ภาพตัดขวางของยางยูรีเทนด้วยลำแสงไอออนแบบกว้าง Ar สำหรับการถ่ายภาพ SEM

การตัดขวางเชิงกลด้วยไมโครโทมถูกนำมาใช้กันอย่างแพร่หลายในการเตรียมวัสดุโพลิเมอร์สูงสำหรับการถ่ายภาพ SEM อย่างไรก็ตาม จำเป็นต้องมีทักษะที่ดีในการจัดการไมโครโทมสำหรับวัสดุพอลิเมอร์ที่มีน้ำหนักโมเลกุลสูงซึ่งมีระดับความแข็งค่อนข้างต่ำ เมื่อเร็ว ๆ นี้มีการเสนอเทคนิคการตัดขวางใหม่โดยใช้ลำแสงไอออนอาร์กอนแบบกว้าง ซึ่งพิสูจน์ประสิทธิภาพของมันสำหรับวัสดุหลากหลายชนิด 1] อุปกรณ์นี้มีกระบวนการตัดขวางแบบอัตโนมัติ ใช้งานง่ายและสร้างตัวอย่างที่ต้องการได้อย่างสม่ำเสมอ อย่างไรก็ตาม เทคนิคนี้สร้างความร้อนจากการฉายรังสีในระหว่างกระบวนการกัด ดังนั้นจึงไม่เหมาะสำหรับวัสดุพอลิเมอร์ที่มีน้ำหนักโมเลกุลสูงและมีความต้านทานความร้อนต่ำ[2] เราได้ออกแบบเทคนิคเพื่อขจัดผลกระทบจากความร้อน ซึ่งตัวอย่างจะถูกประกบระหว่างแผ่นซิลิโคนสำหรับการกัด และจะกล่าวถึงประสิทธิภาพของมันด้านล่าง