วัสดุแบตเตอรี่แบบโซลิดสเตตทั้งหมด / กรณีศึกษาของการวิเคราะห์ซิลิกอนแอโนดและอิเล็กโทรไลต์ที่เป็นของแข็ง - ตอนที่ 2 -

วันวางจำหน่าย: 2023/01/18

เมื่อเร็ว ๆ นี้ แบตเตอรี่แบบ all-solid-state ซึ่งญี่ปุ่นเป็นผู้นำ กำลังดึงดูดความสนใจในหมู่แบตเตอรี่ลิเธียมไอออน เมื่อเทียบกับแบตเตอรี่ลิเธียมไอออนในปัจจุบัน ซึ่งมีความเสี่ยงที่จะเกิดควันและจุดไฟ แบตเตอรี่แบบโซลิดสเตตทั้งหมดคาดว่าจะถูกนำมาใช้กันอย่างแพร่หลายในรถยนต์ เนื่องจากความปลอดภัยและความหนาแน่นของพลังงานที่สูง

การสัมมนาผ่านเว็บชุดนี้มีเนื้อหาเกี่ยวกับวัสดุซิลิกอนแอโนดและอิเล็กโทรไลต์แบบแข็ง ซึ่งกำลังศึกษาอยู่ในแบตเตอรี่แบบโซลิดสเตตทั้งหมด
ด้วยความร่วมมือของ Prof. Matsuda, Toyohashi University of Technology การสัมมนาผ่านเว็บจะให้ภาพรวมของแบตเตอรี่โซลิดสเตตทั้งหมด รวมทั้งตัวอย่างการวิเคราะห์ที่ดำเนินการด้วยเครื่องมือ JEOL

งานสัมมนานี้จะจัดขึ้นบนเว็บ คุณสามารถเข้าร่วมได้ไม่เพียงแค่จากพีซีของคุณเท่านั้น แต่ยังสามารถเข้าร่วมจากสมาร์ทโฟนหรือแท็บเล็ตได้ ตราบเท่าที่คุณสามารถเข้าถึงเว็บได้ เราหวังว่าจะมีส่วนร่วมของคุณ

เมื่อเข้าร่วมการสัมมนาผ่านเว็บนี้ คุณจะได้เรียนรู้...

• ภาพรวมของแบตเตอรี่โซลิดสเตตทั้งหมด

• กรณีศึกษาการวิเคราะห์ของขั้วลบซิลิกอน (ฟังก์ชันใหม่ของการทำแผนที่ Auger Microprobe-SI, วิธีการใช้ SXES ฯลฯ)

• กรณีศึกษาการวิเคราะห์ของแบตเตอรี่โซลิดสเตตทั้งหมด (การวิเคราะห์เพื่อความปลอดภัยและการประเมินคุณภาพ)

• การเตรียมตัวอย่างสำหรับ TEM ในสภาพแวดล้อมที่แยกอากาศ

ใครควรเข้าร่วม?

• ผู้ที่มีส่วนร่วมในการวิจัย/พัฒนา/ผลิตวัสดุแบตเตอรี่

• ผู้ที่มีส่วนร่วมในการวิเคราะห์วัสดุอุตสาหกรรม

• ผู้ที่มีส่วนร่วมในการวิเคราะห์วัสดุอุตสาหกรรม

วันที่/รายละเอียด

• 15 กุมภาพันธ์ 2023 (วันพุธ) 14:00 น. ถึง 15:00 น. JST (โตเกียว)

• การสัมมนาแต่ละครั้งใช้เวลาประมาณ 20 นาที
  * มีความเป็นไปได้ของการขยาย. โปรดเข้าใจ.

สื่อนำเสนอ

ไม่มีการเผยแพร่เนื้อหาการนำเสนอ

การโพสต์ภาพยนตร์

ไม่มีภาพยนตร์ที่จะโพสต์หลังจากการสัมมนาผ่านเว็บ

โครงการ

การบรรยาย 2
การเตรียมชิ้นงานทดสอบ TEM แบบแยกอากาศโดย FIB-SEM

เราจะแนะนำกระบวนการเตรียมชิ้นงานทดสอบ TEM แบบแยกอากาศของวัสดุซิลิกอนแอโนดของแบตเตอรี่ลิเธียมไอออนแบบโซลิดสเตตทั้งหมดโดยใช้ระบบลำแสงไอออนโฟกัส (FIB)
การเตรียมชิ้นงานสามารถทำได้จากหน้าตัด CP ที่เรียบและเรียบ โดยการถ่ายโอนชิ้นงานโดยตรงจากเครื่องขัดหน้าตัด (CP) ไปยัง FIB-SEM และสามารถเตรียมชิ้นงาน TEM คุณภาพสูงได้จากพื้นที่เป้าหมายโดยใช้ FIB กับชิ้นงานทดสอบ เครื่องควบคุมห้องโดยไม่ให้ชิ้นงานสัมผัสอากาศ 

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

• CP: IB-19520CCP Cooling CROSS SECTION POLISHER™ อุปกรณ์เตรียมหน้าตัด

• FIB: JIB-4700F ระบบมัลติบีม

• ตัวจัดการนาโนภายในห้องตัวอย่างของ FIB-SEM: OmniProbe 350

มิซูมิ คาโดอิ

FIB Group, แผนก EP Application
EP หน่วยธุรกิจ JEOL Ltd.

การบรรยาย 3
การวิเคราะห์สถานะทางเคมีของแอโนดซิลิคอนที่มีประจุโดย SEM-Soft X-ray Emission Spectrometry (SXES)

เทคนิคการวิเคราะห์แบบผสมผสานจะถูกนำมาใช้สำหรับแอโนดซิลิกอนในแบตเตอรี่ลิเธียมไอออนสถานะของแข็งทั้งหมด ซึ่งรวมถึงการสังเกตทางสัณฐานวิทยาโดย SEM และการวิเคราะห์องค์ประกอบโดย EDS และการวิเคราะห์สถานะทางเคมีโดย SXES และการวิเคราะห์ผลึกโดย EBSD 

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

• SEM: JSM-IT800 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสนาม Schottky

• สเปกโตรมิเตอร์การปล่อยรังสีเอกซ์แบบอ่อน: SXES / SXES-ER

• EBSD: สมมาตร (OXFORD)

ยาสุอากิ ยามาโมโตะ

ทีมที่ 3 กลุ่ม SEM
ฝ่ายรับสมัคร EP หน่วยธุรกิจ EP
บริษัท จอล จำกัด

การบรรยาย 4
การประเมินซิลิคอนแอโนดโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านนำเสนอเทคนิคการสังเกตและการวิเคราะห์ที่หลากหลาย เราจะแนะนำตัวอย่างการประเมินซิลิกอนแอโนดจากมุมต่างๆ

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

• TEM: JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์ความละเอียดระดับอะตอม

• ตัวยึดแบบแยกอากาศ: EM-01380STBTH ตัวยึดการถ่ายโอนเบริลเลียมแบบเอียง

ฮิโรกิ ฮาชิกุจิ

ทีม 1 กลุ่ม 2
ฝ่าย EM Application หน่วยธุรกิจ EM
บริษัท จอล จำกัด

ลงทะเบียน

กรุณาลงทะเบียนที่นี่

ติดต่อ

อีเมล：sales1[at]jeol.co.jp
(โปรดใช้ @ สำหรับ [at])
ฝ่ายสร้างอุปสงค์
บริษัท จอล จำกัด