เจเอ็กซ์เอ-iHP200F
โพรบอิเล็กตรอนที่ปล่อยภาคสนาม
เครื่องวิเคราะห์ระดับไมโคร (FE-EPMA)
คุณสมบัติ
Electron Probe Microanalyzer (EPMA) ถูกใช้เป็นเครื่องมือในการพัฒนางานวิจัยและการประกันคุณภาพในด้านอุตสาหกรรมที่หลากหลาย เช่น เหล็ก รถยนต์ ส่วนประกอบไฟฟ้า วัสดุแบตเตอรี่ และการใช้งานกำลังขยายตัวมากขึ้นเรื่อยๆ นอกจากนี้ ในสาขาวิชาการ EMPA ยังถูกใช้อย่างกว้างขวางในวิทยาศาสตร์ดาวเคราะห์โลกและวัสดุศาสตร์ และคาดว่าจะมีส่วนร่วมในอนาคตกับการใช้งาน รวมถึงการวิจัยขั้นสูงต่างๆ ที่ครอบคลุมการวิจัยพลังงานวัสดุ เช่น แร่ธาตุและวัสดุใหม่ต่างๆ ในการตอบสนอง การใช้เครื่องมือที่ "ง่ายกว่า" และ "เร็วกว่า" ซึ่งทุกคนสามารถเข้าถึงได้จึงเป็นที่ต้องการ ในขณะที่ยังคงรักษาประสิทธิภาพในการวิเคราะห์ระดับไมโครเอาไว้ในระดับสูง
JXA-iHP200F และ JXA-iSP100 เป็น EPMA ที่ผสานรวมเข้ากับฟีเจอร์ที่ได้รับการปรับปรุง ตอบสนองความต้องการเหล่านี้ และบรรลุการดำเนินการที่มีประสิทธิภาพมากขึ้นตั้งแต่การสังเกตไปจนถึงการวิเคราะห์
EPMA เป็นตัวย่อของ Electron Probe Microanalyzer
การตั้งค่า
ใส่แท่นยึดด้วยการโหลดอัตโนมัติ! หาจุดสังเกตเป้าหมายด่วน!
การแทรกและการได้มาซึ่งภาพออปติคัลของตัวจับยึดชิ้นงานทดสอบ (ภาพการนำทางบนเวที) ทำได้ด้วยการคลิกเพียงครั้งเดียว
ฟิลด์สำหรับการวิเคราะห์สามารถเลือกได้จากภาพการนำทางบนเวที
การวิเคราะห์
ฟังก์ชันอัตโนมัติช่วยให้ทุกคนได้ภาพ SEM คุณภาพสูง Easy EPMA สำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบอย่างรวดเร็วด้วยการตั้งค่าเครื่องมือที่ง่ายขึ้น
การผสมผสานระหว่างฟังก์ชันโฟกัสอัตโนมัติของกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลและฟังก์ชันอัตโนมัติของ SEM ที่รวมระบบใหม่ที่มีความแม่นยำสูงขึ้นและระดับความสามารถที่เร็วขึ้น ผู้ใช้ทุกคนสามารถรับภาพ SEM คุณภาพสูงได้ “การวิเคราะห์สด” ช่วยให้สามารถคัดกรององค์ประกอบระหว่างการสังเกตได้ มี “Easy EPMA” ให้ใช้งาน ดังนั้นผู้ใช้มือใหม่จึงสามารถใช้งาน EPMA ได้อย่างราบรื่น “การรวม EPMA-XRF” ช่วยให้สามารถตั้งค่าเงื่อนไขของ EPMA ตามข้อมูล XRF การผสาน WD/ED ช่วยให้มีเวลาวิเคราะห์อย่างมีประสิทธิภาพ ความสามารถในการใช้งานได้รับการปรับปรุงเพิ่มเติมด้วยการผสานรวม SEM, EDS, WDS และภาพออปติคัล
หน้าจอการตั้งค่าและการแสดงข้อมูลของ Easy EPMA
การวิเคราะห์ EDS สด
ตัวอย่างเวลาในการวิเคราะห์ที่ลดลงเนื่องจากการผสานรวม WD/ED
การรวมเข้าด้วยกัน: คลิกเพียงครั้งเดียวช่วยให้ตั้งค่าการรวมคริสตัลวิเคราะห์ตามองค์ประกอบที่แนะนำผ่านข้อมูลจากเทคนิคข้างต้น
การบำรุงรักษาตนเอง
การสอบเทียบอย่างมีประสิทธิภาพด้วย 18 ตัวอย่างมาตรฐานในตัว
ฟังก์ชันการสอบเทียบสเปกโตรมิเตอร์ใหม่ช่วยลดขั้นตอนของการสอบเทียบตามระยะเวลาและขจัดการทำงานผิดพลาดโดยใช้ตัวอย่างมาตรฐานในตัว
ประสิทธิภาพที่มากขึ้นด้วยการปรับเทียบเครื่องมืออัตโนมัติในเวลากลางคืน
ฟังก์ชันการแจ้งเตือนการบำรุงรักษาช่วยให้มั่นใจถึงการบำรุงรักษาที่เหมาะสมในเวลาที่กำหนด
18 ตัวอย่างมาตรฐานในตัวสำหรับการสอบเทียบ
ฟังก์ชันแจ้งเตือนการบำรุงรักษา "เครื่องมือสนับสนุนลูกค้า"
Schottky Plus FEG ในเลนส์บน JXA-iHP200F
Schottky Plus FEG ในเลนส์ให้ความละเอียดสูงที่แรงดันไฟฟ้าเร่งต่ำ ทำให้สามารถถ่ายภาพ SEM ที่มีความละเอียดเชิงพื้นที่สูงและวิเคราะห์ด้วยกำลังขยายสูง ปืนปล่อยความร้อนซึ่งให้กระแสโพรบขนาดใหญ่ที่มีความเสถียรสูงในระยะเวลานาน เหมาะสำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบการติดตามอย่างรวดเร็วและสำหรับการวิเคราะห์ตัวอย่างหลายชิ้นในชั่วข้ามคืน
ลิงค์
ข่าวประชาสัมพันธ์ (2019/11/13)
JXA-iHP200F/JXA-iSP100 เนื้อหาพิเศษ
ดาวน์โหลดแคตตาล็อก
JXA-iHP200F Field Emission Electron Probe เครื่องวิเคราะห์ไมโครวิเคราะห์ (FE-EPMA)
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน JXA-iHP200F
รูปภาพ
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์แบบอ่อน (SXES)
Soft X-Ray Emission Spectrometer (SXES) เป็นสเปกโตรมิเตอร์ความละเอียดสูงพิเศษที่ประกอบด้วยตะแกรงเลี้ยวเบนแสงที่พัฒนาขึ้นใหม่และกล้อง X-ray CCD ความไวสูง เช่นเดียวกับ EDS การตรวจจับแบบขนานสามารถทำได้ และการวิเคราะห์ความละเอียดพลังงานสูงพิเศษ 0.3 eV (มาตรฐาน Fermi-edge, Al-L) สามารถทำได้ ซึ่งเหนือกว่าความละเอียดด้านพลังงานของ WDS
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป