คู่มือการใช้งาน Soft X-ray Emission Spectra เวอร์ชัน 8.0 (กรกฎาคม 2023)
Soft X-ray emission spectroscopy (SXES) ใช้ในการตรวจสอบผลกระทบจากสถานะของแข็ง ซึ่งเป็นสถานะพลังงานของอิเล็กตรอนที่สร้างพันธะ สเปกโทรสโกปีนี้เพิ่งรวมเข้ากับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) ที่ทันสมัย และนำไปใช้กับการวิเคราะห์เชิงจุลภาคของโพรบอิเล็กตรอนเชิงพาณิชย์ (EPMA) / กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) เนื่องจากมีการสั่นพ้องของอะตอมจำนวนมากในบริเวณพลังงานรังสีเอกซ์แบบอ่อน (< หลาย keV) การรวม SXES กับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนจึงเป็นเครื่องมือที่ละเอียดอ่อนสำหรับวิธีการจำแนกธาตุและสารเคมีโดยใช้กล้องจุลทรรศน์ ซึ่งทำให้มีโอกาสในการใช้งานที่หลากหลาย
มาซามิ เทราอูชิ1), มาซาโตะ โคอิเกะ1), ฮิเดยูกิ ทากาฮาชิ2), มาซารุ ทาคาคุระ2), ทากาโนริ มูราโนะ2) และโชโกะ โคชิยะ2)
IMRAM มหาวิทยาลัยโทโฮคุ1) และบริษัท JEOL จำกัด2)
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
สเปกโตรมิเตอร์เอ็กซ์เรย์แบบอ่อน (SXES)
Soft X-Ray Emission Spectrometer (SXES) เป็นสเปกโตรมิเตอร์ความละเอียดสูงพิเศษที่ประกอบด้วยตะแกรงเลี้ยวเบนแสงที่พัฒนาขึ้นใหม่และกล้อง X-ray CCD ความไวสูง
เช่นเดียวกับ EDS การตรวจจับแบบขนานสามารถทำได้ และการวิเคราะห์ความละเอียดพลังงานสูงพิเศษ 0.3 eV (มาตรฐาน Fermi-edge, Al-L) สามารถทำได้ ซึ่งเหนือกว่าความละเอียดด้านพลังงานของ WDS
あなたな、医療関係者ですか？
ไม่(前の画เลดี้に戻URE)
これ以降の製品情報ページHA、医療関係者を対象としています。
一般の方への情報提供を目的としたものでHAありませんので、ご了承ください。