JSM-IT700HR
การสแกน InTouchScope™
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
SEM- สิ่งจำเป็นในการทำงานในห้องแล็บรายวัน JSM-IT700HR ทำให้ง่าย
คุณสมบัติ
วัสดุที่มีขนาดนาโนกำลังผลักดันให้เกิดความก้าวหน้าทางเทคโนโลยีในปัจจุบัน การสังเกตและการวิเคราะห์ได้รับการอำนวยความสะดวกโดย SEM ใหม่และเป็นนวัตกรรม JSM-IT700HR
ปืนอิเล็กตรอนรุ่นใหม่ที่มีความละเอียดเชิงพื้นที่ 1 นาโนเมตร และกระแสโพรบที่ใหญ่ที่สุดที่ 300 nA รวมกับอินเทอร์เฟซซอฟต์แวร์ที่เป็นมิตรต่อผู้ใช้เป็นพิเศษช่วยลดความยุ่งยากในการสังเกตและวิเคราะห์ใน SEM ได้อย่างมาก
การออกแบบเครื่องมือขนาดกะทัดรัดนี้ยังมีช่องเก็บตัวอย่างขนาดใหญ่ที่มีพอร์ตอุปกรณ์เสริมหลายช่อง รวมถึงการรวม EDS
JSM-IT700HR SEM ขั้นสูง ทรงพลังและใช้งานง่าย
บทนำ
♦คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน แล้วหนังจะเริ่ม (ประมาณ 1.5 นาที) ♦
Zeromag & ฟังก์ชั่นอัตโนมัติ
ขยายภาพออปติคอล เปลี่ยนภาพเป็นภาพ SEM ได้อย่างราบรื่น
♦คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน แล้วหนังจะเริ่ม (ประมาณ 1.5 นาที) ♦
Zeromag ออกแบบมาเพื่อเชื่อมโยงกราฟิกผู้ถือหรือภาพออปติคัล※ ด้วยภาพ SEM
การใช้ Zeromag ทำให้การค้นหาภาคสนามเป็นเรื่องง่าย
จำเป็นต้องใช้ Stage Navigation System (SNS) เพื่อแสดงภาพออปติคัล
EDS แบบบูรณาการและการวิเคราะห์แบบสด
บูรณาการของการสังเกตและการวิเคราะห์
♦คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน แล้วหนังจะเริ่ม (ประมาณ 2 นาที) ♦
การวิเคราะห์ EDS โดยตรงบนหน้าจอการสังเกต SEM เพื่อการเปลี่ยนจากการสังเกตเป็นการวิเคราะห์อย่างราบรื่น นอกจากนี้ Live Analysis ยังให้การตรวจสอบสเปกตรัมแบบเรียลไทม์สำหรับรังสีเอกซ์
ห้องแล็บสไมล์วิว™
การสร้างรายงานที่รวดเร็วและยืดหยุ่น
♦คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน แล้วหนังจะเริ่ม (ประมาณ 1 นาที) ♦
SMILE VIEW™ Lab เป็นเครื่องมือจัดการข้อมูลดั้งเดิมของ JEOL ซึ่งเชื่อมโยงภาพออปติคัล ภาพ SEM และผลการวิเคราะห์ EDS
ด้วยการคลิกเพียงครั้งเดียว สามารถสร้างรายงานได้อย่างง่ายดายหลังการวัด
ซอฟต์แวร์เวอร์ชันออฟไลน์*1 พร้อมใช้งานเพื่อเพิ่ม SEM และเพิ่มประสิทธิภาพการทำงาน
ต้องใช้ซอฟต์แวร์วิเคราะห์ข้อมูลออฟไลน์ (ตัวเลือก)
จำเป็นต้องติดตั้ง Microsoft®Office
แสดงความลึกของสัญญาณ
♦คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน แล้วหนังจะเริ่ม (ประมาณ 1 นาที)♦
มีฟังก์ชันใหม่สำหรับการแสดงความลึกของการสร้างสัญญาณในตัว การสังเกตความลึกของการวิเคราะห์บนชิ้นงานทดสอบนั้นมีประสิทธิภาพมากในการทำความเข้าใจผลลัพธ์ของธาตุที่สร้างขึ้น
การจัดตำแหน่งลำแสงอัตโนมัติ (ABA)
♦คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน แล้วหนังจะเริ่ม (ประมาณ 1.5 นาที) ♦
ฟังก์ชันนี้จะปรับแกนแสงของลำอิเล็กตรอนโดยอัตโนมัติ
การสังเกตและวิเคราะห์พื้นที่ขนาดใหญ่ด้วยฟังก์ชันตัดต่อ
ผลการตัดต่อ: 6×6 (ซ้าย: ภาพอิเล็กตรอนที่กระจัดกระจายไปทางขวา: แผนที่องค์ประกอบ Cu)
ตัวอย่าง: ส่วนโม่เรียบของสกรูทองเหลือง※, แรงดันไฟเร่ง: 20 kV, โหมดสูญญากาศต่ำ (20 Pa), พื้นที่ถ่ายภาพ: 6.4 มม. × 4.8 มม.
การกัดผิวเรียบดำเนินการโดย IB-19530CP หลังจากการขัดเงาด้วยกลไก
การตัดต่อเป็นฟังก์ชันในการเชื่อมต่อรูปภาพทั้งหมดในพื้นที่ขนาดใหญ่ให้เป็นภาพความละเอียดสูงภาพเดียว
ฟังก์ชันนี้มีประโยชน์มากในการรับข้อมูลโดยละเอียดในพื้นที่ขนาดใหญ่
ดาวน์โหลดแคตตาล็อก
JSM-IT700HR InTouchScope(TM) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JSM-IT700HR
ขอแนะนำกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดด้วยความเย็น
ขยายโลกด้วยกล้องจุลทรรศน์ผ่าน JSM-IT700HR
วัสดุนาโน
ท่อนาโนคาร์บอน
แรงดันไฟเร่ง: 2 kV, สัญญาณ: อิเล็กตรอนทุติยภูมิ,
กำลังขยาย: ×100,000
การสังเกตที่แรงดันไฟเร่งต่ำเผยให้เห็นโครงสร้างพื้นผิวได้ชัดเจน
Catalyst Pt บนคาร์บอน
ผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์
พื้นผิวแตกของตัวเก็บประจุเซรามิก
แรงดันไฟเร่ง: 5 kV, สัญญาณ: อิเล็กตรอนที่กระจัดกระจาย,
กำลังขยาย: ×1,000 (ซ้าย) ×10,000 (ขวา)
CP-milled ส่วนของเซมิคอนดักเตอร์ SRAM
แรงดันไฟเร่ง: 5 kV, สัญญาณ: อิเล็กตรอนที่กระจัดกระจาย, กำลังขยาย: ×60,000 (ซ้าย, ขวา)
CP เป็นเครื่องมือในการเตรียมหน้าตัดของชิ้นงานทดสอบโดยใช้ Ar ionbeam และแผ่นชีลด์แบบกว้าง ในช่วงไม่กี่ปีที่ผ่านมา CP มีการใช้กันอย่างแพร่หลายในการเตรียมหน้าตัดของโลหะ เซรามิก พลาสติก และวัสดุอื่นๆ
โลหะมีค่า
การวิเคราะห์การตัดต่อพื้นที่ขนาดใหญ่
พื้นผิวแตกหักของสแตนเลส
แรงดันไฟเร่ง: 15 kV, สัญญาณ: อิเล็กตรอนทุติยภูมิ,
กำลังขยาย: ×500, ผลการตัดต่อ: 13×6
จากการสังเกตพื้นที่ทั้งหมดของพื้นผิวการแตกหัก การวิเคราะห์รายละเอียดของกลไกการแตกหักสามารถทำได้ ในชิ้นงานทดสอบนี้ จะสังเกตเห็นความล้มเหลวของความล้าโดยทั่วไป เช่น รูปแบบลายและไมโครโมลด์ลักยิ้ม
การวิเคราะห์องค์ประกอบ: แผนที่ EDS
ส่วนกัดซีพีของใบมีดตัดที่มีความแม่นยำ
แรงดันไฟเร่ง: 15 kV, สัญญาณ: อิเล็กตรอนที่กระจัดกระจาย (ซ้าย) แผนที่ EDS (ขวา), กำลังขยาย: ×3,000
การใช้แผนที่ซ้อนทับ การกระจายองค์ประกอบโลหะหนักในใบมีดตัดที่แม่นยำนั้นชัดเจน
การวิเคราะห์ EBSD กำลังขยายสูง
ลวดสแตนเลสกัดซีพีตามแนวยาว
แผนที่คุณภาพของภาพ(ซ้าย), ภาพแผนที่ระยะ(ขวา)
ภาพแผนที่ EBSD
(ทิศทาง: ทิศทาง 3)
แรงดันไฟเร่ง: 10 kV, กระแสโพรบ: 5 nA, กำลังขยาย: ×10,000
วัสดุอ่อนนุ่ม
คาร์บอนแบล็คในยาง
แรงดันไฟเร่ง: 15 kV
สัญญาณ: อิเล็กตรอนรอง
กำลังขยาย: ×20,000
ถุงมือพลาสติก
แรงดันไฟเร่ง: 5 kV,
สัญญาณ: อิเล็กตรอนที่มีการกระเจิงกลับด้วยสุญญากาศต่ำ
กำลังขยาย: ×30,000
เมมเบรนบนเปลือกไข่ไก่
แรงดันไฟเร่ง: 5 kV,
สัญญาณ: อิเล็กตรอนทุติยภูมิสูญญากาศต่ำ
กำลังขยาย: ×500
โหมดสูญญากาศต่ำ
โหมดสูญญากาศต่ำช่วยให้สังเกตวัสดุที่ไม่นำไฟฟ้าโดยไม่ต้องบำบัด การอพยพที่เลนส์ใกล้วัตถุช่วยปรับปรุงคุณภาพของภาพในโหมดสูญญากาศต่ำ
อาหาร
ไอศครีม
แรงดันไฟเร่ง: 7 kV, สัญญาณ: อิเล็กตรอนที่มีการกระเจิงกลับด้วยสุญญากาศต่ำ, กำลังขยาย: ×300 (ซ้าย) ×30,000 (ขวา)
ก้อนไขมันและเส้นใยกล้ามเนื้อของไก่
แรงดันไฟเร่ง: 10 kV
สัญญาณ: อิเล็กตรอนที่มีการกระเจิงกลับด้วยสุญญากาศต่ำ
กำลังขยาย: ×300
ตู้เก็บความเย็น LV*1
LV cryo-holder เก็บตัวอย่างแช่แข็งโดยไม่สูญเสียน้ำ
สามารถสังเกตตัวอย่างน้ำเช่นอาหารได้ เป็นไปได้ที่จะเห็นภาพพื้นผิวโดยการทำความเข้าใจขนาดของน้ำแข็งและเส้นผ่านศูนย์กลางของเส้นใยกล้ามเนื้อ
*1 ตัวเลือกเสริม
ชีววิทยา
E. coli และ T4 phage
แรงดันไฟเร่ง: 2.5 kV
สัญญาณ: อิเล็กตรอนรอง
กำลังขยาย: ×25,000
แรงดันไฟเร่ง: 2.5 kV
สัญญาณ: อิเล็กตรอนรอง
กำลังขยาย: ×80,000
ไมโทคอนเดรียของไตหนู
แรงดันไฟเร่ง: 2.5 kV
สัญญาณ: อิเล็กตรอนทุติยภูมิ
กำลังขยาย: ×50,000
JFD-320 เครื่องอบแห้งแบบแช่เยือกแข็ง*2
อุปกรณ์ทำแห้งเยือกแข็งนี้ลดผลกระทบของแรงตึงผิว เหมาะสำหรับการทำให้แห้งตัวอย่างที่มีน้ำ
การเตรียมตัวอย่าง E. coli และ T4 phage: การทำให้แห้งในจุดวิกฤตหลังการบำบัดด้วย Glutaraldehyde และ OsO4
การเตรียมตัวอย่างไมโตคอนเดรียของหนูเมาส์: การทำแห้งแบบเยือกแข็งหลังการบำบัดด้วย OsO4 maceration
* 2 ตัวเลือก
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
IB-19520CCP ข้ามส่วนขัด™
ความเสียหายจากความร้อนสามารถลดลงได้โดยการทำให้ชิ้นงานเย็นลงด้วยไนโตรเจนเหลวในระหว่างการประมวลผล ออกแบบมาเพื่อลดการใช้ไนโตรเจนเหลว ทำให้สามารถทำความเย็นได้นาน การทำให้ชิ้นงานเย็นลงอย่างรวดเร็วในขณะที่แช่อยู่ในไนโตรเจนเหลว กลับสู่อุณหภูมิห้อง ออกแบบมาเพื่อให้ถอดชิ้นส่วนได้ รวมกลไกที่ช่วยให้กระบวนการตั้งแต่การขัดเงาจนถึงการสังเกตดำเนินการได้โดยไม่ต้องให้ตัวอย่างสัมผัสกับอากาศ
IB-19530CP CROSS SECTION POLISER™
IB-19530CP มีเวทีอเนกประสงค์ที่ออกแบบอย่างสร้างสรรค์เพื่อตอบสนองความต้องการของตลาดที่มีความหลากหลายมากขึ้น และตระหนักถึงฟังก์ชันอเนกประสงค์โดยผู้ถือฟังก์ชันประเภทต่างๆ แท่นอเนกประสงค์รวมกับตัวจับยึดที่ใช้งานได้เฉพาะ ทำให้ผู้ใช้สามารถทำหน้าที่ต่างๆ เช่น การกัดและขัดพื้นผิวระนาบ การเคลือบผิวด้วยสปัตเตอร์ และการกัดไอออนแบบภาคตัดขวางแบบดั้งเดิมมากขึ้น
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป