การปล่อยรังสีเอกซ์แบบนุ่มนวล
สเปกโตรมิเตอร์ (SXES)
Soft X-Ray Emission Spectrometer (SXES) เป็นสเปกโตรมิเตอร์ความละเอียดสูงพิเศษที่ประกอบด้วยตะแกรงเลี้ยวเบนแสงที่พัฒนาขึ้นใหม่และกล้อง X-ray CCD ความไวสูง
เช่นเดียวกับ EDS การตรวจจับแบบขนานสามารถทำได้ และการวิเคราะห์ความละเอียดพลังงานสูงพิเศษ 0.3 eV (มาตรฐาน Fermi-edge, Al-L) สามารถทำได้ ซึ่งเหนือกว่าความละเอียดด้านพลังงานของ WDS
คุณสมบัติ
Youtube
คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน และภาพยนตร์จะเริ่มขึ้น (เป็นเวลา 4 นาที)
โครงร่างระบบ
การออกแบบระบบออปติคัลสเปกโตรมิเตอร์ที่พัฒนาขึ้นใหม่ช่วยให้สามารถตรวจวัดสเปกตรัมพร้อมกันด้วยพลังงานที่แตกต่างกัน โดยไม่ต้องเคลื่อนย้ายตะแกรงหรือเครื่องตรวจจับการเลี้ยวเบน (CCD) ด้วยความละเอียดพลังงานสูง การทำแผนที่การวิเคราะห์สถานะทางเคมีสามารถทำได้
การเปรียบเทียบ SXES, WDS และ EDS
สเปกตรัมสำหรับไททาเนียมไนไตรด์ด้วยวิธีการสเปกโตรมิเตอร์แบบต่างๆ
สำหรับไทเทเนียมไนไตรด์ พีคของ N-Kα และ Ti-Ll จะทับซ้อนกัน แม้แต่กับ WDS และการแปลงรูปคลื่นโดยใช้วิธีการทางคณิตศาสตร์ก็เป็นสิ่งจำเป็น ดังที่แสดงในภาพด้านล่าง มีความละเอียดด้านพลังงานสูงด้วย SXES ทำให้สามารถสังเกต TiLl ได้
ตารางเปรียบเทียบ
| คุณสมบัติ (Feature) | SXES | EPMA (WDS) | EDS |
|---|---|---|---|
| ความละเอียด | 0.3 eV
(Fermi ขอบ Al-L) |
8 eV (FWHM@Fe-K) | 120-130 อีวี
(FWHM@Mn-K) |
| การวิเคราะห์สถานะพันธะเคมี | มี (ใบกำกับภาษีเต็มรูปแบบ) | ใช่ (ส่วนใหญ่เป็นองค์ประกอบแสง) | ไม่ |
| การตรวจจับแบบขนาน | มี (ใบกำกับภาษีเต็มรูปแบบ) | ไม่
(แต่เป็นไปได้หลายสเปกโตรมิเตอร์) |
มี (ใบกำกับภาษีเต็มรูปแบบ) |
| องค์ประกอบสเปกตรัมและเครื่องตรวจจับ | ตะแกรงเลี้ยวเบน＋CCD | วิเคราะห์คริสตัล + ตัวนับสัดส่วน | SDD |
| เครื่องตรวจจับความเย็น | เพลเทียร์คูลลิ่ง | ไม่ต้องการ | เพลเทียร์คูลลิ่ง |
| ขีด จำกัด การตรวจจับ
(ค่าอ้างอิงด้วย B) |
20ppm | 100ppm | 5000ppm |
ตัวอย่างการวิเคราะห์แบตเตอรี่ Li-ion (LIB)
ตัวอย่างด้านล่างแสดงแผนที่พื้นที่ขนาดใหญ่ของตัวอย่าง LIB ที่มีสถานะการชาร์จต่างกัน SXES สามารถจับคู่จุดสูงสุดของ Li-K ได้ทั้งที่สถานะแถบเวเลนซ์ (ซ้าย) และสถานะกราวด์ (ตรงกลาง) แผนที่การกระจายคาร์บอน (ขวา) ยังสามารถเห็นฟังก์ชันบน LIB ที่คายประจุจนหมด
สเปกตรัมของตัวอย่าง Li-K ที่ชาร์จเต็มแล้ว
หมายเหตุ: ใน Li-oxide ตรวจพบการปล่อย Li-K ได้ยาก
ตัวอย่างการวัดองค์ประกอบแสง
การวัดสารประกอบคาร์บอนโดยใช้ SXES
สามารถวัดความแตกต่างระหว่างเพชร กราไฟต์ และพอลิเมอร์ได้ สามารถสังเกตความแตกต่างได้ด้วยพีคเพิ่มเติมจากการประสาน π และ σ เนื่องจากการทำแผนที่ใช้สเปกตรัมจากแต่ละพิกเซล สามารถสร้างแผนที่เพิ่มเติมสำหรับการเปลี่ยนแปลงสูงสุด 1 eV และจุดสูงสุดไหล่
การวัดสารประกอบไนโตรเจนต่างๆ
สำหรับไนโตรเจนเช่นกัน สามารถวิเคราะห์สถานะพันธะเคมีได้จากรูปร่างสูงสุดของสเปกตรัม รูปร่างพีคของไนเตรตและไนไตรด์แตกต่างกันโดยสิ้นเชิง และยังสามารถสังเกตรูปร่างยอดเฉพาะของเกลือแอมโมเนียมได้ ซึ่งไวต่อลำแสงมาก
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
ความละเอียดพลังงาน 0.3eV (สเปกตรัม Al-L วัดได้ ＠73eV)
ช่วงพลังงานที่ได้มา: Diffraction grating JS50XL ภูมิภาคพลังงาน 50-170eV
ช่วงพลังงานที่ได้มา: Diffraction grating JS200N ภูมิภาคพลังงาน 70-210eV
จุดติดตั้งห้องสเปกโตรมิเตอร์:
EPMA WDSport: พอร์ต No.2 (ด้านขวาจากด้านหน้า)
พอร์ต FE-SEM WDS (ด้านหลังซ้ายจากด้านหน้า)
ขนาดสเปกโตรมิเตอร์: กว้าง 168 มม. ×ลึก 348 มม. ×สูง 683 มม
ระยะทางรวมทั้ง CCD จากอินเทอร์เฟซ
มวลสเปกโตรมิเตอร์ 25kg
รูปแบบที่ใช้งานได้
อีพีเอ็มเอ: เจเอ็กซ์เอ-iHP200F,JXA-iSP100,เจเอ็กซ์เอ-8530เอฟพลัส,เจเอ็กซ์เอ-8530เอฟ,เจเอ็กซ์เอ-8230
SEM: FE-SEM
ดาวน์โหลดแคตตาล็อก
สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์แบบอ่อน (SXES)
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน SXES_SA
คู่มือการใช้เครื่องสเปกโตรมิเตอร์การปล่อยรังสีเอกซ์อ่อน
กรุณาตรวจสอบที่นี่สำหรับรายละเอียด
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
JXA-iHP200F Field Emission Electron Probe เครื่องวิเคราะห์ไมโครวิเคราะห์ (FE-EPMA)
Electron Probe Microanalyzer (EPMA) ถูกใช้เป็นเครื่องมือในการพัฒนางานวิจัยและการประกันคุณภาพในด้านอุตสาหกรรมที่หลากหลาย เช่น เหล็ก รถยนต์ ส่วนประกอบไฟฟ้า วัสดุแบตเตอรี่ และการใช้งานกำลังขยายตัวมากขึ้นเรื่อยๆ นอกจากนี้ ในสาขาวิชาการ EMPA ยังถูกใช้อย่างกว้างขวางในวิทยาศาสตร์ดาวเคราะห์โลกและวัสดุศาสตร์ และคาดว่าจะสามารถนำไปใช้ในอนาคตได้ รวมถึงงานวิจัยขั้นสูงต่างๆ ที่ครอบคลุมการวิจัยพลังงานวัสดุ เช่น แร่ธาตุและวัสดุใหม่ต่างๆ ในการตอบสนอง การใช้เครื่องมือที่ "ง่ายกว่า" และ "เร็วกว่า" ซึ่งทุกคนสามารถเข้าถึงได้จึงเป็นที่ต้องการ ในขณะที่ยังคงรักษาประสิทธิภาพในการวิเคราะห์ระดับจุลภาคไว้ได้ JXA-iHP200F และ JXA-iSP100 ถูกรวม EPMA เข้ากับคุณสมบัติที่ได้รับการปรับปรุง ตอบสนองความต้องการเหล่านี้ และบรรลุการดำเนินงานที่มีประสิทธิภาพมากขึ้น จากการสังเกตไปจนถึงการวิเคราะห์
※ EPMA เป็นตัวย่อของ Electron Probe Microanalyzer
เครื่องวิเคราะห์ไมโครโพรบอิเล็กตรอน JXA-iSP100 (EPMA)
Electron Probe Microanalyzer (EPMA) ถูกใช้เป็นเครื่องมือในการพัฒนางานวิจัยและการประกันคุณภาพในด้านอุตสาหกรรมที่หลากหลาย เช่น เหล็ก รถยนต์ ส่วนประกอบไฟฟ้า วัสดุแบตเตอรี่ และการใช้งานกำลังขยายตัวมากขึ้นเรื่อยๆ นอกจากนี้ ในสาขาวิชาการ EMPA ยังถูกใช้อย่างกว้างขวางในวิทยาศาสตร์ดาวเคราะห์โลกและวัสดุศาสตร์ และคาดว่าจะสามารถนำไปใช้ในอนาคตได้ รวมถึงงานวิจัยขั้นสูงต่างๆ ที่ครอบคลุมการวิจัยพลังงานวัสดุ เช่น แร่ธาตุและวัสดุใหม่ต่างๆ ในการตอบสนอง การใช้เครื่องมือที่ "ง่ายกว่า" และ "เร็วกว่า" ซึ่งทุกคนสามารถเข้าถึงได้จึงเป็นที่ต้องการ ในขณะที่ยังคงรักษาประสิทธิภาพในการวิเคราะห์ระดับจุลภาคไว้ได้ JXA-iHP200F และ JXA-iSP100 ถูกรวม EPMA เข้ากับคุณสมบัติที่ได้รับการปรับปรุง ตอบสนองความต้องการเหล่านี้ และบรรลุการดำเนินงานที่มีประสิทธิภาพมากขึ้น จากการสังเกตไปจนถึงการวิเคราะห์
รุ่น JSM-IT810 Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope
ความคล่องตัวและความละเอียดเชิงพื้นที่สูงผสานการทำงานอัตโนมัติกับ FE-SEM ซีรีส์ JSM-IT810 ระบบอัตโนมัติที่ไม่ต้องเข้ารหัสสำหรับการถ่ายภาพและการวิเคราะห์ EDS ถูกสร้างขึ้นเพื่อเวิร์กโฟลว์ที่มีประสิทธิภาพและคล่องตัว มีฟังก์ชันใหม่ๆ ให้เลือกใช้เพื่อรับรองข้อมูลที่มีคุณภาพสูงและประสบการณ์การใช้งานที่ดียิ่งขึ้นสำหรับผู้ใช้ SEM ทุกคน ฟังก์ชันต่างๆ ได้แก่ แพ็คเกจปรับอัตโนมัติของ SEM ฟังก์ชันการแก้ไขรูปสี่เหลี่ยมคางหมู (มีประโยชน์สำหรับการวัด EBSD) และการสร้างพื้นผิว 3D แบบสดสำหรับการสังเกตลักษณะภูมิประเทศของพื้นผิว การใช้งาน FE SEM ไม่เคยง่ายอย่างนี้มาก่อนด้วยซีรีส์ JSM-IT810
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป