ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) และสิ่งที่แนบมามากมายสำหรับการสังเกตและวิเคราะห์พื้นผิวเป็นหนึ่งในเครื่องมือที่ใช้งานมากที่สุดในสถาบัน R&D และไซต์ทดสอบคุณภาพในโลก
JEOL สามารถนำเสนอผลิตภัณฑ์ที่หลากหลายตั้งแต่กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดเพื่อวัตถุประสงค์ทั่วไป (W-SEM) ซึ่งรวมถึงแบบตั้งโต๊ะที่ให้การดำเนินการกับทุกคนที่ไม่มีความรู้และเทคนิคเฉพาะ ไปจนถึงรุ่นไฮเอนด์ของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดภาคสนาม (FE-SEM) ).
นอกจากนี้ เอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายพลังงาน (EDS) ที่ใช้สำหรับการวิเคราะห์ธาตุยังได้รับการพัฒนาภายในองค์กรอีกด้วย

กลุ่มผลิตภัณฑ์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM)

กลุ่มผลิตภัณฑ์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM)

ผลิตภัณฑ์

SEM (Search Engine Marketing)

รุ่น JSM-IT810 Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope

รุ่น JSM-IT810 Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope

JSM-IT710HR กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

JSM-IT710HR กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

JSM-IT210 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

JSM-IT210 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

รุ่น JSM-IT800 Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope

รุ่น JSM-IT800 Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope

JSM-IT700HR InTouchScope™ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

JSM-IT700HR InTouchScope™ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

JSM-IT510 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด InTouchScope™

JSM-IT510 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด InTouchScope™

JSM-IT200 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด InTouchScope™

JSM-IT200 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด InTouchScope™

JCM-7000 NeoScope™ แบบตั้งโต๊ะ SEM

JCM-7000NeoScope™ SEM แบบตั้งโต๊ะ

ตัวเลือก SEM

SM-92100EUVC เอ็กซ์ไซเมอร์ ยูวี คลีนเนอร์

SM-92100EUVC เอ็กซ์ไซเมอร์ ยูวี คลีนเนอร์

สถานีวิเคราะห์ JED-2300 Plus

สถานีวิเคราะห์ JED-2300 Plus

Gather-X JED Series DrySD™ EDS แบบไม่มีหน้าต่าง

Gather-X JED Series DrySD™ EDS แบบไม่มีหน้าต่าง

สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์แบบอ่อน (SXES)

สเปกโตรมิเตอร์การปล่อยรังสีเอกซ์แบบอ่อน (SXES)

miXcroscopy™ Linked Optical & Scanning Electron Microscopy System

miXcroscopy™ Linked Optical & Scanning Electron Microscopy System

ซอฟต์แวร์แผนที่ SMILE VIEW™

ซอฟต์แวร์แผนที่ SMILE VIEW™

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

การพัฒนา /
ตัวอย่างการติดตั้ง

เสียงจากผู้ใช้ของเราในรูปแบบของการสัมภาษณ์ กรณีการติดตั้ง และความลับในการพัฒนา คุณอาจพบคำแนะนำหรือข้อมูลที่มีประโยชน์ซึ่งสามารถใช้แก้ไขปัญหาของคุณได้ กรุณาคลิ้กเพื่อตรวจสอบข้อมูลเหล่านี้

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา