การประยุกต์ใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดเพื่อการถ่ายภาพความคลาดเคลื่อนในเหล็ก

การถ่ายภาพความคลาดเคลื่อนโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดพร้อมเลนส์ซูเปอร์ไฮบริดจะแสดงให้เห็นเพื่อตรวจสอบผนังเซลล์ที่เคลื่อนตัวและความคลาดเคลื่อนเดี่ยวภายในเซลล์ที่เกิดจากการเปลี่ยนรูปแบบแรงเฉือนในเหล็กทั่วไป ความละเอียดของความคลาดเคลื่อนด้วยวิธีการถ่ายภาพคอนทราสแชนเนลของอิเล็กตรอนนั้นคล้ายคลึงกับที่ได้จากการสังเกต TEM ทั่วไป และวิธีการใหม่สำหรับการศึกษาความคลาดเคลื่อนซึ่งเป็นไปได้ที่จะตรวจจับความแตกต่างของโครงสร้างจุลภาคที่เสียรูปจะถูกคาดหวังในมุมมองของ ข้อดีของเทคนิค SEM-BSE มีการกำหนดค่าภาพที่แตกต่างกันสองแบบสำหรับการทำ ECCI แบบหนึ่งคือรูปทรงเรขาคณิตกระจายด้านหน้า และอีกแบบหนึ่งเป็นแบบกระจายกลับ ในการศึกษาปัจจุบัน มีการใช้กรณีหลังซึ่งมีข้อดีสำหรับการจำกัดขนาดและรูปร่างของตัวอย่างเล็กน้อย และการใช้งานที่หลากหลายในการออกแบบสเตจใน SEM เนื่องจากมีการอภิปรายในกลไกความเปรียบต่าง การปรับปรุงเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจายกลับจะทำให้เรามีแนวคิดหลายประการสำหรับการประยุกต์ใช้กล้องจุลทรรศน์ในการศึกษาความคลาดเคลื่อนด้วยการผสมผสานระหว่างเทคนิค TEM แบบดั้งเดิม