ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

การวิเคราะห์พันธะเคมีที่ง่ายและสะดวกใน XPS

X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) ใช้กันอย่างแพร่หลายสำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบและการวิเคราะห์สถานะทางเคมีบนพื้นผิวของโลหะ วัสดุโพลิเมอร์ และสารกึ่งตัวนำ เนื่องจาก XPS ใช้รังสีเอกซ์เป็นแหล่งกระตุ้น ตัวอย่างจึงปราศจากการสะสมประจุและได้รับความเสียหายน้อยที่สุด นี่เป็นข้อดีข้อหนึ่งที่เหนือกว่าเครื่องวิเคราะห์พื้นผิวอื่นๆ ระบบคอมพิวเตอร์ใหม่สำหรับ XPS ได้รับการพัฒนาเพื่อเพิ่มประสิทธิภาพให้ดียิ่งขึ้น โครงร่างของระบบใหม่นี้มีดังต่อไปนี้
โปรดดูไฟล์ PDF สำหรับข้อมูลเพิ่มเติม
หน้าต่างอื่นจะเปิดขึ้นเมื่อคุณคลิก

PDF92.8KB

การแก้ปัญหาตามสาขา

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา