ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด A ถึง Z

ความรู้พื้นฐานสำหรับการใช้ SEM

ตั้งแต่กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) เริ่มจำหน่ายครั้งแรกเมื่อประมาณ 40 ปีที่แล้ว SEM ได้แสดงให้เห็นถึงความก้าวหน้าที่โดดเด่น ขณะนี้มีการใช้ SEM หลายประเภท และประสิทธิภาพและฟังก์ชันแตกต่างกันมาก ในการใช้ประโยชน์จาก SEM ที่แตกต่างกันเหล่านี้ จำเป็นอย่างยิ่งที่จะต้องรู้จักคุณลักษณะของ SEM ตลอดจนเข้าใจสาเหตุของความเปรียบต่างของภาพ SEM ดังนั้น เอกสารนี้จึงมุ่งเป้าไปที่การช่วยให้ผู้ใช้ SEM และผู้ใช้ SEM ในอนาคตเข้าใจพื้นฐานของ SEM รวมถึงหลักการของเครื่องมือ การเตรียมชิ้นงานทดสอบ และการวิเคราะห์องค์ประกอบ
โปรดดูไฟล์ PDF สำหรับข้อมูลเพิ่มเติม
หน้าต่างอื่นจะเปิดขึ้นเมื่อคุณคลิก

PDF652KB
ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา