เจซีเอ็ม-7000
SEM แบบตั้งโต๊ะ NeoScope™
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแบบตั้งโต๊ะใช้ในหลากหลายสาขา เช่น อุตสาหกรรมไฟฟ้า อิเล็กทรอนิกส์ รถยนต์ เครื่องจักร เคมี และเภสัชกรรม นอกจากนี้ การใช้งาน SEM ยังขยายขอบเขตให้ครอบคลุมการวิจัยและพัฒนาเท่านั้น แต่ยังรวมถึงการควบคุมคุณภาพและการตรวจสอบผลิตภัณฑ์ในไซต์การผลิตอีกด้วย ด้วยเหตุนี้ ความต้องการในการปรับปรุงประสิทธิภาพการทำงาน การทำงานที่เร็วขึ้นและง่ายขึ้นมาก และความสามารถในการวิเคราะห์และการวัดในระดับที่สูงขึ้น
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแบบตั้งโต๊ะ JCM-7000 ได้รับการออกแบบตามแนวคิดหลักของ "SEM ที่ใช้งานง่ายพร้อมการนำทางที่ราบรื่นและการวิเคราะห์แบบสด" JCM-7000 ประกอบด้วยสามฟังก์ชันที่เป็นนวัตกรรมใหม่ "Zeromag" สำหรับการเปลี่ยนจากการถ่ายภาพแบบออปติคัลเป็น SEM อย่างราบรื่น "การวิเคราะห์แบบสด" สำหรับการค้นหาองค์ประกอบที่เป็นส่วนประกอบสำหรับพื้นที่การสังเกตภาพ และ "Live 3D" สำหรับการแสดงภาพ 3D แบบสดที่สร้างขึ้นใหม่ในระหว่างการสังเกต SEM
เมื่อคุณวาง JCM-7000 ไว้ข้างกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล คุณจะสามารถทำการวิเคราะห์วัสดุแปลกปลอมและการควบคุมคุณภาพได้เร็วยิ่งขึ้นและมีรายละเอียดมากขึ้น
คุณสมบัติ
ดาวน์โหลด
การสังเกตและวิเคราะห์อย่างรวดเร็วโดยไม่มีการบำบัดด้วยตัวอย่างโดยใช้เครื่องตั้งโต๊ะ SEM JCM-7000!
-แนะนำการใช้งานโหมด Low-Vacuum(LV) อย่างมีประสิทธิภาพ-
ทำไมคุณไม่ลองสังเกต SEM ของตัวอย่างฉนวนที่ไม่นำไฟฟ้าเหมือนที่มันเป็น โดยไม่มีการบำบัดล่วงหน้าล่ะ
เราจะแนะนำตัวอย่างการใช้งาน JCM-7000 อย่างมีประสิทธิภาพในโหมดสุญญากาศต่ำ (LV) สำหรับวัสดุพอลิเมอร์ วัสดุทางอุตสาหกรรม แร่ธาตุ อาหาร และสิ่งมีชีวิต/พืช
SEM ธรรมดา
ในการดำเนินการ SEM แบบทั่วไป การถ่ายภาพ SEM และการวิเคราะห์องค์ประกอบจะถูกแยกออก (ไม่ราบรื่น)
เจซีเอ็ม-7000
ด้วย "Zeromag" JCM-7000 ช่วยให้ทำงานได้อย่างราบรื่นตั้งแต่การถ่ายภาพแบบออปติคัลไปจนถึง SEM ด้วย "การวิเคราะห์สด" การวิเคราะห์องค์ประกอบโดย EDS สามารถทำได้ในระหว่างการสังเกตภาพ SEM
เปรียบเทียบกับOM
เร่งความเข้าใจของคุณให้มากกว่ากล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล
การวิเคราะห์สารปนเปื้อน
ตรวจจับสิ่งแปลกปลอมได้ง่าย
ง่ายต่อการระบุองค์ประกอบองค์ประกอบ
【ตัวอย่าง】 การวิเคราะห์วัตถุแปลกปลอมสีดำที่ยึดติดกับพื้นผิวของผลิตภัณฑ์อาหาร
OM ภาพ
ในภาพ OM เป็นเรื่องยากที่จะมองเห็นการกระจายตัวของสารหล่อลื่นตัวขาวบนพื้นผิวเม็ดสีขาว (ยา) และคุณภาพของการยึดเกาะ
SEM Image (ภาพองค์ประกอบอิเล็กตรอนแบบกระจัดกระจาย)
ภาพ SEM จากมุมมองเดียวกัน (FOV) จะแสดงอนุภาคที่มีความเปรียบต่างต่างกันซึ่งบ่งชี้ถึงองค์ประกอบที่แตกต่างกัน
SEM Image (ภาพองค์ประกอบอิเล็กตรอนแบบกระจัดกระจาย) และผลการวิเคราะห์ธาตุ
การขยายพื้นที่ที่สนใจจะเข้าถึงการวิเคราะห์ EDS แบบสดทันทีพร้อมการระบุองค์ประกอบหลัก
การควบคุมคุณภาพ
สังเกตโครงสร้างพื้นผิวที่มีรายละเอียดด้วยความละเอียดสูงและระยะชัดลึกสูง ซึ่งเป็นไปไม่ได้ด้วยการสร้างภาพ OM
【ตัวอย่าง】 การสังเกตการกระจายของสารหล่อลื่นบนพื้นผิวเม็ด (ยา)
OM ภาพ
ในภาพ OM เป็นการยากที่จะเห็นการกระจายตัวของสารหล่อลื่นบนพื้นผิวเม็ดและคุณภาพของการยึดเกาะ
SEM Image (ภาพองค์ประกอบอิเล็กตรอนแบบกระจัดกระจาย)
ระยะชัดลึกที่เหนือกว่าด้วยการถ่ายภาพ SEM เหนือการถ่ายภาพ OM พร้อมกับความเปรียบต่างขององค์ประกอบที่มาพร้อมกับเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนที่กระเจิงกลับแสดงให้เห็นอย่างชัดเจนถึงการกระจายของสารหล่อลื่นบนพื้นผิวของแกรนูล
SEM Image (ภาพองค์ประกอบอิเล็กตรอนแบบกระจัดกระจาย) และการวิเคราะห์ธาตุ
สังเกตสภาพการยึดเกาะของน้ำมันหล่อลื่นด้วยกำลังขยายที่สูงขึ้น
คุณสมบัติและการใช้งาน
ฟังก์ชันที่ทำให้ทุกคนสามารถดำเนินการ SEM/EDS ได้
โหมด Zeromag & Low-Vacuum
ซีโร่แม็ก
ซูมภาพออปติคอลเพื่อเปลี่ยนเป็นภาพ SEM โดยอัตโนมัติ!
โหมดสูญญากาศต่ำ
การดูทำได้ง่ายโดยไม่ต้องเตรียมการล่วงหน้าสำหรับตัวอย่างที่ชาร์จอย่างง่ายดาย
ตัวอย่าง: เกลือ
คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน และภาพยนตร์จะเริ่มขึ้น (เป็นเวลา 60 วินาที)
สด! สด! สด!
การวิเคราะห์สด
ไม่จำเป็นต้องพิจารณาการสังเกต SEM และการวิเคราะห์ EDS เป็นการดำเนินการที่แยกจากกัน เมื่อเลือก Live Map คุณสามารถยืนยันการกระจายองค์ประกอบในพื้นที่ที่สังเกตได้แบบเรียลไทม์
คัดกรองขณะทำการสังเกตด้วย Live Analysis
ตรวจสอบการกระจายองค์ประกอบอย่างรวดเร็วด้วย Live Map
3D สด
เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจัดกระจาย 4 ส่วนความไวสูงใหม่ช่วยให้ดูภาพ SEM และภาพ 2 มิติแบบ 3 บานหน้าต่างโดยใช้ฟังก์ชัน Live 3D นอกจากการกำหนดรูปร่างทันทีสำหรับตัวอย่างที่มีภูมิประเทศที่ซับซ้อนแล้ว ยังสามารถรับข้อมูลความลึกได้อีกด้วย
ห้องแล็บสไมล์วิว™
ข้อมูลทั้งหมดสามารถจัดการได้จาก ห้องแล็บสไมล์วิว™ หน้าจอการจัดการข้อมูล
ตรวจทานและวิเคราะห์ข้อมูลที่ได้รับก่อนหน้านี้อีกครั้ง และสร้างรายงานได้อย่างง่ายดาย
คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน แล้วภาพยนตร์จะเริ่ม (2.5 นาที)
ภาพยนตร์เรื่องนี้จะแนะนำให้คุณรู้จักกับคุณสมบัติและฟังก์ชันของ Benchtop SEM JCM-7000 NeoScope™
คำอธิบายฟังก์ชันโดยภาพยนตร์
ภาพยนตร์ต่อไปนี้จะแนะนำให้คุณรู้จักกับฟังก์ชันของ Benchtop SEM JCM-7000 NeoScope™
คุณสมบัติสามประการเพื่อการใช้งานง่าย
JCM-7000 โดดเด่นด้วยความสะดวกในการใช้งาน นี่คือคุณสมบัติสามประการที่แม้แต่มือใหม่ก็ยังชอบ
1．Guided Workflow เพื่อการเก็บข้อมูลที่ง่ายดาย
2．ภาพสีช่วยให้การนำทางง่ายขึ้น
3．ฟังก์ชั่นอัตโนมัติขั้นสูง
เหมาะสำหรับการสังเกตและวิเคราะห์ชิ้นงานทดสอบต่างๆ – โหมดสุญญากาศสูงให้การวัดคุณภาพสูงกว่า! –
JCM-7000 มีโหมดสุญญากาศสูงสำหรับการสังเกตและวิเคราะห์ชิ้นงานทดสอบที่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้า และโหมดสูญญากาศต่ำสำหรับการสังเกตและวิเคราะห์ชิ้นงานทดสอบที่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้าโดยไม่มีการบำบัดชิ้นงานทดสอบ
ดังนั้น JCM-7000 สามารถใช้สำหรับการสังเกต SEM และการวิเคราะห์ EDS ของตัวอย่างที่หลากหลาย
ฝากทั้งการสังเกตและการวิเคราะห์ให้เรา
JEOL พัฒนาและผลิตทั้ง SEM และ EDS ภายในบริษัท ทั้งการสังเกต SEM และการวิเคราะห์ EDS สามารถดำเนินการได้ในตำแหน่งที่เหมาะสมและภายในอินเทอร์เฟซผู้ใช้เดียวกัน ภาพยนตร์จะแนะนำให้คุณรู้จักกับฟังก์ชันการคัดกรอง EDS สามแบบระหว่างการสังเกตภาพ
ดาวน์โหลด
การสังเกตและวิเคราะห์อย่างรวดเร็วโดยไม่มีการบำบัดด้วยตัวอย่างโดยใช้เครื่องตั้งโต๊ะ SEM JCM-7000!
-แนะนำการใช้งานโหมด Low-Vacuum(LV) อย่างมีประสิทธิภาพ-
ทำไมคุณไม่ลองสังเกต SEM ของตัวอย่างฉนวนที่ไม่นำไฟฟ้าเหมือนที่มันเป็น โดยไม่มีการบำบัดล่วงหน้าล่ะ
เราจะแนะนำตัวอย่างการใช้งาน JCM-7000 อย่างมีประสิทธิภาพในโหมดสุญญากาศต่ำ (LV) สำหรับวัสดุพอลิเมอร์ วัสดุทางอุตสาหกรรม แร่ธาตุ อาหาร และสิ่งมีชีวิต/พืช
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JCM-7000
ภาพตัดขวางของเส้นก๋วยเตี๋ยวที่สังเกตได้จากอุณหภูมิความเย็นต่างๆ
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
IB-19520CCP ข้ามส่วนขัด™
ความเสียหายจากความร้อนสามารถลดลงได้โดยการทำให้ชิ้นงานเย็นลงด้วยไนโตรเจนเหลวในระหว่างการประมวลผล ออกแบบมาเพื่อลดการใช้ไนโตรเจนเหลว ทำให้สามารถทำความเย็นได้นาน การทำให้ชิ้นงานเย็นลงอย่างรวดเร็วในขณะที่แช่อยู่ในไนโตรเจนเหลว กลับสู่อุณหภูมิห้อง ออกแบบมาเพื่อให้ถอดชิ้นส่วนได้ รวมกลไกที่ช่วยให้กระบวนการตั้งแต่การขัดเงาจนถึงการสังเกตดำเนินการได้โดยไม่ต้องให้ตัวอย่างสัมผัสกับอากาศ
IB-19530CP CROSS SECTION POLISER™
IB-19530CP มีเวทีอเนกประสงค์ที่ออกแบบอย่างสร้างสรรค์เพื่อตอบสนองความต้องการของตลาดที่มีความหลากหลายมากขึ้น และตระหนักถึงฟังก์ชันอเนกประสงค์โดยผู้ถือฟังก์ชันประเภทต่างๆ แท่นอเนกประสงค์รวมกับตัวจับยึดที่ใช้งานได้เฉพาะ ทำให้ผู้ใช้สามารถทำหน้าที่ต่างๆ เช่น การกัดและขัดพื้นผิวระนาบ การเคลือบผิวด้วยสปัตเตอร์ และการกัดไอออนแบบภาคตัดขวางแบบดั้งเดิมมากขึ้น
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป