การวิเคราะห์พันธะเคมีที่ง่ายและสะดวกใน XPS
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) ใช้กันอย่างแพร่หลายสำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบและการวิเคราะห์สถานะทางเคมีบนพื้นผิวของโลหะ วัสดุโพลิเมอร์ และสารกึ่งตัวนำ เนื่องจาก XPS ใช้รังสีเอกซ์เป็นแหล่งกระตุ้น ตัวอย่างจึงปราศจากการสะสมประจุและได้รับความเสียหายน้อยที่สุด นี่เป็นข้อดีข้อหนึ่งที่เหนือกว่าเครื่องวิเคราะห์พื้นผิวอื่นๆ ระบบคอมพิวเตอร์ใหม่สำหรับ XPS ได้รับการพัฒนาเพื่อเพิ่มประสิทธิภาพให้ดียิ่งขึ้น โครงร่างของระบบใหม่นี้มีดังต่อไปนี้
-
โปรดดูไฟล์ PDF สำหรับข้อมูลเพิ่มเติม
หน้าต่างอื่นจะเปิดขึ้นเมื่อคุณคลิก -
PDF92.8KB
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
การแก้ปัญหาตามสาขา
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป