การวิเคราะห์สว่านของ CP Cross Section

CP ผลิตภาพตัดขวางที่กว้างและสะอาดจากตัวอย่างจำนวนมาก เพื่อให้ผู้ปฏิบัติงานศึกษาโครงสร้างที่ละเอียดยิ่งขึ้นและการสังเกตข้อบกพร่อง สเปกโทรสโกปีอิเล็กตรอนของสว่านใช้สำหรับการวิเคราะห์พื้นที่ขนาดเล็กที่มีเส้นผ่านศูนย์กลาง 100 นาโนเมตรของหน้าตัด CP