การปล่อยรังสีเอกซ์แบบนุ่มนวล
สเปกโตรมิเตอร์ (SXES)
Soft X-Ray Emission Spectrometer (SXES) เป็นสเปกโตรมิเตอร์ความละเอียดสูงพิเศษที่ประกอบด้วยตะแกรงเลี้ยวเบนแสงที่พัฒนาขึ้นใหม่และกล้อง X-ray CCD ความไวสูง
เช่นเดียวกับ EDS การตรวจจับแบบขนานสามารถทำได้ และการวิเคราะห์ความละเอียดพลังงานสูงพิเศษ 0.3 eV (มาตรฐาน Fermi-edge, Al-L) สามารถทำได้ ซึ่งเหนือกว่าความละเอียดด้านพลังงานของ WDS
คุณสมบัติ
Youtube
คลิกปุ่ม "เล่นซ้ำ" ในช่องด้านบน และภาพยนตร์จะเริ่มขึ้น (เป็นเวลา 4 นาที)
โครงร่างระบบ
การออกแบบระบบออปติคัลสเปกโตรมิเตอร์ที่พัฒนาขึ้นใหม่ช่วยให้สามารถตรวจวัดสเปกตรัมพร้อมกันด้วยพลังงานที่แตกต่างกัน โดยไม่ต้องเคลื่อนย้ายตะแกรงหรือเครื่องตรวจจับการเลี้ยวเบน (CCD) ด้วยความละเอียดพลังงานสูง การทำแผนที่การวิเคราะห์สถานะทางเคมีสามารถทำได้
การเปรียบเทียบ SXES, WDS และ EDS
สเปกตรัมสำหรับไททาเนียมไนไตรด์ด้วยวิธีการสเปกโตรมิเตอร์แบบต่างๆ
สำหรับไทเทเนียมไนไตรด์ พีคของ N-Kα และ Ti-Ll จะทับซ้อนกัน แม้แต่กับ WDS และการแปลงรูปคลื่นโดยใช้วิธีการทางคณิตศาสตร์ก็เป็นสิ่งจำเป็น ดังที่แสดงในภาพด้านล่าง มีความละเอียดด้านพลังงานสูงด้วย SXES ทำให้สามารถสังเกต TiLl ได้
ตารางเปรียบเทียบ
| ลักษณะ | SXES | EPMA (WDS) | EDS |
|---|---|---|---|
| ความละเอียด | 0.3 eV
(Fermi ขอบ Al-L) |
8 eV (FWHM@Fe-K) | 120-130 อีวี
(FWHM@Mn-K) |
| การวิเคราะห์สถานะพันธะเคมี | ใช่ | ใช่ (ส่วนใหญ่เป็นองค์ประกอบแสง) | ไม่ |
| การตรวจจับแบบขนาน | ใช่ | ไม่
(แต่เป็นไปได้หลายสเปกโตรมิเตอร์) |
ใช่ |
| องค์ประกอบสเปกตรัมและเครื่องตรวจจับ | ตะแกรงเลี้ยวเบน＋CCD | วิเคราะห์คริสตัล + ตัวนับสัดส่วน | SDD |
| เครื่องตรวจจับความเย็น | เพลเทียร์คูลลิ่ง | ไม่ต้องการ | เพลเทียร์คูลลิ่ง |
| ขีด จำกัด การตรวจจับ
(ค่าอ้างอิงด้วย B) |
20ppm | 100ppm | 5000ppm |
ตัวอย่างการวิเคราะห์แบตเตอรี่ Li-ion (LIB)
ตัวอย่างด้านล่างแสดงแผนที่พื้นที่ขนาดใหญ่ของตัวอย่าง LIB ที่มีสถานะการชาร์จต่างกัน SXES สามารถจับคู่จุดสูงสุดของ Li-K ได้ทั้งที่สถานะแถบเวเลนซ์ (ซ้าย) และสถานะกราวด์ (ตรงกลาง) แผนที่การกระจายคาร์บอน (ขวา) ยังสามารถเห็นฟังก์ชันบน LIB ที่คายประจุจนหมด
สเปกตรัมของตัวอย่าง Li-K ที่ชาร์จเต็มแล้ว
หมายเหตุ: ใน Li-oxide ตรวจพบการปล่อย Li-K ได้ยาก
ตัวอย่างการวัดองค์ประกอบแสง
การวัดสารประกอบคาร์บอนโดยใช้ SXES
สามารถวัดความแตกต่างระหว่างเพชร กราไฟต์ และพอลิเมอร์ได้ สามารถสังเกตความแตกต่างได้ด้วยพีคเพิ่มเติมจากการประสาน π และ σ เนื่องจากการทำแผนที่ใช้สเปกตรัมจากแต่ละพิกเซล สามารถสร้างแผนที่เพิ่มเติมสำหรับการเปลี่ยนแปลงสูงสุด 1 eV และจุดสูงสุดไหล่
การวัดสารประกอบไนโตรเจนต่างๆ
สำหรับไนโตรเจนเช่นกัน สามารถวิเคราะห์สถานะพันธะเคมีได้จากรูปร่างสูงสุดของสเปกตรัม รูปร่างพีคของไนเตรตและไนไตรด์แตกต่างกันโดยสิ้นเชิง และยังสามารถสังเกตรูปร่างยอดเฉพาะของเกลือแอมโมเนียมได้ ซึ่งไวต่อลำแสงมาก
ข้อบ่งชี้จำเพาะ
ความละเอียดพลังงาน 0.3eV (สเปกตรัม Al-L วัดได้ ＠73eV)
ช่วงพลังงานที่ได้มา: Diffraction grating JS50XL ภูมิภาคพลังงาน 50-170eV
ช่วงพลังงานที่ได้มา: Diffraction grating JS200N ภูมิภาคพลังงาน 70-210eV
จุดติดตั้งห้องสเปกโตรมิเตอร์:
EPMA WDSport: พอร์ต No.2 (ด้านขวาจากด้านหน้า)
พอร์ต FE-SEM WDS (ด้านหลังซ้ายจากด้านหน้า)
ขนาดสเปกโตรมิเตอร์: กว้าง 168 มม. ×ลึก 348 มม. ×สูง 683 มม
ระยะทางรวมทั้ง CCD จากอินเทอร์เฟซ
มวลสเปกโตรมิเตอร์ 25kg
รูปแบบที่ใช้งานได้
EPMA：JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200
SEM ： JSM-7800F, JSM-7800 ไพรม์, JSM-7100F
ดาวน์โหลดแคตตาล็อก
สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์แบบอ่อน (SXES)
การใช้งาน
แอปพลิเคชัน SXES_SA
คู่มือ Soft X-ray Emission Spectra เวอร์ชัน 7.0 (ธ.ค. 2021)
การวิเคราะห์สถานะทางเคมีโดย Soft X-ray Emission Spectroscopy
คู่มือ SXES
กรุณาตรวจสอบที่นี่สำหรับรายละเอียด
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
JXA-8530F เครื่องวิเคราะห์อนุภาคอิเล็กตรอนแบบ Field Emission Microanalyzer
JEOL ปฏิวัติการวิเคราะห์พื้นผิวด้วย EPMA ที่มีปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนาม (FE) และตอนนี้ภูมิใจนำเสนอ FE-EPMA ที่อัปเกรดใหม่ JXA-8530F ทำงานบน PC Windows สำหรับการเก็บข้อมูลและการวิเคราะห์ในขณะที่ยังคงรักษาฮาร์ดแวร์อันทรงพลังของ JXA-8500F รวมถึงปืนอิเล็กตรอน FE, EOS และระบบสุญญากาศเพื่อให้ได้การวิเคราะห์พื้นที่ขนาดเล็กมาก การทำงานบนพีซีที่เป็นมิตรกับผู้ใช้ช่วยให้วิเคราะห์ได้อย่างรวดเร็วและง่ายดายด้วยกำลังขยายสูงสุด
JXA-iHP200F Field Emission Electron Probe เครื่องวิเคราะห์ไมโครวิเคราะห์ (FE-EPMA)
Electron Probe Microanalyzer (EPMA) ถูกใช้เป็นเครื่องมือในการพัฒนางานวิจัยและการประกันคุณภาพในด้านอุตสาหกรรมที่หลากหลาย เช่น เหล็ก รถยนต์ ส่วนประกอบไฟฟ้า วัสดุแบตเตอรี่ และการใช้งานกำลังขยายตัวมากขึ้นเรื่อยๆ นอกจากนี้ ในสาขาวิชาการ EMPA ยังถูกใช้อย่างกว้างขวางในวิทยาศาสตร์ดาวเคราะห์โลกและวัสดุศาสตร์ และคาดว่าจะมีส่วนร่วมในอนาคตกับการใช้งาน รวมถึงการวิจัยขั้นสูงต่างๆ ที่ครอบคลุมการวิจัยพลังงานวัสดุ เช่น แร่ธาตุและวัสดุใหม่ต่างๆ ในการตอบสนอง การใช้เครื่องมือที่ "ง่ายกว่า" และ "เร็วกว่า" ซึ่งทุกคนสามารถเข้าถึงได้จึงเป็นที่ต้องการ ในขณะที่ยังคงรักษาประสิทธิภาพในการวิเคราะห์ระดับไมโครเอาไว้ในระดับสูง
JXA-iHP200F และ JXA-iSP100 เป็น EPMA ที่ผสานรวมเข้ากับฟีเจอร์ที่ได้รับการปรับปรุง ตอบสนองความต้องการเหล่านี้ และบรรลุการดำเนินการที่มีประสิทธิภาพมากขึ้นตั้งแต่การสังเกตไปจนถึงการวิเคราะห์
EPMA เป็นตัวย่อของ Electron Probe Microanalyzer
JXA-8530FPlus Field Emission Electron Probe เครื่องวิเคราะห์ไมโคร
JEOL ได้จำหน่าย FE-EPMA เครื่องแรกของโลก นั่นคือ JXA-8500F ในปี 2003 FE-EPMA ที่ได้รับการยกย่องนี้มีการใช้กันอย่างแพร่หลายในด้านต่างๆ เช่น โลหะ วัสดุ และธรณีวิทยาทั้งในอุตสาหกรรมและวิชาการ JXA-8530FPlus เป็น FE-EPMA รุ่นที่สามที่มาพร้อมกับความสามารถในการวิเคราะห์และภาพที่ได้รับการปรับปรุง ปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนามในเลนส์ Schottky รวมกับซอฟต์แวร์ใหม่ให้ปริมาณงานที่สูงขึ้นในขณะที่ยังคงความเสถียรสูง ดังนั้นจึงช่วยให้สามารถใช้งาน EPMA ได้หลากหลายขึ้นด้วยความละเอียดสูงกว่า
JXA-8230 เครื่องวิเคราะห์ไมโครโพรบอิเล็กตรอน
การทำงานบนพีซีที่เป็นมิตรกับผู้ใช้
สามารถติดตั้ง EDS ซึ่งเป็นเครื่องตรวจจับเอ็กซ์เรย์อเนกประสงค์และใช้งานง่าย ระบบ WDS snd EDS ที่ผสมผสานกันทำให้เกิดสภาพแวดล้อมที่ราบรื่นและเป็นมิตรกับผู้ใช้สำหรับการวิเคราะห์
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป