การประเมินกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดความละเอียดสูงที่ใช้กับวัสดุที่มีรูพรุน

วัสดุที่มีรูพรุนระดับนาโน เช่น ซีโอไลต์และผลึกซิลิกามีโซพอรัสได้รับความสนใจอย่างมากในช่วงไม่กี่ปีที่ผ่านมา โดยเฉพาะอย่างยิ่ง การรวมตัวกันของวัสดุต่างๆ เช่น โมเลกุลอินทรีย์ หรืออนุภาคนาโนของโลหะและสารประกอบอนินทรีย์อื่นๆ ภายในรูพรุนของพวกมัน ซึ่งก่อให้เกิดการทำงานใหม่ที่น่าสนใจ สำหรับวัสดุดังกล่าว จำเป็นอย่างยิ่งที่จะต้องกำหนดโครงสร้าง องค์ประกอบ และกลไกการเติบโตเพื่อเพิ่มประโยชน์สูงสุดในการใช้งานในอนาคต ความก้าวหน้าล่าสุดในประสิทธิภาพของ SEM นั้นยิ่งใหญ่มาก โดยเฉพาะอย่างยิ่งในการถ่ายภาพพลังงานต่ำ ซึ่งตอนนี้เราสามารถสังเกตโครงสร้างพื้นผิวละเอียดของวัสดุที่มีรูพรุนได้โดยตรง แม้กระทั่งโครงสร้างที่เป็นฉนวนไฟฟ้า นอกจากนี้ ด้วยการกรองที่แม่นยำและการตรวจจับอิเล็กตรอนที่ปล่อยออกมาด้วยพลังงานของพวกมัน เราสามารถเลือกรับข้อมูลประเภทต่างๆ เช่น องค์ประกอบของวัสดุ ตำแหน่งของอนุภาคภายในหรือภายนอกรูพรุน เป็นต้น กระบวนการและเทคโนโลยีทางกายภาพที่อยู่เบื้องหลังการปรับแต่งการลงจอดและการตรวจจับที่แม่นยำนี้ พลังงานสำหรับทั้งอิเลคตรอนที่ตกกระทบและอิเลคตรอนที่ปล่อยออกมา ตามลำดับ ได้รับการอธิบายและแสดงภาพโดยใช้วัสดุที่มีรูพรุนจำนวนหนึ่ง ซึ่งรวมถึงซีโอไลต์ LTA, SBA-15, SBA-16, ซีโอไลต์ LTL, FDU-16 และ Au@TiO2 'rattle spheres' พร้อมกับการเปรียบเทียบ ด้วยเทคนิคอื่นๆ เช่น กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) เราสรุปได้ว่า โดยการใช้พลังงานลงจอดที่ต่ำมาก เทคนิคการเตรียมตัวอย่างขั้นสูง และผ่านความเข้าใจอย่างถ่องแท้เกี่ยวกับกระบวนการทางกายภาพที่เกี่ยวข้อง HRSEM กำลังให้ข้อมูลและมุมมองใหม่ที่ไม่ซ้ำใครเกี่ยวกับวัสดุที่มีความสำคัญทางอุตสาหกรรมเหล่านี้