาดใหญ่ที่มีความไวสูง (SDD) จำนวน XNUMX เครื่องพร้อมกัน
SDD ซึ่งมีความไวที่เพิ่มขึ้น ช่วยให้สามารถวิเคราะห์ EDS ได้อย่างรวดเร็วในขณะที่ลดความเสียหายของตัวอย่าง
เป็นมิตรต่อสิ่งแวดล้อม
JEM-F200 ได้รวมเอาระบบประหยัดพลังงาน โหมด ECO เป็นมาตรฐานเป็นครั้งแรกในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน โหมด ECO ได้รับการออกแบบมาเพื่อรักษาสภาวะที่เหมาะสมของกล้องจุลทรรศน์ที่ระดับอัตราการใช้พลังงานต่ำสุดเมื่อไม่ได้ใช้งาน
โหมด ECO สามารถลดอัตราการสิ้นเปลืองพลังงานลงได้ประมาณ 1/5 ของค่านั้นสำหรับโหมดการทำงานปกติ
ฟังก์ชันการตั้งเวลาสามารถกู้คืนสภาพการทำงานได้ตลอดเวลาที่ผู้ใช้กำหนด
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
| สเปค | ความละเอียดสูงพิเศษ | ความละเอียดสูง |
|---|---|---|
| ความละเอียด | ||
| TEM (ความละเอียดจุด) | 0.19nm | นาโนเมตร 0.23 |
| โหมด STEM-HAADF | 0.14 นาโนเมตร (พร้อม Cold FEG)
0.16 นาโนเมตร (ด้วย Schottky FEG) |
0.16 นาโนเมตร (พร้อม Cold FEG)
0.16 นาโนเมตร (ด้วย Schottky FEG) |
| แรงดันไฟเร่ง | 200 , 80 กิโลโวลต์ | |
| ตัวเลือกการติดตั้งที่สำคัญ | EDS
ปลาไหล กล้องดิจิตอล ระบบเอกซเรย์ TEM/STEM |
|
ดาวน์โหลดแคตตาล็อก
JEM-F200 กล้องจุลทรรศน์อิเลคตรอนเอนกประสงค์
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JEM-F200
การวิเคราะห์แร่ใยหิน – การแยกเส้นใยละเอียดทีละชิ้น–
รูปภาพ
วัสดุ: Si 110 STEM ความละเอียดสูง
ตัวอย่าง: ศรี 110
กล้องจุลทรรศน์: JEM-F200 HR ขั้ว-พีซ พร้อม CFEG
สภาพ: 200kV, STEM
กำลังขยาย STEM HAADF x12M
2048x2048 พิกเซล 38 ใช้c / pixel
ด้วย DigiScan
วัสดุ: แผ่นชั้นเดียว MoS2
ตัวอย่าง: แผ่น MoS2 ชั้นเดียว
กล้องจุลทรรศน์: JEM-F200 HR ขั้ว-พีซ พร้อม CFEG
สภาพ: 200kV, STEM
วิทยาศาสตร์เพื่อชีวิต: ภาพ TEM ของพอลิเมอร์ ABS ที่ 80kV
ตัวอย่าง: โพลิเมอร์ ABS
กล้องจุลทรรศน์: JEM-F200 HR ขั้ว-พีซ พร้อม CFEG
เงื่อนไข: 80kV, TEM
การเตรียมตัวอย่าง: microtome
วัสดุ: ปรับปรุง FEG เย็น
ความสว่างสูงพร้อมการกระจายพลังงานเพียงเล็กน้อย
การวิเคราะห์สถานะพันธะเคมีของ Carbon allotropes โดย EELS
แรงดันไฟเร่งต่ำ / 80kV
ตัวอย่าง
ก) ท่อนาโนคาร์บอนผนังเดี่ยว
b) กราไฟท์ / กราไฟท์ที่มีพื้นที่ผิวสูง
ค) ไดมอนด์
ง) คาร์บอนอสัณฐาน
ตัวอย่าง: allotropes คาร์บอน
กล้องจุลทรรศน์: JEM-F200 HR ขั้ว-พีซ พร้อม CFEG
เงื่อนไข: 80kV, ภาพ TEM, EELS QuantumER
วัสดุ: STO/Dual SDD
ตัวอย่าง: Sr TiO
กล้องจุลทรรศน์: JEM-F200 HR ขั้ว-พีซ พร้อม CFEG
เงื่อนไข: 200kV, STEM, Dual SDD(100mm2x2) 512x512
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
กล้อง SightSKY (EM-04500SKY) กล้อง CMOS คัปปลิ้งไฟเบอร์เสียงรบกวนต่ำ
เซนเซอร์ CMOS ความไวสูง สัญญาณรบกวนต่ำ 19 เมกะพิกเซล ช่วยให้ถ่ายภาพได้ชัดเจนขึ้นพร้อมรายละเอียดของชิ้นงานละเอียดที่สามารถสังเกตได้แม้ในปริมาณอิเล็กตรอนต่ำ
ชัตเตอร์ทั่วโลกและอัตราเฟรมสูง (58 fps/โหมดเต็มพิกเซล) ช่วยให้ได้รับชุดภาพที่มีสิ่งประดิษฐ์น้อยลงระหว่างการสังเกตแบบไดนามิก
ซอฟต์แวร์ควบคุมระบบกล้อง "SightX" ให้การทำงานที่เป็นมิตรต่อผู้ใช้
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป