ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

ระบบ CRYO-FIB-SEM นี้รวมขั้นตอนการทำความเย็นด้วยไนโตรเจนเหลวและกลไกการถ่ายโอนชิ้นงานด้วยความเย็นด้วยความเย็นสำหรับชิ้นงานแช่แข็ง ทำให้สามารถเตรียมชิ้นงาน TEM เช่น โพลีเมอร์ชีวภาพได้
กลไกการถ่ายเทชิ้นงานมีฟังก์ชันการเคลือบสปัตเตอร์ในตัว ดังนั้น ระบบ CRYO-FIB-SEM นี้เพียงอย่างเดียวสามารถดำเนินการชุดของกระบวนการเพื่อสร้างชิ้นงาน TEM จากชิ้นงานแช่แข็ง รวมถึงการเคลือบการนำไฟฟ้า การสร้างฟิล์มป้องกัน และการประมวลผล FIB
นอกจากนี้ ด้วยการใช้คาร์ทริดจ์ CRYO ARM™ ของ JEOL การถ่ายโอนตัวอย่างโดยตรงไปยัง CRYO ARM™ หลังจากการเตรียมตัวอย่าง TEM จะง่ายขึ้น

คุณสมบัติ

การถ่ายโอนตัวอย่าง Cryo โดยใช้คาร์ทริดจ์ CRYO ARM™

หลังจากติดตาข่ายของชิ้นงานทดสอบเข้ากับคาร์ทริดจ์แล้ว ก็ไม่จำเป็นต้องจับตาข่ายของชิ้นงานทดสอบโดยใช้แหนบอีกต่อไป จึงสามารถถ่ายโอนชิ้นงานที่มีปริมาณงานสูงได้

ขั้นตอนการทำความเย็นที่มีความเสถียรสูง

ขั้นตอนการทำความเย็นการนำความร้อนช่วยลดการเบี่ยงเบนของสเตจและการสั่นสะเทือนที่เกิดจากกระบวนการทำความเย็น และตระหนักถึงการเตรียมชิ้นงานทดสอบ TEM ที่มั่นคง

อุปกรณ์ป้องกันการปนเปื้อนอันเป็นเอกลักษณ์ของ JEOL

ด้วยอุปกรณ์ป้องกันการปนเปื้อนที่พัฒนาขึ้นใหม่นี้ การปนเปื้อนของน้ำแข็งในห้องเก็บตัวอย่างจะลดลง แม้ในระหว่างการจัดเตรียมชิ้นงานทดสอบจำนวนมากเป็นเวลานาน อุปกรณ์จะยับยั้งการปนเปื้อนของน้ำแข็งได้อย่างเต็มที่

 
ขั้นตอนการทำงานของ Cryo CLEM

ขั้นตอนการทำงานของ cryo-CLEM โดยใช้คาร์ทริดจ์ CRYO ARM™ สามารถสร้างขึ้นได้โดยใช้การแช่แข็งที่ผลิตโดย Linkam Scientific Instruments* และกล้องจุลทรรศน์เรืองแสงที่ผลิตโดย Nikon Solutions* สามารถเชื่อมโยงพิกัดระยะของแต่ละเครื่องมือได้ จึงสามารถระบุการวางแนวและตำแหน่งของชิ้นงานทดสอบได้เสมอในระหว่างการถ่ายโอนชิ้นงานระหว่างเครื่องมือ

 

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

SEM
แรงดันไฟฟ้าลงจอด 0.1 ถึง 30.0 kV
ลำแสงปัจจุบัน 1 pA ถึง 300 nA
ความละเอียดของภาพ 1.6 นาโนเมตร (15 kV、WD 4 มม.)
3.0 นาโนเมตร (2 kV、WD 8.5 มม.)
IBF
แรงดันไฟฟ้าเร่ง 1.0 ถึง 30.0 kV
ลำแสงปัจจุบัน 1 pA ถึง 90 nA
ความละเอียดของภาพ 4.0 นาโนเมตร (30 กิโลโวลต์)
คูลลิ่งสเตจ
วิธีการทำความเย็น การระบายความร้อนด้วยการนำความร้อน
น้ำหล่อเย็น ไนโตรเจนเหลว
อุณหภูมิความเย็น ระดับ: -160 °C หรือต่ำกว่า
อุปกรณ์ป้องกันการปนเปื้อน:
-180 °C หรือต่ำกว่า
ระยะเวลาในการคงความเย็น 13 ชั่วโมงขึ้นไป
ช่วงการเคลื่อนไหว X:20 มม
Y:30 มม
Z:4 ถึง 40.5 มม
T:-40 ถึง 70°
R:360° ขึ้นไป (-190 ถึง 190°)

การกำหนดค่ามาตรฐาน

การเคลือบแบบนำไฟฟ้า ระบบเคลือบ Pt sputter ถูกสร้างขึ้นในห้องแลกเปลี่ยนชิ้นงานทดสอบ
อุปกรณ์ป้องกันการปนเปื้อน รวมอยู่ในคอลัมน์ SEM และห้องเก็บตัวอย่าง

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

ข้อมูลเพิ่มเติม

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา