JCM-7000 NeoScope™ แบบตั้งโต๊ะ SEM

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแบบตั้งโต๊ะใช้ในหลากหลายสาขา เช่น อุตสาหกรรมไฟฟ้า อิเล็กทรอนิกส์ รถยนต์ เครื่องจักร เคมี และเภสัชกรรม นอกจากนี้ การใช้งาน SEM ยังขยายขอบเขตให้ครอบคลุมการวิจัยและพัฒนาเท่านั้น แต่ยังรวมถึงการควบคุมคุณภาพและการตรวจสอบผลิตภัณฑ์ในไซต์การผลิตอีกด้วย ด้วยเหตุนี้ ความต้องการในการปรับปรุงประสิทธิภาพการทำงาน การทำงานที่เร็วขึ้นและง่ายขึ้นมาก และความสามารถในการวิเคราะห์และการวัดในระดับที่สูงขึ้น

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแบบตั้งโต๊ะ JCM-7000 ได้รับการออกแบบตามแนวคิดหลักของ "SEM ที่ใช้งานง่ายพร้อมการนำทางที่ราบรื่นและการวิเคราะห์แบบสด" JCM-7000 ประกอบด้วยสามฟังก์ชันที่เป็นนวัตกรรมใหม่ "Zeromag" สำหรับการเปลี่ยนจากการถ่ายภาพแบบออปติคัลเป็น SEM อย่างราบรื่น "การวิเคราะห์แบบสด" สำหรับการค้นหาองค์ประกอบที่เป็นส่วนประกอบสำหรับพื้นที่การสังเกตภาพ และ "Live 3D" สำหรับการแสดงภาพ 3D แบบสดที่สร้างขึ้นใหม่ในระหว่างการสังเกต SEM

เมื่อคุณวาง JCM-7000 ไว้ข้างกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล คุณจะสามารถทำการวิเคราะห์วัสดุแปลกปลอมและการควบคุมคุณภาพได้เร็วยิ่งขึ้นและมีรายละเอียดมากขึ้น

คุณสมบัติ

ดาวน์โหลด

การสังเกตและวิเคราะห์อย่างรวดเร็วโดยไม่มีการบำบัดด้วยตัวอย่างโดยใช้เครื่องตั้งโต๊ะ SEM JCM-7000!
-แนะนำการใช้งานโหมด Low-Vacuum(LV) อย่างมีประสิทธิภาพ-

ทำไมคุณไม่ลองสังเกต SEM ของตัวอย่างฉนวนที่ไม่นำไฟฟ้าเหมือนที่มันเป็น โดยไม่มีการบำบัดล่วงหน้าล่ะ
เราจะแนะนำตัวอย่างการใช้งาน JCM-7000 อย่างมีประสิทธิภาพในโหมดสุญญากาศต่ำ (LV) สำหรับวัสดุพอลิเมอร์ วัสดุทางอุตสาหกรรม แร่ธาตุ อาหาร และสิ่งมีชีวิต/พืช

ในการดาวน์โหลดสื่อต่างๆ

JCM-7000 นีโอสโคป™

ใบปลิว JCM-7000 NeoScope™

เครื่องมือตั้งโต๊ะ JCM-7000 NeoScope™ สำหรับการวิเคราะห์วัสดุต่างประเทศและการกำหนดวัสดุ

เครื่องมือตั้งโต๊ะ JCM-7000 NeoScope™ เพื่อการประกันคุณภาพ

เปรียบเทียบกับOM

คุณสมบัติและการใช้งาน

คำอธิบายฟังก์ชันโดยภาพยนตร์

SEM ธรรมดา

ในการดำเนินการ SEM แบบทั่วไป การถ่ายภาพ SEM และการวิเคราะห์องค์ประกอบจะถูกแยกออก (ไม่ราบรื่น)

เจซีเอ็ม-7000

ด้วย "Zeromag" JCM-7000 ช่วยให้ทำงานได้อย่างราบรื่นตั้งแต่การถ่ายภาพแบบออปติคัลไปจนถึง SEM ด้วย "การวิเคราะห์สด" การวิเคราะห์องค์ประกอบโดย EDS สามารถทำได้ในระหว่างการสังเกตภาพ SEM

เปรียบเทียบกับOM

เร่งความเข้าใจของคุณให้มากกว่ากล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล

การวิเคราะห์สารปนเปื้อน

ตรวจจับสิ่งแปลกปลอมได้ง่าย
ง่ายต่อการระบุองค์ประกอบองค์ประกอบ
【ตัวอย่าง】 การวิเคราะห์วัตถุแปลกปลอมสีดำที่ยึดติดกับพื้นผิวของผลิตภัณฑ์อาหาร

OM ภาพ

ในภาพ OM เป็นเรื่องยากที่จะมองเห็นการกระจายตัวของสารหล่อลื่นตัวขาวบนพื้นผิวเม็ดสีขาว (ยา) และคุณภาพของการยึดเกาะ

SEM Image (ภาพองค์ประกอบอิเล็กตรอนแบบกระจัดกระจาย)

ภาพ SEM จากมุมมองเดียวกัน (FOV) จะแสดงอนุภาคที่มีความเปรียบต่างต่างกันซึ่งบ่งชี้ถึงองค์ประกอบที่แตกต่างกัน

SEM Image (ภาพองค์ประกอบอิเล็กตรอนแบบกระจัดกระจาย) และผลการวิเคราะห์ธาตุ

การขยายพื้นที่ที่สนใจจะเข้าถึงการวิเคราะห์ EDS แบบสดทันทีพร้อมการระบุองค์ประกอบหลัก

การควบคุมคุณภาพ

สังเกตโครงสร้างพื้นผิวที่มีรายละเอียดด้วยความละเอียดสูงและระยะชัดลึกสูง ซึ่งเป็นไปไม่ได้ด้วยการสร้างภาพ OM
【ตัวอย่าง】 การสังเกตการกระจายของสารหล่อลื่นบนพื้นผิวเม็ด (ยา)

OM ภาพ

ในภาพ OM เป็นการยากที่จะเห็นการกระจายตัวของสารหล่อลื่นบนพื้นผิวเม็ดและคุณภาพของการยึดเกาะ

SEM Image (ภาพองค์ประกอบอิเล็กตรอนแบบกระจัดกระจาย)

ระยะชัดลึกที่เหนือกว่าด้วยการถ่ายภาพ SEM เหนือการถ่ายภาพ OM พร้อมกับความเปรียบต่างขององค์ประกอบที่มาพร้อมกับเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนที่กระเจิงกลับแสดงให้เห็นอย่างชัดเจนถึงการกระจายของสารหล่อลื่นบนพื้นผิวของแกรนูล

SEM Image (ภาพองค์ประกอบอิเล็กตรอนแบบกระจัดกระจาย) และการวิเคราะห์ธาตุ

สังเกตสภาพการยึดเกาะของน้ำมันหล่อลื่นด้วยกำลังขยายที่สูงขึ้น

คุณสมบัติและการใช้งาน

ฟังก์ชันที่ทำให้ทุกคนสามารถดำเนินการ SEM/EDS ได้

โหมด Zeromag & Low-Vacuum

ซีโร่แม็ก

ซูมภาพออปติคอลเพื่อเปลี่ยนเป็นภาพ SEM โดยอัตโนมัติ!

โหมดสูญญากาศต่ำ

การดูทำได้ง่ายโดยไม่ต้องเตรียมการล่วงหน้าสำหรับตัวอย่างที่ชาร์จอย่างง่ายดาย

ตัวอย่าง: เกลือ

คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน และภาพยนตร์จะเริ่มขึ้น (เป็นเวลา 60 วินาที)

สด! สด! สด!

การวิเคราะห์สด

ไม่จำเป็นต้องพิจารณาการสังเกต SEM และการวิเคราะห์ EDS เป็นการดำเนินการที่แยกจากกัน เมื่อเลือก Live Map คุณสามารถยืนยันการกระจายองค์ประกอบในพื้นที่ที่สังเกตได้แบบเรียลไทม์

คัดกรองขณะทำการสังเกตด้วย Live Analysis

ตรวจสอบการกระจายองค์ประกอบอย่างรวดเร็วด้วย Live Map

3D สด

เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจัดกระจาย 4 ส่วนความไวสูงใหม่ช่วยให้ดูภาพ SEM และภาพ 2 มิติแบบ 3 บานหน้าต่างโดยใช้ฟังก์ชัน Live 3D นอกจากการกำหนดรูปร่างทันทีสำหรับตัวอย่างที่มีภูมิประเทศที่ซับซ้อนแล้ว ยังสามารถรับข้อมูลความลึกได้อีกด้วย

ห้องแล็บสไมล์วิว™

ข้อมูลทั้งหมดสามารถจัดการได้จาก ห้องแล็บสไมล์วิว™ หน้าจอการจัดการข้อมูล
ตรวจทานและวิเคราะห์ข้อมูลที่ได้รับก่อนหน้านี้อีกครั้ง และสร้างรายงานได้อย่างง่ายดาย

คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน แล้วภาพยนตร์จะเริ่ม (2.5 นาที)

ภาพยนตร์เรื่องนี้จะแนะนำให้คุณรู้จักกับคุณสมบัติและฟังก์ชันของ Benchtop SEM JCM-7000 NeoScope™

คำอธิบายฟังก์ชันโดยภาพยนตร์

ภาพยนตร์ต่อไปนี้จะแนะนำให้คุณรู้จักกับฟังก์ชันของ Benchtop SEM JCM-7000 NeoScope™

คุณสมบัติสามประการเพื่อการใช้งานง่าย

JCM-7000 โดดเด่นด้วยความสะดวกในการใช้งาน นี่คือคุณสมบัติสามประการที่แม้แต่มือใหม่ก็ยังชอบ
1．Guided Workflow เพื่อการเก็บข้อมูลที่ง่ายดาย
2．ภาพสีช่วยให้การนำทางง่ายขึ้น
3．ฟังก์ชั่นอัตโนมัติขั้นสูง

เหมาะสำหรับการสังเกตและวิเคราะห์ชิ้นงานทดสอบต่างๆ – โหมดสุญญากาศสูงให้การวัดคุณภาพสูงกว่า! –

JCM-7000 มีโหมดสุญญากาศสูงสำหรับการสังเกตและวิเคราะห์ชิ้นงานทดสอบที่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้า และโหมดสูญญากาศต่ำสำหรับการสังเกตและวิเคราะห์ชิ้นงานทดสอบที่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้าโดยไม่มีการบำบัดชิ้นงานทดสอบ
ดังนั้น JCM-7000 สามารถใช้สำหรับการสังเกต SEM และการวิเคราะห์ EDS ของตัวอย่างที่หลากหลาย

ฝากทั้งการสังเกตและการวิเคราะห์ให้เรา

JEOL พัฒนาและผลิตทั้ง SEM และ EDS ภายในบริษัท ทั้งการสังเกต SEM และการวิเคราะห์ EDS สามารถดำเนินการได้ในตำแหน่งที่เหมาะสมและภายในอินเทอร์เฟซผู้ใช้เดียวกัน ภาพยนตร์จะแนะนำให้คุณรู้จักกับฟังก์ชันการคัดกรอง EDS สามแบบระหว่างการสังเกตภาพ