สมุดบันทึกการประยุกต์ใช้วัสดุพอลิเมอร์ JMS-S3000 SpiralTOF™ ซีรีส์

นี่คือบทสรุปของบันทึกการใช้งานวัสดุพอลิเมอร์และบทความข่าวจาก JEOL News ซึ่งอ้างอิงจากข้อมูลที่ได้จากเครื่องวิเคราะห์มวลสารความละเอียดสูงพิเศษ JEOL MALDI-TOFMS รุ่น JMS-S3000 SpiralTOF™

โปรดดูไฟล์ PDF สำหรับข้อมูลเพิ่มเติม
หน้าต่างอื่นจะเปิดขึ้นเมื่อคุณคลิก

สารบัญ

โคโพลีเมอร์ / โคโอลิโกเมอร์ P1〜

• การวัด MALDI-TOFMS ความละเอียดสูงและการวิเคราะห์ KMD สำหรับการแสดงภาพพอลิเมอร์ที่แยกส่วนโดย LC แบบเฟสผกผัน (MSTips หมายเลข 503)
• การวิเคราะห์โพลีเอสเตอร์หลายองค์ประกอบโดยใช้ JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus3.0” และการวิเคราะห์ Kendrick Mass Defect (KMD) (MSTips หมายเลข 484)
• การวิเคราะห์อัตราส่วนองค์ประกอบ EO/PO ของโคพอลิเมอร์ EO-PO โดยใช้ JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus3.0" และ "msRepeatFinder" (MSTips หมายเลข 471)
• การวิเคราะห์โครงสร้างของโคพอลิเมอร์ EO-PO โดยใช้ MALDI-TOFMS และ NMR ความละเอียดสูง (MSTips No. 423)
• การวิเคราะห์องค์ประกอบของโคพอลิเมอร์ EO-PO โดยใช้ JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus2.0” และ “msRepeatFinder V6” (MSTips No. 399)
• พล็อต KMD “ฐานเศษส่วน” สำหรับโคโพลีเอสเตอร์โพลี(3-ไฮดรอกซีบิวไทเรต-โค-3-ไฮดรอกซีวาเลอเรต) ที่มีน้ำหนักโมเลกุลสูงตามการย่อยสลายด้วยด่างบนแผ่นและการวิเคราะห์ SpiralTOF™ (MSTips หมายเลข 284)
• การวิเคราะห์โคโพลีเมอร์สุ่ม EO-PO โดยใช้ HPLC และ MALDI SpiralTOF™ MS แบบธรรมดา (MSTips หมายเลข 203)
• ลักษณะโครงสร้างโดยละเอียดของโพลีเมอร์โดย MALDI-TOFMS พร้อมด้วยวิถีโคจรไอออนแบบเกลียว (Sato, H., JEOL News, 50, 46-52, 2015)
• การวิเคราะห์มวลสารความละเอียดสูง MALDI SpiralTOF และการวิเคราะห์ข้อบกพร่องของมวล Kendrick ถูกนำมาใช้ในการจำแนกลักษณะของโคพอลิเมอร์โพลี(เอทิลีน-โค-ไวนิลอะซิเตต) (Fouquet, T., Nakamura, S. & Sato, H., Rapid Commun. Mass Spectrom. 30, 973 - 981, 2016)

พอลิเมอร์ / โอลิโกเมอร์ P43〜

• การทดลองวิเคราะห์หมู่ปลายของโพลีคาร์บอเนตที่มีน้ำหนักโมเลกุลสูงถึง 100,000 โดยใช้การแยกแบบเตรียม SEC และ NewSpiralTOF™ (MSTips หมายเลข 527)
• การผสมผสาน JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus3.0" และโครมาโทกราฟีแบบแยกขนาดเพื่อวิเคราะห์หมู่ปลายของพอลิเมอร์สังเคราะห์ที่มีการกระจายตัวสูง และแสดงภาพการเปลี่ยนแปลงในหมู่ปลาย (MSTips หมายเลข 495)
• การประเมินการย่อยสลายด้วยรังสียูวีของโพลีเมอร์: การศึกษาโพลีเอทิลีนเทเรฟทาเลตโดยใช้ MALDI-TOFMS และ GC-TOFMS
• การวิเคราะห์เชิงอนุพันธ์ของพอลิเอทิลีนเทเรฟทาเลตที่สลายตัวด้วยรังสี UV โดยใช้ JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus2.0” และ “msRepeatFinder” (MSTips No. 422)
• การวิเคราะห์โครงสร้างของพอลิเอทิลีนเทเรฟทาเลตที่มีผลึกต่างกันโดยใช้ JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus 2.0” (MSTips No. 407)
• การวิเคราะห์กลุ่มปลายของโพลี(เมทิลเมทาคริเลต) โดยใช้ MALDI-TOFMS และ GC-TOFMS (MSTips No. 404)
• การวิเคราะห์ mPEG5K-ฟอสเฟตโดยใช้ JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus 2.0" (MSTips No. 402)
• การกำหนดองค์ประกอบองค์ประกอบของกลุ่มปลายโพลีเมอร์โดยใช้มวลที่แม่นยำ (MSTips No. 357)
• การวิเคราะห์โครงสร้างของสารลดแรงตึงผิวประจุลบในโหมดไอออนลบ MALDI โดยใช้ "SpiralTOF™-plus" (MSTips No. 333)
• การวิเคราะห์โพลีเมทิลเมทาคริเลตที่ย่อยสลายโดยการฉายรังสี UV โดยใช้ MALDI-TOFMS และไพโรไลซิส-GC-QMS ความละเอียดสูง (MSTips No. 324)
• การวิเคราะห์โพลีสไตรีนที่ย่อยสลายโดยการฉายรังสี UV โดยใช้ MALDI-TOFMS และไพโรไลซิส-GC-QMS ความละเอียดสูง (MSTips No. 322)
• การวิเคราะห์โครงสร้างของโพลีเอทิลีนเทเรฟทาเลตที่ผสมผสานวิธีการย่อยสลายอัลคาไลน์บนเพลตและแมสสเปกโตรมิเตอร์ตามเวลาการบินควบคู่ (MSTips No. 311)
• แผนภาพ KMD แบบ "ฐานเศษส่วน" สำหรับโพลีเอสเตอร์โพลี(3-ไฮดรอกซีบิวทิเรต) ที่มีน้ำหนักโมเลกุลสูง หลังจากการย่อยสลายด้วยด่างบนแผ่นและการวิเคราะห์ SpiralTOF™ (MSTips หมายเลข 283)
• การแสดงภาพช่องทางการแตกตัวของโพลีเอทิลีนออกไซด์ที่มีหมู่ปลายต่างกันโดยใช้ JMS-S3000 SpiralTOF™ พร้อมตัวเลือก TOF-TOF (MSTips หมายเลข 279)
• พล็อต “เศษที่เหลือของ KM” สำหรับพอลิเมอร์โดยใช้ msRepeatFinder: การแสดงสเปกตรัมมวลการแยกตัวที่เกิดจากการชนกันของพลังงานสูงที่เข้าใจง่ายซึ่งได้รับจาก SpiralTOF™/TOF (MSTips หมายเลข 270)
• พล็อต “เศษซากของ KM” สำหรับพอลิเมอร์โดยใช้ msRepeatFinder: การทำแผนที่องค์ประกอบในช่วงมวลกว้าง (MSTips ฉบับที่ 269)
• การวิเคราะห์โพลีเอทิลีนที่มีน้ำหนักโมเลกุลต่ำด้วยวิธีการปราศจากตัวทำละลายโดยใช้ JMS-S3000 “SpiralTOF™” (MSTips No. 235)
• การวิเคราะห์กาวไซยาโนอะคริเลตโดยใช้ JMS-S3000 “SpiralTOF™” ― การประยุกต์ใช้การวิเคราะห์แผนภาพความบกพร่องของมวลแบบ Kendrick ― (MSTips ฉบับที่ 220)
• การวัดค่ามาตรฐานอ้างอิง Dendritic MS
• การวิเคราะห์มาตรฐานโพลีสไตรีนน้ำหนักโมเลกุลสูงโดยใช้ JMS-S3000 SpiralTOF™ พร้อมตัวเลือก Linear TOF (MSTips No. 199)
• การวัดโพลีเมอร์สังเคราะห์ [1]: โพลีสไตรีน (MSTips No. 163)
• การวัดโพลีเมอร์สังเคราะห์ [2]: โพลีเมทิลเมทาคริเลต (MSTips No. 164)
• การวัดโพลีเมอร์สังเคราะห์ [3]: โพลีเอทิลีนไกลคอล (MSTips No. 165)

สารเติมแต่งโพลีเมอร์ P109〜

• การวิเคราะห์โครงสร้างของสารเติมแต่งพอลิเมอร์โดยใช้สเปกตรัมมวลที่เกิดจากการแตกตัวเนื่องจากการชนพลังงานสูงที่ได้จาก JMS-S3000 พร้อมตัวเลือก TOF/TOF (MSTips หมายเลข 254)
• MALDI สำหรับการวิเคราะห์โพลีเมอร์: โพลีเมอร์สังเคราะห์และสารเติมแต่ง (MSTips No. 205)

การถ่ายภาพแมสสเปกโตรเมทรี P115〜

• การวิเคราะห์การเสื่อมสภาพของฟิล์มโพลีเอทิลีนเทเรพทาเลตโดยการฉายรังสี UV โดยใช้แมสสเปกโตรเมทรีในการถ่ายภาพและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (HS05)
• การถ่ายภาพด้วยแมสสเปกโทรเมตรีเพื่อศึกษาการเสื่อมสภาพของโพลีเอทิลีนเทเรฟทาเลตโดยการฉายรังสี UV โดยใช้ JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus” (MSTips หมายเลข 307)
• วิธีการถ่ายภาพแมสสเปกโตรเมทรีสำหรับการแสดงภาพโพลีเมอร์สังเคราะห์รวมกับการวิเคราะห์ข้อบกพร่องมวล Kendrick (MSTips No. 306)
• วิธีการถ่ายภาพแมสสเปกโตรเมทรีสำหรับการแสดงภาพโพลีเมอร์สังเคราะห์โดยใช้น้ำหนักโมเลกุลเฉลี่ยและการกระจายตัวของโพลีเป็นดัชนี (MSTips หมายเลข 305)
• การถ่ายภาพแมสสเปกโตรเมทรีบนพื้นผิวผสมที่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้า/ไม่นำไฟฟ้าโดยใช้ JMS-S3000 SpiralTOF™ (MSTips No. 288)
• การวิเคราะห์สารประกอบอินทรีย์บนแผ่นอะคริลิกโดยใช้เครื่อง JMS-S3000 “SpiralTOF™” (MSTips หมายเลข 251)
• การวิเคราะห์หมึกปากกาลูกลื่นโดยใช้เทคนิคการถ่ายภาพ LDI และ SEM/EDS (MSTips หมายเลข 204)
• การวิเคราะห์สารตกค้างจากกระสุนปืน (GSR) โดยใช้ MALDI Imaging
• การวิเคราะห์ฟิล์มบางอินทรีย์ด้วยวิธีการดูดซับ/ไอออนไนเซชันด้วยเลเซอร์โดยใช้ JMS-S3000 “SpiralTOF™” (Satoh, T., JEOL News, 49, 81-88, 2014)

รายละเอียดของฮาร์ดแวร์และซอฟต์แวร์ P149〜

• การสร้างภาพด้วยแมสสเปกโทรเมตรีโดยใช้เครื่องแมสสเปกโทรเมตรีแบบเลเซอร์ดีซอร์ปชันไอออนไนเซชันไทม์ออฟไฟลต์ JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus” (Takaya Satoh, JEOL News, 55, 70-72, 2020)
• การพัฒนา JMS-S3000: MALDI-TOF/TOF โดยใช้วิถีโคจรไอออนแบบเกลียว (Takaya Satoh, JEOL News, 45, 34-37, 2010)
• การพัฒนาวิธีการสกัดจุดสูงสุดจากสเปกตรัมมวล MALDI-TOF ที่มีความละเอียดสูงโดยการเรียนรู้ของเครื่องโดยเน้นที่รูปร่างจุดสูงสุด และการประยุกต์ใช้กับการวิเคราะห์โพลีเมอร์สังเคราะห์ (MSTips No. 352)
• ความสัมพันธ์ระหว่างสภาพของคริสตัลกับกำลังในการแยกมวล ความแม่นยำของมวล (MSTips No. 206)
• การถ่ายภาพ MALDI-MS ที่มีความละเอียดสูง - ความเสถียรสูงของตำแหน่งจุดสูงสุดระหว่างการวัดด้วยการถ่ายภาพ MS (MSTips หมายเลข 193)

การแก้ปัญหาตามสาขา

เคมี

พลาสติก / โพลีเมอร์

ยา

ผลิตภัณฑ์อื่นๆ

รายการสินค้า ที่เกี่ยวข้อง

มัลดี้ไทม์ออฟไฟลท์ แมสสเปกโตรมิเตอร์ (MALDI-TOF MS)