ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

คุณสมบัติ

  • กำลังสูงสุด 3W

  • การโฟกัสที่แน่นหนา (<40 µm FWHM)

  • โปรไฟล์ชั่วคราวจาก µs ถึง s

  • การควบคุมระยะไกลของตำแหน่งโฟกัส กำลังเลเซอร์ ระยะเวลาพัลส์

  • ขนาดกะทัดรัดเป็นพิเศษ

  • ไม่มีการเสียสละเพื่อเสรีภาพในการเลือกผู้ถือตัวอย่าง

Luminary Micro คือ Cกระชับ Sตัวอย่าง Pตื่นเต้น System (CPXS) สำหรับ JEOL TEM
ประกอบด้วยเลเซอร์มอดูเลต ระบบส่งแสงขนาดกะทัดรัด (µODS) ช่องรับเข้า และกระจกเงา ด้วยโปรแกรมเสริมนี้ ผู้ใช้สามารถกำหนดทิศทางและโฟกัสเอาต์พุตเลเซอร์ไปยังตัวอย่าง TEM ได้ ในแหล่งกำเนิด.
Luminary Micro สามารถกระตุ้นปฏิกิริยาและกระบวนการไดนามิกที่หลากหลายในชิ้นงานทดสอบ ด้วยขนาดโฟกัส <40 µm FWHM กำลังสูงสุดที่ปรับได้สูงสุด 3 W และความกว้างของพัลส์ที่มอดูเลตตั้งแต่สองสามไมโครวินาทีถึงวินาที ด้วย Luminary Micro ผู้ใช้สามารถศึกษาปรากฏการณ์ที่เกิดจากเลเซอร์ได้ ในแหล่งกำเนิด โดยใช้กล้องเร็ว
เมื่อรวมกับชัตเตอร์เร็ว IDES/JEOL EDM และ/หรือระบบเฟรมย่อยสัมพัทธภาพแล้ว Luminary Micro ช่วยให้ผู้ใช้ทำการศึกษาที่มีการแก้ปัญหาตามเวลาโดยใช้วิธีหัววัดปั๊มในมาตราส่วนเวลาไมโครวินาที รอยเท้าของมันมีขนาดเล็กมาก และสามารถติดตั้งได้ง่ายโดยไม่กระทบต่อความละเอียด TEM แต่ก็ไม่ได้ทำให้อิสระในการเลือกตัวจับยึดชิ้นงานทดสอบลดลง

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

พารามิเตอร์ หมายเหตุ
ความยาวคลื่น 577 นาโนเมตร (มาตรฐาน) 532, 642 หรือ 780 นาโนเมตรตามคำขอ
พลังสูงสุด 3 วัตต์ที่ 577 นาโนเมตร 2 W ที่ 532, 642 หรือ 780 nm
เพิ่มขึ้นเวลาคงที่ 12.4 μs
ตกเวลาคงที่ 5.1 μs
ความยาวโฟกัส 300 มม. บน 300 kV TEMs
250 มม. บน 200 kV TEMs
ขนาดโฟกัส (FWHM) <40 µm บน 300 kV TEMs
<33 µm บน 200 kV TEMs
  • เลือกได้ตั้งแต่ตอนสั่งซื้อ

รุ่นที่ใช้งานได้: JEM-ARM300F2, NEOARM*1เจม-F200, เจม-2100เอฟ*2,JEM-2100Plus*2

  • Luminary Micro ใช้งานได้เฉพาะเมื่อมีการกำหนดค่าตัวแก้ไข Cs ของโพรบ

  • Luminary Micro ไม่พร้อมใช้งานหากมีการกำหนดค่าฝาครอบ goniometer

รูปภาพ

กระบวนการเจริญเติบโตของวัสดุนาโนคาร์บอนโดยการฉายรังสีด้วยเลเซอร์

ภาพยนตร์ในแหล่งกำเนิดที่มีความละเอียดระดับอะตอมของท่อนาโนคาร์บอนที่กำลังเติบโตและโครงสร้างนาโนคาร์บอนที่มีรูปทรงหัวหอมในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) โครงสร้างเกิดขึ้นจากการฉายรังสีเลเซอร์ของตัวอย่างที่ทำจากฟิล์มคาร์บอนและอนุภาคนาโนของเหล็ก
การทดลองนี้ดำเนินการโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเลคตรอนแบบส่งกำลัง JEOL 300kV กับปืนปล่อยสนามเย็น JEM-ARM300F และระบบใหม่ที่ออกแบบโดยบริษัทในเครือ JEOL Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc. สำหรับการโฟกัสเลเซอร์อย่างแม่นยำบนตัวอย่าง TEM Luminary Micro การผสมผสานระหว่างเครื่องมือสร้างภาพประสิทธิภาพสูงและการเคลื่อนที่ของตัวอย่างที่ลดลงเนื่องจากการส่องสว่างที่มีการควบคุมอย่างแม่นยำอย่างรวดเร็วช่วยให้มีความละเอียดเชิงพื้นที่เป็นพิเศษสำหรับการทดลองในแหล่งกำเนิด
(ได้รับความอนุเคราะห์จาก Dr. Ryousuke Senga, Electron Microscopy Group, Nanomaterials Research Institute, Advanced Industrial Science and Technology (AIST) และ Professor Kazutomo Suenaga, Department of Nanocharacterization for Nanostructures and Functions, Nanoscience and Nanotechnology Center, The Institute of Scientific and Industrial Research ( ISIR: SANKEN), มหาวิทยาลัยโอซาก้า)

    
             
    
             

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

ข้อมูลเพิ่มเติม

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา