ไอบี-19530ซีพี
ครอสเซ็กชั่นโพลิเชอร์
IB-19530CP มีเวทีอเนกประสงค์ที่ออกแบบอย่างสร้างสรรค์เพื่อตอบสนองความต้องการของตลาดที่มีความหลากหลายมากขึ้น และตระหนักถึงฟังก์ชันอเนกประสงค์โดยผู้ถือฟังก์ชันประเภทต่างๆ แท่นอเนกประสงค์รวมกับตัวจับยึดที่ใช้งานได้เฉพาะ ทำให้ผู้ใช้สามารถทำหน้าที่ต่างๆ เช่น การกัดและขัดพื้นผิวระนาบ การเคลือบผิวด้วยสปัตเตอร์ และการกัดไอออนแบบภาคตัดขวางแบบดั้งเดิมมากขึ้น
คุณสมบัติ
ปริมาณงานสูง
แหล่งไอออนความเร็วสูงและฟังก์ชันสตาร์ทอัตโนมัติให้ผลลัพธ์การกัดที่รวดเร็ว
โปรแกรมประมวลผลอัตโนมัติ
สามารถตั้งโปรแกรมการประมวลผลและการเก็บผิวละเอียดด้วยความเร็วสูงเพื่อเตรียมหน้าตัดคุณภาพสูงในระยะเวลาอันสั้น การประมวลผลแบบไม่ต่อเนื่องสามารถตั้งโปรแกรมได้เพื่อเพิ่มประสิทธิภาพในการเตรียมวัสดุที่มีอุณหภูมิหลอมเหลวต่ำและไวต่อการฉายรังสีของลำไอออน
ติดตั้งง่าย
ตัวจับยึดแบบแยกส่วนช่วยให้ปรับพื้นที่กัดได้อย่างแม่นยำทั้งภายใน IB-19530CP หรือใช้กล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลภายนอก
เวทีอเนกประสงค์
สามารถใช้ฟังก์ชันเพิ่มเติมรวมถึงการกัดผิวระนาบและการเคลือบไออนบีมสปัตเตอร์ผ่านตัวจับยึดที่หลากหลาย
แผ่นป้องกันอายุการใช้งานยาวนาน
อายุการใช้งานของชีลด์เพลทมีความทนทานมากกว่าผลิตภัณฑ์ทั่วไปถึงสามเท่า ซึ่งช่วยให้มีอัตราการผลิตสูงขึ้นและอายุการใช้งานยาวนานขึ้น
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
| แรงดันไฟฟ้าเร่งไอออน | 2 ถึง 8kV |
|---|---|
| ความเร็วในการกัด | 500μm/h หรือมากกว่า |
| แม็กซ์ ขนาดตัวอย่าง | 11 มม. (W) x 10 มม. (L) x 2 มม. (T) |
| ฟังก์ชั่นการแกว่งตัวอย่าง | สวิงอัตโนมัติของชิ้นงานในระหว่างการกัดโดย ± 30° |
| โหมดเริ่มต้นอัตโนมัติ | การกัดจะเริ่มขึ้นโดยอัตโนมัติเมื่อถึงค่าความดันที่กำหนดไว้แล้ว |
| โหมดไม่ต่อเนื่อง | การฉายรังสีด้วยลำแสงไอออนที่ควบคุมด้วยพัลส์ช่วยลดการสัมผัสของตัวอย่างลำแสงไอออนในระหว่างการกัด |
| โหมดจบ | การกัดผิวละเอียดละเอียดจะเริ่มขึ้นโดยอัตโนมัติเมื่อการประมวลผลเสร็จสิ้น |
ดาวน์โหลดแคตตาล็อก
IB-19530CP ตัวขัดส่วนข้าม (TM)
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
รุ่น JSM-IT800 Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope
JSM-IT800 รวมเอา "ปืนอิเล็กตรอนในเลนส์ Schottky Plus field emission" ของเราสำหรับการถ่ายภาพความละเอียดสูงเพื่อทำแผนที่องค์ประกอบอย่างรวดเร็ว และระบบควบคุมอิเล็กตรอนแบบออปติคอล "Neo Engine" ที่เป็นนวัตกรรมใหม่ และระบบของ GUI "SEM Center" ที่ไร้รอยต่อ สำหรับการทำแผนที่องค์ประกอบอย่างรวดเร็วด้วยเอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายพลังงาน (EDS) ของ JEOL ที่ฝังตัวอย่างสมบูรณ์เป็นแพลตฟอร์มทั่วไป
JSM-IT800 ช่วยให้สามารถเปลี่ยนเลนส์ใกล้วัตถุของ SEM เป็นโมดูลได้ โดยนำเสนอเวอร์ชันต่างๆ เพื่อตอบสนองความต้องการของผู้ใช้ที่หลากหลาย JSM-IT800 มีให้เลือก XNUMX รุ่นสำหรับเลนส์ใกล้วัตถุที่แตกต่างกัน: รุ่นเลนส์ไฮบริด (HL) ซึ่งเป็น FE-SEM สำหรับการใช้งานทั่วไป รุ่นเลนส์ซูเปอร์ไฮบริด (SHL/SHL สองเวอร์ชันที่มีฟังก์ชันต่างกัน) ซึ่งช่วยให้สามารถสังเกตและวิเคราะห์ความละเอียดสูงขึ้น และรุ่นกึ่งเลนส์ที่พัฒนาขึ้นใหม่ (i/is สองรุ่นที่มีฟังก์ชันต่างกัน) ซึ่งเหมาะสำหรับการสังเกตอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์
นอกจากนี้ JSM-IT800 ยังสามารถติดตั้งอุปกรณ์ตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจายรังสีสะท้อนกลับ (SBED) แบบใหม่และเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระเจิงกลับเอนกประสงค์ (VBED) ได้อีกด้วย SBED ช่วยให้ได้ภาพที่มีการตอบสนองสูง และสร้างคอนทราสต์ของวัสดุที่คมชัดแม้ใช้แรงดันไฟฟ้าที่เร่งความเร็วต่ำ ในขณะที่ VBED สามารถช่วยได้ภาพ 3 มิติ ภูมิประเทศ และคอนทราสต์ของวัสดุ ดังนั้น JSM-IT800 สามารถช่วยให้ผู้ใช้ได้รับข้อมูลที่ไม่สามารถหาได้และเพื่อแก้ปัญหาในการวัด
IB-19520CCP ข้ามส่วนขัด™
ความเสียหายจากความร้อนสามารถลดลงได้โดยการทำให้ชิ้นงานเย็นลงด้วยไนโตรเจนเหลวในระหว่างการประมวลผล ออกแบบมาเพื่อลดการใช้ไนโตรเจนเหลว ทำให้สามารถทำความเย็นได้นาน การทำให้ชิ้นงานเย็นลงอย่างรวดเร็วในขณะที่แช่อยู่ในไนโตรเจนเหลว กลับสู่อุณหภูมิห้อง ออกแบบมาเพื่อให้ถอดชิ้นส่วนได้ รวมกลไกที่ช่วยให้กระบวนการตั้งแต่การขัดเงาจนถึงการสังเกตดำเนินการได้โดยไม่ต้องให้ตัวอย่างสัมผัสกับอากาศ
JSM-IT700HR InTouchScope™ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
SEM- สิ่งจำเป็นในการทำงานในห้องแล็บรายวัน JSM-IT700HR ทำให้ง่าย
วัสดุที่มีขนาดนาโนกำลังผลักดันให้เกิดความก้าวหน้าทางเทคโนโลยีในปัจจุบัน การสังเกตและการวิเคราะห์ได้รับการอำนวยความสะดวกโดย SEM ใหม่และเป็นนวัตกรรม JSM-IT700HR
ปืนอิเล็กตรอนรุ่นใหม่ที่มีความละเอียดเชิงพื้นที่ 1 นาโนเมตร และกระแสโพรบที่ใหญ่ที่สุดที่ 300 nA รวมกับอินเทอร์เฟซซอฟต์แวร์ที่เป็นมิตรต่อผู้ใช้เป็นพิเศษช่วยลดความยุ่งยากในการสังเกตและวิเคราะห์ใน SEM ได้อย่างมาก
การออกแบบเครื่องมือขนาดกะทัดรัดนี้ยังมีช่องเก็บตัวอย่างขนาดใหญ่ที่มีพอร์ตอุปกรณ์เสริมหลายช่อง รวมถึงการรวม EDS
JSM-IT700HR SEM ขั้นสูง ทรงพลังและใช้งานง่าย
JSM-IT510 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด InTouchScope™
ง่ายต่อการรับข้อมูลสำหรับตัวอย่างทุกประเภท
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEMs) เป็นเครื่องมือที่ขาดไม่ได้สำหรับการวิจัยเท่านั้น แต่ยังรวมถึงการประกันคุณภาพและไซต์การผลิตด้วย
ในฉากเหล่านั้น กระบวนการสังเกตแบบเดียวกันจะต้องดำเนินการซ้ำๆ และจำเป็นต้องปรับปรุงประสิทธิภาพของกระบวนการ
ด้วย JSM-IT510 ฟังก์ชัน Simple SEM ที่เพิ่มเข้ามาใหม่ทำให้ผู้ใช้สามารถ "ปล่อยให้การดำเนินการซ้ำๆ ด้วยตนเอง" ซึ่งจำเป็นสำหรับการสังเกต SEM ทำให้การสังเกต SEM มีประสิทธิภาพและง่ายขึ้น
JCM-7000 NeoScope™ แบบตั้งโต๊ะ SEM
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแบบตั้งโต๊ะใช้ในหลากหลายสาขา เช่น อุตสาหกรรมไฟฟ้า อิเล็กทรอนิกส์ รถยนต์ เครื่องจักร เคมี และเภสัชกรรม นอกจากนี้ การใช้งาน SEM ยังขยายขอบเขตให้ครอบคลุมการวิจัยและพัฒนาเท่านั้น แต่ยังรวมถึงการควบคุมคุณภาพและการตรวจสอบผลิตภัณฑ์ในไซต์การผลิตอีกด้วย ด้วยเหตุนี้ ความต้องการในการปรับปรุงประสิทธิภาพการทำงาน การทำงานที่เร็วขึ้นและง่ายขึ้นมาก และความสามารถในการวิเคราะห์และการวัดในระดับที่สูงขึ้น
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแบบตั้งโต๊ะ JCM-7000 ได้รับการออกแบบตามแนวคิดหลักของ "SEM ที่ใช้งานง่ายพร้อมการนำทางที่ราบรื่นและการวิเคราะห์แบบสด" JCM-7000 ประกอบด้วยสามฟังก์ชันที่เป็นนวัตกรรมใหม่ "Zeromag" สำหรับการเปลี่ยนจากการถ่ายภาพแบบออปติคัลเป็น SEM อย่างราบรื่น "การวิเคราะห์แบบสด" สำหรับการค้นหาองค์ประกอบที่เป็นส่วนประกอบสำหรับพื้นที่การสังเกตภาพ และ "Live 3D" สำหรับการแสดงภาพ 3D แบบสดที่สร้างขึ้นใหม่ในระหว่างการสังเกต SEM
เมื่อคุณวาง JCM-7000 ไว้ข้างกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล คุณจะสามารถทำการวิเคราะห์วัสดุแปลกปลอมและการควบคุมคุณภาพได้เร็วยิ่งขึ้นและมีรายละเอียดมากขึ้น
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป