JEM-F200 กล้องจุลทรรศน์อิเลคตรอนเอนกประสงค์
JEM-F200 เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องผ่านภาคสนาม ซึ่งมีความละเอียดเชิงพื้นที่และประสิทธิภาพการวิเคราะห์ที่สูงขึ้น ควบคู่ไปกับอินเทอร์เฟซผู้ใช้ที่ใช้งานง่ายสำหรับการใช้งานอเนกประสงค์
คุณสมบัติ
JEM-F200 เคลื่อนไหว (YouTube)
คลิกปุ่ม "เล่น" ในช่องด้านบน ภาพยนตร์จะเริ่มเล่น
การสังเกต TEM/STEM ความละเอียดสูงจากแรงดันไฟฟ้าความเร่งสูงไปต่ำ
JEM-F200 มีปืนอิเล็กตรอนที่ปล่อยสนามเย็น ซึ่งรับประกันความเสถียรสูง ความสว่างสูง และความละเอียดของพลังงานสูง (<0.33 eV)
ปืนอิเล็กตรอนนี้ให้ภาพที่มีความละเอียดสูงขึ้นได้อย่างมีประสิทธิภาพโดยการลดความคลาดเคลื่อนของสีที่เกิดจากการแพร่กระจายพลังงานของแหล่งกำเนิดอิเล็กตรอน
นอกจากนี้ ด้วยการรวมความเชี่ยวชาญกว่า 10 ปีของ JEOL เข้ากับการออกแบบ เราได้ปรับปรุงเสถียรภาพทางกลและทางไฟฟ้าอย่างมีนัยสำคัญ
การวิเคราะห์ EDS ที่ให้ปริมาณงานสูงและความแม่นยำสูง
JEM-F200 สามารถติดตั้งเครื่องตรวจจับดริฟท์ซิลิคอน (SDD) พื้นที่ขนาดใหญ่สองตัวพร้อมกัน ให้การวิเคราะห์ที่มีความไวสูง
พื้นที่ขนาดใหญ่และความไวสูงช่วยให้การวิเคราะห์ EDS มีประสิทธิภาพในเวลาเพียงเสี้ยววินาทีพร้อมความเสียหายที่ลดลง
นอกจากนี้ การใช้การแก้ไขการเคลื่อนตัวแบบความเร็วสูงและไม่สูญเสียข้อมูลผ่านภาพ STEM แบบสดในระหว่างการแมป EDS ช่วยให้การวัดมีประสิทธิภาพพร้อมทั้งลดความเสียหายของตัวอย่างจากลำอิเล็กตรอน
การวิเคราะห์ EELS ที่มีความละเอียดพลังงานสูง
CFEG ของ JEM-F200 สามารถรับการวิเคราะห์สถานะพันธะเคมีและโครงสร้างอิเล็กทรอนิกส์ที่ความละเอียดพลังงานสูง ซึ่งเกินความสามารถของปืนอิเล็กตรอนที่ปล่อยสนาม Schottky
สิ่งนี้เกิดขึ้นได้โดยการใช้ปืนอิเล็กตรอนที่ปล่อยสนามเย็นซึ่งรับประกันความละเอียดของพลังงานสูง (<0.33 eV) พร้อมด้วย EELS (ตัวเลือก)
ใช้งานง่ายโดยมีความกดดันน้อยที่สุดแม้สำหรับผู้เริ่มต้น
JEM-F200 มาพร้อมกับอินเทอร์เฟซผู้ใช้ที่ใช้งานง่ายซึ่งเน้นความเป็นมิตรต่อผู้ใช้
มีฟังก์ชันอัตโนมัติที่ครอบคลุมสำหรับทั้ง TEM และ STEM ทำให้ง่ายสำหรับผู้เริ่มต้นใช้งาน
นอกจากนี้ เพื่อความสะดวกในการใส่และถอดตัวยึดตัวอย่าง SPECPORTER™ จึงถูกรวมไว้ด้วย ซึ่งช่วยให้สามารถแทรกตัวยึดตัวอย่างได้อย่างปลอดภัยและเป็นอัตโนมัติ
นอกจากนี้ แท่นตัวอย่างยังติดตั้งแท่น Pico แบบขับเคลื่อน ซึ่งช่วยให้สามารถเคลื่อนที่ระดับพิโกมิเตอร์ได้อย่างแม่นยำโดยไม่ต้องใช้กลไกขับเคลื่อนแบบพีโซ
ช่วยให้สามารถปรับขอบเขตการมองเห็นได้หลากหลาย ตั้งแต่ตาข่ายตัวอย่างทั้งหมดไปจนถึงการสร้างภาพระดับอะตอม
ฟังก์ชั่นอัตโนมัติ
อัตราขยายและชดเชยอัตโนมัติ → โฟกัสอัตโนมัติ → การแก้ไขสายตาเอียงอัตโนมัติ
ขั้นตอนการทำงานที่ราบรื่นตั้งแต่การเตรียมตัวอย่าง FIB ไปจนถึงการสร้างภาพ TEM/STEM
คาร์ทริดจ์แบบเอียงสองชั้นและตัวยึด TEM เฉพาะช่วยให้เชื่อมโยงระหว่างการทำงานของ TEM และ FIB ได้สะดวก
คาร์ทริดจ์สามารถถ่ายโอนระหว่างตัวยึด FIB และตัวยึดตัวอย่าง TEM ได้อย่างง่ายดายด้วยการสัมผัสเพียงครั้งเดียว ซึ่งช่วยลดความจำเป็นในการจัดการแผ่น TEM หลังจากการประมวลผล
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านเพื่อสังคมที่ยั่งยืน
JEM-F200 เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านตัวแรกที่รวมโหมด ECO ไว้อย่างเป็นมาตรฐาน โหมดนี้จะรักษาอุปกรณ์อย่างมีประสิทธิภาพโดยใช้พลังงานน้อยที่สุดในช่วงที่ไม่ได้ใช้งาน ซึ่งช่วยประหยัดพลังงาน
การเปิดใช้งานโหมด ECO จะช่วยลดการใช้พลังงานลงเหลือประมาณหนึ่งในห้าของการใช้พลังงานระหว่างการทำงานปกติ ซึ่งมีส่วนช่วยให้สังคมมีความยั่งยืนมากขึ้น
นอกจากนี้ ยังมีฟังก์ชันกำหนดเวลา ซึ่งช่วยให้เครื่องมือกลับสู่สถานะใช้งานได้จากโหมด ECO ตามวันที่และเวลาที่ระบุ
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
| Specification | ความละเอียดสูงพิเศษ | ความละเอียดสูง | |
|---|---|---|---|
| ความละเอียด TEM (ที่ 200 กิโลโวลต์) |
ความละเอียดของจุด ความละเอียดขัดแตะ ขีดจำกัดของข้อมูล |
นาโนเมตร 0.19 นาโนเมตร 0.1 ≦0.11 นาโนเมตร (พร้อม Cold FEG) ≦0.12 นาโนเมตร (พร้อม Schottky FEG) |
นาโนเมตร 0.23 นาโนเมตร 0.1 ≦0.11 นาโนเมตร (พร้อม Cold FEG) ≦0.12 นาโนเมตร (พร้อม Schottky FEG) |
| ความละเอียด STEM (ที่ 200 กิโลโวลต์) |
รูปภาพ HAADF-STEM | 0.14 นาโนเมตร (พร้อม Cold FEG) 0.16 นาโนเมตร (ด้วย Schottky FEG) |
0.14 นาโนเมตร (พร้อม Cold FEG) 0.16 นาโนเมตร (ด้วย Schottky FEG) |
| ปืนอิเล็กตรอน | ปืนอิเล็กตรอนที่ปล่อยสนามเย็น ปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนามแบบชอตกี |
||
| แรงดันไฟฟ้าเร่ง | 20 กิโลโวลต์~200 กิโลโวลต์ (สามารถเลือก 200 kV, 80 kV เป็นค่าเริ่มต้นได้ ส่วนแรงดันไฟฟ้าเร่งอื่นๆ เป็นตัวเลือก) |
||
| การเคลื่อนไหวของชิ้นงาน * | X,Y ±1.0 มม. Z ±0.1 มม | X,Y ±1.0 มม. Z ±0.2 มม | |
| มุมเอียงของชิ้นงาน * | TX/TY (ตัวยึดแบบเอียงสองชั้น) ±25°/ ±25° TX (ตัวยึดแบบเอียงสูง) ±60° |
TX/TY (ตัวยึดแบบเอียงสองชั้น) ±35° / ±30° TX (ตัวยึดแบบเอียงสูง) ±80° |
|
| ตัวเลือกการติดตั้งที่สำคัญ | เครื่องเอ็กซ์เรย์สเปกโทรสโกปีแบบกระจายพลังงาน (EDS)、สเปกโทรสโกปีการสูญเสียพลังงานของอิเล็กตรอน (EELS)、 กล้องดิจิตอล、ระบบเอกซเรย์ TEM/STEM/EDS |
||
* ช่วงการเคลื่อนไหวอาจเปลี่ยนแปลงได้ขึ้นอยู่กับประเภทของตัวยึดชิ้นงาน หรือไม่ว่าจะใส่รูรับแสงใกล้วัตถุหรือไม่
ดาวน์โหลดแคตตาล็อก
JEM-F200 กล้องจุลทรรศน์อิเลคตรอนเอนกประสงค์
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JEM-F200
การวิเคราะห์แร่ใยหิน – การแยกเส้นใยละเอียดทีละชิ้น–
รูปภาพ
วัสดุ: Si [110] STEM ความละเอียดสูง
ตัวอย่าง: ศรี [110]
กล้องจุลทรรศน์: JEM-F200 HR ขั้ว-พีซ พร้อม CFEG
สภาพ: 200kV, STEM
วัสดุ: ชั้นโมโน MoS2 แผ่น
ตัวอย่าง: โมโนเลเยอร์ MoS2 แผ่น
กล้องจุลทรรศน์: JEM-F200 HR ขั้ว-พีซ พร้อม CFEG
สภาพ: 200kV, STEM
วิทยาศาสตร์เพื่อชีวิต: ภาพ TEM ของพอลิเมอร์ ABS ที่ 80kV
ตัวอย่าง: โพลิเมอร์ ABS
กล้องจุลทรรศน์: JEM-F200 HR ขั้ว-พีซ พร้อม CFEG
เงื่อนไข: 80kV, TEM
การเตรียมตัวอย่าง: microtome
วัสดุ: SrTiO3/SDD คู่
ตัวอย่าง: SrTiO3
กล้องจุลทรรศน์: JEM-F200 HR ขั้ว-พีซ พร้อม CFEG
สภาพ: 200 kV, STEM, Dual SDD（100 mm2 ×2), 256x256 พิกเซล, ใช้เวลาในการทำแผนที่ 10 นาที
วัสดุ: ปรับปรุง FEG เย็น
ความสว่างสูงพร้อมการกระจายพลังงานเพียงเล็กน้อย
การวิเคราะห์สถานะพันธะเคมีของ Carbon allotropes โดย EELS
ตัวอย่าง: allotropes คาร์บอน
กล้องจุลทรรศน์: JEM-F200 HR ขั้ว-พีซ พร้อม CFEG
เงื่อนไข: 80kV, ภาพ TEM, EELS QuantumER
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
กล้อง SightSKY (EM-04500SKY) กล้อง CMOS คัปปลิ้งไฟเบอร์เสียงรบกวนต่ำ
เซนเซอร์ CMOS ความไวสูง สัญญาณรบกวนต่ำ 19 เมกะพิกเซล ช่วยให้ถ่ายภาพได้ชัดเจนขึ้นพร้อมรายละเอียดของชิ้นงานละเอียดที่สามารถสังเกตได้แม้ในปริมาณอิเล็กตรอนต่ำ
ชัตเตอร์ทั่วโลกและอัตราเฟรมสูง (58 fps/โหมดเต็มพิกเซล) ช่วยให้ได้รับชุดภาพที่มีสิ่งประดิษฐ์น้อยลงระหว่างการสังเกตแบบไดนามิก
ซอฟต์แวร์ควบคุมระบบกล้อง "SightX" ให้การทำงานที่เป็นมิตรต่อผู้ใช้
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป