IMC20 การประชุมกล้องจุลทรรศน์นานาชาติครั้งที่ 20

JEOL จะจัดแสดงที่ IMC20 ซึ่งจะจัดขึ้นที่ BEXCO (ปูซาน เกาหลี) ตั้งแต่วันที่ 10 กันยายน (อาทิตย์) ถึง 15 กันยายน (ศุกร์)
2023 เราจะให้ข้อมูลที่เป็นประโยชน์เกี่ยวกับเทคโนโลยีใหม่และเทคนิคการปฏิบัติที่ครอบคลุมหลากหลายสาขา
นอกจากนี้ ส่วนข้อมูลผลิตภัณฑ์ต่างๆ จะถูกจัดขึ้นที่สถานที่จัดงาน ได้แก่ การจำลอง JEM-ACE200F-TEM สำหรับเซมิคอนดักเตอร์ การสัมมนาในบูธ และการสาธิตระยะไกล
เราหวังว่าจะได้พบคุณที่ IMC20

วันที่/สถานที่

จัดแสดงข้อมูลผลิตภัณฑ์

【การสาธิตระยะไกล】กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแบบสแกนสนาม Schottky JSM-IT800

JCM-7000 NeoScope™ แบบตั้งโต๊ะ SEM

【ใหม่】Gather-X JED Series DrySD™ EDS แบบไม่มีหน้าต่าง

สัมมนาบูธ

ศาสตราจารย์
ภาควิชาวิทยาศาสตร์ชีวภาพ
สถาบันวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีขั้นสูงแห่งเกาหลี (KAIST)
แทจอน, เกาหลี

เขาสำเร็จการศึกษาจากมหาวิทยาลัยแห่งชาติโซลและได้รับปริญญาเอก ที่ Cold Spring Harbor Laboratory และเป็นนักวิจัยที่ Harvard Medical School, Massachusetts General Hospital, Boston

เขาได้รับปริญญาเอกสาขาวัสดุศาสตร์ในปี 2003 จากมหาวิทยาลัยโตเกียว เขาเป็นนักวิจัยของ JSPS ที่ Oak Ridge National Laboratory (2003-2004) ในสหรัฐอเมริกา จากนั้น เขาได้เข้าร่วมสถาบันนวัตกรรมวิศวกรรมที่มหาวิทยาลัยโตเกียวตั้งแต่ปี 2004 และได้เป็นศาสตราจารย์ที่นั่นตั้งแต่ปี 2017 งานวิจัยของเขามุ่งเน้นไปที่การพัฒนาเทคนิคการสร้างภาพใหม่ๆ ในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแบบสแกน และการประยุกต์ใช้เพื่อเชื่อมโยงการศึกษาในวัสดุและอุปกรณ์ . เขาได้ประพันธ์หรือร่วมเขียนสิ่งพิมพ์ในวารสารอ้างอิงมากกว่า 300 เรื่อง รางวัลเกียรติยศของเขา ได้แก่ Japan Academy Prize (2023) Inoue Prize for Science (2023), JSPS Prize (2019), Richard M. Fulrath Award, American Ceramic Society (2018), 5th Nagase Award (2015), 60th Seto Prize, The Japan Microscopy Society (2015), รางวัลเซอร์มาร์ตินวูดครั้งที่ 15 (2013), รางวัลคาซาโตครั้งที่ 6 (2013)

ตารางเวลา

วันจันทร์ที่ 11 กันยายน

เวลา	ลำโพง	ชื่อหนังสือ
10:30 - 11:00	เคเอส ฮัน	ขอแนะนำ Schottky FE-SEM ที่มีความสามารถในการทำงานสูงและ EDS แบบไม่มีหน้าต่างครอบคลุมช่วง KV ทั้งหมด
12:30 - 13:00	สไตล์ภาพยนตร์	การวิเคราะห์สถานะทางเคมีของอิเล็กโทรดลบ Si ในสถานะมีประจุโดยใช้ SEM-SXES
13:00 - 13:30	ยูเฮ นากาจิมะ	การแนะนำ JEOL NEW FIB-SEM JIB-PS500i
15:30 - 16:00	โนริอากิ เอนโดะ	เทคโนโลยีล้ำสมัยของระบบ TEM/STEM อัตโนมัติของเซมิคอนดักเตอร์ ”JEM-ACE200F”

วันอังคารที่ 12 กันยายน

เวลา	ลำโพง	ชื่อหนังสือ
10:30 - 11:00	สไตล์ภาพยนตร์	การวิเคราะห์สถานะทางเคมีของอิเล็กโทรดลบ Si ในสถานะมีประจุโดยใช้ SEM-SXES
12:30 - 13:00	เออิจิ โอคุนิชิ	การแนะนำแพลตฟอร์มการวิเคราะห์แบบผสานรวม ”FEMTUS”
13:00 - 13:30	KAIST ศาสตราจารย์ จี จุน ซง	การเดินทางของ Cryo-EMing ในเกาหลี
15:30 - 16:00	ยูเฮ นากาจิมะ	การแนะนำ JEOL NEW FIB-SEM JIB-PS500i

วันพุธที่ 13 กันยายน

เวลา	ลำโพง	ชื่อหนังสือ
10:30 - 11:00	เคเอส ฮัน	ขอแนะนำ Schottky FE-SEM ที่มีความสามารถในการทำงานสูงและ EDS แบบไม่มีหน้าต่างที่ครอบคลุมช่วง KV ทั้งหมด
12:30 - 13:00	ฮิโรกิ ฮาชิกุจิ	การแนะนำวิธีการสังเกตและการวิเคราะห์แบบใหม่พร้อมเอกสารแนบล่าสุด
13:00 - 13:30	มหาวิทยาลัยโตเกียว ศาสตราจารย์ นาโอยะ ชิบาตะ	MARS -การสำรวจโลกนาโนแมกเนติก-
15:30 - 16:00	ยูเฮ นากาจิมะ	การแนะนำ JEOL NEW FIB-SEM JIB-PS500i

วันพฤหัสบดีที่ 14 กันยายน

เวลา	ลำโพง	ชื่อหนังสือ
10:30 - 11:00	สไตล์ภาพยนตร์	การวิเคราะห์สถานะทางเคมีของอิเล็กโทรดลบ Si ในสถานะมีประจุโดยใช้ SEM-SXES
12:30 - 13:00	เคเอส ฮัน	ขอแนะนำ Schottky FE-SEM ที่มีความสามารถในการทำงานสูงและ EDS แบบไม่มีหน้าต่างครอบคลุมช่วง KV ทั้งหมด
13:00 - 13:30	ยูเฮ นากาจิมะ	การแนะนำ JEOL NEW FIB-SEM JIB-PS500i

การสาธิตระยะไกลและการจัดแสดงจำลอง

การสาธิตระยะไกลของ TEM JEM-ACE200F สำหรับเซมิคอนดักเตอร์จะจัดขึ้นทุกวัน

รุ่น JEM-ACE200F High throughput Analytical Electron Microscope

วันจันทร์ที่ 11 กันยายน

เวลา	ชื่อหนังสือ
12:30 - 13:30	รุ่น JEM-ACE200F High throughput Analytical Electron Microscope

วันอังคารที่ 12 กันยายน

เวลา	ชื่อหนังสือ
12:30 - 13:30	รุ่น JEM-ACE200F High throughput Analytical Electron Microscope

วันพุธที่ 13 กันยายน

เวลา	ชื่อหนังสือ
12:30 - 13:30	รุ่น JEM-ACE200F High throughput Analytical Electron Microscope

วันพฤหัสบดีที่ 14 กันยายน

เวลา	ชื่อหนังสือ
12:30 - 13:30	รุ่น JEM-ACE200F High throughput Analytical Electron Microscope

กิจกรรม / สัมมนา