ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha ความไวในก๊าซตัวพาไนโตรเจน XNUMX - แหล่งกำเนิดไอออน EI / FI [การประยุกต์ใช้งาน GC-TOFMS]

MSTips หมายเลข 375

บทนำ

เนื่องจากการขาดแคลนก๊าซฮีเลียมทั่วโลก ความต้องการก๊าซทางเลือกสำหรับก๊าซพาหะ GC-MS จึงเพิ่มขึ้น ก๊าซไนโตรเจนเป็นก๊าซที่เหมาะสมที่สุดเนื่องจากมีจำหน่ายและมีความปลอดภัยสูง แต่เป็นที่ทราบกันดีว่าอิทธิพลของไอออนไนโตรเจนที่สร้างจากแหล่งไอออนของ MS ทำให้ความไวลดลง ดังนั้นเราจึงตรวจสอบอิทธิพลของก๊าซพาหะไนโตรเจนที่มีต่อ JMS-T2000 GC AccuTOF™ GC-Alpha และรายงาน MSTips No. 374-376 รายงานนี้แสดงผลของแหล่งกำเนิดไอออนแบบผสมผสาน EI (อิเลคตรอนไอออนไนซ์) / FI (ฟิลด์ไอออไนเซชัน) ซึ่งเป็นหนึ่งในแหล่งกำเนิดไอออนหลายไอออนที่มีลักษณะเฉพาะของ JMS-T2000 GC AccuTOF™ GC-Alpha

การวัด

ตารางที่ 1 แสดงรายละเอียดของเงื่อนไขการวัดในการทดลองนี้ ในวิธี EI ฉีด 1 ไมโครลิตรของ OFN (ออกตาฟลูออโรนาพทาลีน) 100 pg / ไมโครลิตร ในวิธีการ FI ฉีด 1 ไมโครลิตรของเฮกซะเดเคน 10 นาโนกรัม / ไมโครลิตร ฮีเลียมและไนโตรเจนถูกใช้เป็นก๊าซพาหะ และเปรียบเทียบความไวของ S/N ความคล้ายคลึงกันกับไลบรารีสเปกตรัม (MF) และความแม่นยำของมวล (ข้อผิดพลาด) ของไอออนโมเลกุล อัตราการไหลของก๊าซตัวพาถูกกำหนดเป็น 1.0 มล. / นาทีในฮีเลียมและ 0.55 มล. / นาทีในไนโตรเจน ตามความเร็วเชิงเส้นที่เหมาะสมของก๊าซตัวพาแต่ละชนิด พลังงานไอออไนเซชันในวิธี EI ถูกวัดที่ 20 eV ซึ่งคาดว่าจะยับยั้งการแตกตัวเป็นไอออนของไนโตรเจน นอกเหนือจาก 70 eV ทั่วไป

ตารางที่ 1 เงื่อนไขการวัด

GC : 8890GC (บริษัท Agilent Technologies, Inc.)
ปริมาณการฉีด 1 μL
โหมด แยกไม่ออก
คอลัมน์ DB-5MS UI
(บริษัท Agilent Technologies, Inc.)
30 ม. x 0.25 มม., 0.25μm
อุณหภูมิเตาอบ 40°C (1 นาที) - 30°C/นาที
-250 องศาเซลเซียส (2 นาที)
การไหลของผู้ให้บริการ เขา : 1.0 มล./นาที
N2 : 0.55 มล./นาที
TOFMS : JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-อัลฟ่า
แหล่งกำเนิดไอออน แหล่งกำเนิดไอออนรวม EI/PI
การทำให้เป็นละออง XNUMXEI, XNUMXFI
EI พลังงานไอออไนเซชัน
(กระแสไฟ)
70eV (300μA), 20eV (200μA)
ช่วงมวล ม./ซ 35-600
เครื่องตรวจจับแรงดันไฟฟ้า 2600V

ผลลัพธ์ ① วิธี EI

รูปที่ 1 แสดงไอออนโครมาโตแกรมที่แยกออกมา (ม./ซ 272.98 ± 0.10) ของผลการวัด OFN ในวิธี EI ความไวลดลงประมาณ 1/3 ในไนโตรเจน (70 eV) เนื่องจากแหล่งกำเนิดไอออนที่ใช้ร่วมกัน EI / FI มีโครงสร้างเปิดโดยไม่มีห้อง การกักเก็บไนโตรเจนในแหล่งกำเนิดไอออนจึงมีน้อย ดังนั้นจึงถือว่าอิทธิพลของไนโตรเจนไอออนมีน้อยและความไวลดลงก็ถูกระงับ ในไนโตรเจน (20eV) ซึ่งคาดว่าจะระงับการลดลงของความไว ความไวจะลดลงอีก ได้รับการยืนยันว่าไม่จำเป็นต้องเปลี่ยนพลังงานไอออไนเซชันในแหล่งกำเนิดไอออน EI / FI

รูปที่ 1 EICs ของ OFN (วิธี EI)

รูปที่ 1 EICs ของ OFN (วิธี EI)

รูปที่ 2 แสดงแมสสเปกตรัมของผลการวัด OFN ในวิธี EI ความคล้ายคลึงกันกับไลบรารีสเปกตรัม (MF) นั้นดีที่ 800 หรือมากกว่าในฮีเลียม (70eV) และไนโตรเจน (70eV) ลดลงเหลือประมาณ 590 ในไนโตรเจน (20eV) ) เนื่องจากการแตกตัวเป็นไอออนพลังงานต่ำจะยับยั้งชิ้นส่วนและเปลี่ยนสเปกตรัม ข้อผิดพลาดมวลของโมเลกุลไอออน M- (ม./ซ 271.9867) คือ 1 มิลลิดาตันหรือน้อยกว่าในฮีเลียม (70 eV) ลดลงเหลือ 2 mDa หรือน้อยกว่าในไนโตรเจน (70 eV) และไนโตรเจน (20 eV)

รูปที่ 2 สเปกตรัมมวลของ OFN (วิธี EI)

รูปที่ 2 สเปกตรัมมวลของ OFN (วิธี EI)

ผลลัพธ์ ② วิธี FI

รูปที่ 3 แสดงไอออนโครมาโตแกรมที่แยกออกมา (ม./ซ 226.26 ± 0.10) ของผลการวัดเฮกซาเดเคนในวิธี FI ความไวเกือบเท่ากันในฮีเลียมและไนโตรเจน เนื่องจากไนโตรเจนแทบจะไม่แตกตัวเป็นไอออนในวิธี FI ซึ่งเป็นไอออนไนซ์แบบอ่อน ความไวที่ลดลงจึงถูกระงับ

รูปที่ 3 EICs ของ hexadecane (วิธี FI)

รูปที่ 3 EICs ของ hexadecane (วิธี FI)

รูปที่ 4 แสดงแมสสเปกตรัมของผลการวัดเฮกซาเดเคนในวิธี FI ข้อผิดพลาดมวลของโมเลกุลไอออน M- (ม./ซ 226.2655) มีค่า 2 mDa หรือน้อยกว่าในผลลัพธ์ทั้งสอง

รูปที่ 4 สเปกตรัมมวลของเฮกซาเดเคน (วิธี FI)

รูปที่ 4 สเปกตรัมมวลของเฮกซาเดเคน (วิธี FI)

สรุป

มีการตรวจสอบอิทธิพลของตัวพาไนโตรเจนต่อแหล่งกำเนิดไอออนแบบรวม EI / FI ของ JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha ในวิธี EI ความไวลดลงเหลือประมาณ 1/3 ในวิธี FI ความไวไม่ได้ลดลง ข้อผิดพลาดเชิงมวลของไอออนโมเลกุลมีค่าเท่ากับ 2 mDa หรือน้อยกว่าทั้งในวิธี EI และวิธี FI

LINK

แอปพลิเคชัน GC-TOFMS

โปรดดูไฟล์ PDF สำหรับข้อมูลเพิ่มเติม
หน้าต่างอื่นจะเปิดขึ้นเมื่อคุณคลิก

PDF518.6KB

การแก้ปัญหาตามสาขา

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา