JEM-ACE200F
อิเล็กตรอนเชิงวิเคราะห์ปริมาณงานสูง
กล้องจุลทรรศน์
JEM-ACE200F เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ตอบสนองต่อระบบที่ช่วยให้ผู้ปฏิบัติงานได้รับข้อมูลโดยไม่ต้องใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนโดยการสร้างสูตรสำหรับเวิร์กโฟลว์การดำเนินงาน
เนื่องจาก JEM-ACE200F สืบทอดเทคโนโลยีฮาร์ดแวร์ของ TEM ระดับไฮเอนด์ JEM-ARM200F และ FE-TEM อเนกประสงค์ JEM-F200 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเชิงวิเคราะห์ปริมาณงานสูงแบบใหม่นี้จึงให้ความเสถียรและความสามารถในการวิเคราะห์สูงอย่างยอดเยี่ยมด้วยการออกแบบภายนอกที่ล้ำสมัยที่ได้รับการปรับปรุงใหม่
คุณสมบัติ
แพลตฟอร์มหน่วยพื้นฐาน
Cold-FEG เป็นมาตรฐาน
สามารถติดตั้ง Cs Corrector ได้
ความเร็วสูงและระยะความไวสูง เร็วกว่าตัวขับมอเตอร์ที่มีอยู่ถึงสามเท่าและระบบควบคุมการเคลื่อนที่แบบละเอียดที่คล้ายกับระบบควบคุมการขับแบบเพียโซ
ใช้งานง่าย
- ใช้งานได้ง่ายแม้กับผู้ควบคุม TEM . ที่ไม่มีประสบการณ์
- ลดการทำงานที่ใช้แผงการทำงานให้เล็กที่สุดและสามารถรับภาพสุดท้ายได้ในขณะที่คลิกปุ่มบนหน้าจอตามลำดับ
- การปรับโฟกัสสามารถทำได้โดยการใช้เมาส์
- สามารถใช้งานร่วมกับกล้อง Gatan ได้
- ฟังก์ชั่นการปรับจูนกล้องจุลทรรศน์อัตโนมัติ
- ออโต้โฟกัส สายตาเอียงอัตโนมัติ การปรับความสูงของชิ้นงานทดสอบอัตโนมัติ การจัดตำแหน่งลำแสงอัตโนมัติ และการวางแนวอัตโนมัติ เป็นต้น
ฟังก์ชันการรับข้อมูลอัตโนมัติ
- ซอฟต์แวร์สูตร "Automation Center" เปิดใช้งานการเก็บข้อมูลอัตโนมัติ
- ภาพ TEM ภาพ STEM การทำแผนที่องค์ประกอบโดย EDS
- สามารถจัดการตัวอย่างหลายชิ้นบนกริดได้
เชื่อมโยงกับซอฟต์แวร์การวัดขนาดที่สำคัญ
- การปรับเทียบการขยายสามารถใช้ได้สำหรับการขยายแต่ละชุดที่ด้าน TEM
- การวัดขนาดวิกฤตอัตโนมัติมีให้สำหรับข้อมูลที่ได้มาโดย JEM-ACE200F มากกว่าหนึ่งรายการ
การทำงานระยะไกล
- ปฏิบัติการห้องถัดไป
- การทำงานระยะไกลและการสังเกตการณ์พร้อมกันที่สถานที่มากกว่าหนึ่งแห่ง (ขึ้นอยู่กับสภาพแวดล้อมของเครือข่าย)
- เปิดใช้งานการสังเกตขณะสนทนากับที่ตั้งธุรกิจหลายแห่ง
การปรับปรุงความทนทานต่อสิ่งแวดล้อมโดยเปลือกหุ้มเสา
มีส่วนในการควบคุมผลกระทบจากการเปลี่ยนแปลงของเสียง การไหลของอากาศ และอุณหภูมิห้อง
สามารถติดตั้งวัสดุกันเสียงเข้ากับผนังภายในได้
จากบทวิเคราะห์ เครื่องมือ สู่การวิเคราะห์ เครื่องมือ
- การวิเคราะห์ STEM/TEM อัตโนมัติจะช่วยปรับปรุงกระบวนการและช่วยปรับปรุงการควบคุมคุณภาพอย่างมีเสถียรภาพ -
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
| ความละเอียด TEM (ที่ 200kV) | ภาพอนุภาค ≤0.21nm ภาพขัดแตะ 0.1nm ขีด จำกัด ข้อมูล ≤0.11nm |
|---|---|
| ความละเอียด STEM (ที่ 200kV) | ภาพ DF STEM ≤0.136nm การกำหนดค่า ASCOR (ตัวเลือก) ≤0.1nm ภาพ BF STEM ≤0.136nm การกำหนดค่า ASCOR (ตัวเลือก) ≤0.1nm |
| ปืนอิเล็กตรอน | ปืนปล่อยสนามเย็น (CFEG) |
| แรงดันไฟฟ้าเร่ง | 60kV ถึง 200kV (80 kV, 200 kV; มาตรฐาน, แรงดันไฟฟ้าอื่นๆ: ตัวเลือก) |
| การเคลื่อนไหวของตัวอย่าง | X,Y ±1.0mm Z ±0.2mm |
| มุมเอียงของชิ้นงาน | TX/TY (ตัวจับเอียงชิ้นงานแบบสองแกน) ±20°／±25° TX (ตัวจับยึดแบบเอียงสูงของชิ้นงานทดสอบโดยเฉพาะ) ±80° |
| Options | จอล 100mm2 SDD(Dual), EELS, Cs Corrector, Automation Center, เอกซเรย์ |
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JEM-ACE200F
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป