ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

อุปกรณ์สำหรับเตรียมตัวอย่าง (CP)

CROSS SECTION POLISHER™ (CP) เป็นอุปกรณ์เตรียมภาพตัดขวางของชิ้นงานทดสอบสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน เนื่องจากหน้าตัดถูกเตรียมด้วยลำแสงไอออน จึงเป็นไปได้ที่จะได้หน้าตัดคุณภาพดีในเวลาที่สั้นลงโดยไม่มีความแตกต่างกัน เมื่อเทียบกับวิธีการอื่นๆ เช่น การขัด ซึ่งต้องใช้ประสบการณ์
การเลือกตัวจับยึดที่ใช้งานได้ทำให้สามารถขยายฟังก์ชันได้ไม่เพียงแค่การกัดแบบตัดขวางเท่านั้น แต่ยังรวมถึงการกัดไอออนแบบระนาบและการเคลือบไออนบีมสปัตเตอร์ด้วย นอกจากนี้ยังมี CP ชนิดทำความเย็นสำหรับการจัดการชิ้นงานทดสอบที่ไม่ผ่านความร้อนอีกด้วย

รายการอุปกรณ์การเตรียมตัวอย่าง (CP)

รายการอุปกรณ์การเตรียมตัวอย่าง (CP)

ผลิตภัณฑ์

IB-10500HMS CROSS SECTION POLISHER™ ระบบการกัดปริมาณงานสูง

IB-10500HMS
ครอสเซ็กชั่นโพลิเชอร์
ระบบการกัดปริมาณงานสูง

IB-19530CP CROSS SECTION POLISER™

ไอบี-19530ซีพี
ครอสเซ็กชั่นโพลิเชอร์

IB-19520CCP ข้ามส่วนขัด™

ไอบี-19520ซีซีพี
ครอสเซ็กชั่นโพลิเชอร์

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

การพัฒนา /
ตัวอย่างการติดตั้ง

เสียงจากผู้ใช้ของเราในรูปแบบของการสัมภาษณ์ กรณีการติดตั้ง และความลับในการพัฒนา คุณอาจพบคำแนะนำหรือข้อมูลที่มีประโยชน์ซึ่งสามารถใช้แก้ไขปัญหาของคุณได้ กรุณาคลิ้กเพื่อตรวจสอบข้อมูลเหล่านี้

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา