ภาพ TEM ความละเอียดสูงโดย JEM-1400Flash

EM2020-11E

ระบบออปติคัลของ JEM-1400Flash สามารถถ่ายภาพที่ความละเอียดสูงพิเศษ 0.14 นาโนเมตร ในขณะที่มีช่วงการขยาย (กำลังขยายขั้นต่ำ: 10 เท่า) ที่สามารถถ่ายภาพตาข่ายตัวอย่างทั้งหมด (φ2 มม.) ด้วยกล้องเมาท์ด้านล่าง
เลนส์ใกล้วัตถุจะคลายความตื่นเต้นด้วยกำลังขยายที่ต่ำมาก เพื่อให้สามารถสังเกตตาข่ายตัวอย่างทั้งหมดได้ ในทางกลับกัน เมื่อใช้กำลังขยายสูง เลนส์ใกล้วัตถุจะตื่นเต้น และระนาบภาพที่สร้างขึ้นด้านล่างเลนส์ใกล้วัตถุจะถูกขยายด้วยเลนส์แสดงภาพ เพื่อให้สามารถขยายได้สูงสุด 1.5 ล้านเท่า (รูปที่ 1)
ในเวลานี้ เนื่องจากรูรับแสงของวัตถุถูกใส่เข้าไปในระนาบโฟกัสด้านหลังของเลนส์ใกล้วัตถุ จึงสามารถได้ภาพที่มีคอนทราสต์สูง
เพื่อให้ได้ภาพที่มีกำลังขยายต่ำหลายร้อยครั้งโดยที่เลนส์ใกล้วัตถุถูกกระตุ้น เลนส์ใกล้วัตถุขนาดเล็ก (OM) จะตื่นเต้นและระนาบของภาพจะลดลง (รูปที่ 2) ในกรณีนี้เช่นกัน รูรับแสงวัตถุประสงค์ที่กำหนดคอนทราสต์จะถูกแทรกลงในระนาบโฟกัสด้านหลัง ดังนั้นจึงสามารถรับคอนทราสต์เดียวกันได้จากกำลังขยายต่ำถึงสูง JEM-1400Flash สามารถเปลี่ยนกำลังขยายได้อย่างราบรื่นจากกำลังขยายต่ำมากเป็นกำลังขยายสูงสุด 1.5 ล้านครั้งโดยไม่ต้องหมุนภาพ และสามารถสังเกตด้วยคอนทราสต์สูงได้ตลอดเวลา
แสดงภาพ TEM ความละเอียดสูงที่ถ่ายด้วย JEM-1400Flash ซึ่งมีระบบออปติคัลที่สามารถรับภาพกำลังขยายต่ำและภาพกำลังขยายสูงได้อย่างง่ายดาย (รูปที่ 3)