ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

สมุดบันทึกการใช้งานวัสดุโพลีเมอร์ซีรีส์ SpiralTOF™ JMS-S3000

ฉบับเดือนกันยายน 2024

นี่เป็นบทสรุปของบันทึกการใช้งานเกี่ยวกับการถ่ายภาพด้วยแมสสเปกโตรเมตรีและบทความของ JEOL News ที่อิงจากข้อมูลที่ได้รับจากซีรี่ส์ MALDI-TOFMS JMS-S3000 SpiralTOF™ ที่มีความละเอียดสูงเป็นพิเศษของ JEOL

โปรดดูไฟล์ PDF สำหรับข้อมูลเพิ่มเติม
หน้าต่างอื่นจะเปิดขึ้นเมื่อคุณคลิก

สารบัญ

บทนำและพื้นฐาน P1〜

  • การพัฒนา JMS-S3000: MALDI-TOF/TOF โดยใช้วิถีไอออนแบบเกลียว
    (ทากายะ ซาโตะ, JEOL News, 45, 34-37, 2010)

  • การพัฒนาวิธีการสกัดจุดสูงสุดจากสเปกตรัมมวล MALDI-TOF ที่มีความละเอียดสูงโดยการเรียนรู้ของเครื่องโดยเน้นที่รูปร่างจุดสูงสุด และการประยุกต์ใช้กับการวิเคราะห์โพลีเมอร์สังเคราะห์ (MSTips No. 352)

  • ความสัมพันธ์ระหว่างสภาพของคริสตัลกับกำลังในการแยกมวล ความแม่นยำของมวล (MSTips No. 206)

พอลิเมอร์ / โอลิโกเมอร์ P15〜

  • การประเมินการย่อยสลายด้วยรังสียูวีของโพลีเมอร์: การศึกษาโพลีเอทิลีนเทเรฟทาเลตโดยใช้ MALDI-TOFMS และ GC-TOFMS

  • การวิเคราะห์อัตราส่วนองค์ประกอบ EO/PO ของโคพอลิเมอร์ EO-PO โดยใช้ JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus3.0" และ "msRepeatFinder" (MSTips หมายเลข 471)

  • การวิเคราะห์โครงสร้างของโคพอลิเมอร์ EO-PO โดยใช้ MALDI-TOFMS และ NMR ความละเอียดสูง (MSTips No. 423)

  • การวิเคราะห์เชิงอนุพันธ์ของพอลิเอทิลีนเทเรฟทาเลตที่สลายตัวด้วยรังสี UV โดยใช้ JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus2.0” และ “msRepeatFinder” (MSTips No. 422)

  • การวิเคราะห์โครงสร้างของพอลิเอทิลีนเทเรฟทาเลตที่มีผลึกต่างกันโดยใช้ JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus 2.0” (MSTips No. 407)

  • การวิเคราะห์กลุ่มปลายของโพลี(เมทิลเมทาคริเลต) โดยใช้ MALDI-TOFMS และ GC-TOFMS (MSTips No. 404)

  • การวิเคราะห์ mPEG5K-ฟอสเฟตโดยใช้ JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus 2.0" (MSTips No. 402)

  • การวิเคราะห์องค์ประกอบของโคพอลิเมอร์ EO-PO โดยใช้ JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus2.0” และ “msRepeatFinder V6” (MSTips No. 399)

  • การกำหนดองค์ประกอบองค์ประกอบของกลุ่มปลายโพลีเมอร์โดยใช้มวลที่แม่นยำ (MSTips No. 357)

  • การวิเคราะห์โครงสร้างของสารลดแรงตึงผิวประจุลบในโหมดไอออนลบ MALDI โดยใช้ "SpiralTOF™-plus" (MSTips No. 333)

  • การวิเคราะห์โพลีเมทิลเมทาคริเลตที่ย่อยสลายโดยการฉายรังสี UV โดยใช้ MALDI-TOFMS และไพโรไลซิส-GC-QMS ความละเอียดสูง (MSTips No. 324)

  • การวิเคราะห์โพลีสไตรีนที่ย่อยสลายโดยการฉายรังสี UV โดยใช้ MALDI-TOFMS และไพโรไลซิส-GC-QMS ความละเอียดสูง (MSTips No. 322)

  • การวิเคราะห์โครงสร้างของโพลีเอทิลีนเทเรฟทาเลตที่ผสมผสานวิธีการย่อยสลายอัลคาไลน์บนเพลตและแมสสเปกโตรมิเตอร์ตามเวลาการบินควบคู่ (MSTips No. 311)

  • พล็อต KMD “ฐานเศษส่วน” สำหรับโคโพลีเอสเตอร์โพลี(3-ไฮดรอกซีบิวไทเรต-โค-3-ไฮดรอกซีวาเลอเรต) ที่มีน้ำหนักโมเลกุลสูงตามการย่อยสลายด้วยด่างบนแผ่นและการวิเคราะห์ SpiralTOF™ (MSTips หมายเลข 284)

  • พล็อต KMD “ฐานเศษส่วน” สำหรับโพลีเอสเตอร์โพลี(3-ไฮดรอกซีบิวไทเรต) ที่มีน้ำหนักโมเลกุลสูงตามการย่อยสลายด้วยด่างบนแผ่นและการวิเคราะห์ SpiralTOF™ (MSTips หมายเลข 283)

  • การแสดงภาพช่องการแตกตัวของโพลีเอทิลีนออกไซด์ด้วยกลุ่มปลายที่แตกต่างกันโดยใช้ JMS-S3000 SpiralTOF™ พร้อมตัวเลือก TOF–TOF (MSTips No. 279)

  • พล็อต “เศษที่เหลือของ KM” สำหรับพอลิเมอร์โดยใช้ msRepeatFinder: การแสดงสเปกตรัมมวลการแยกตัวที่เกิดจากการชนกันของพลังงานสูงที่เข้าใจง่ายซึ่งได้รับจาก SpiralTOF™/TOF (MSTips หมายเลข 270)

  • พล็อต “เศษซากของ KM” สำหรับพอลิเมอร์โดยใช้ msRepeatFinder: การทำแผนที่องค์ประกอบในช่วงมวลกว้าง (MSTips ฉบับที่ 269)

  • การวิเคราะห์โพลีเอทิลีนที่มีน้ำหนักโมเลกุลต่ำด้วยวิธีการปราศจากตัวทำละลายโดยใช้ JMS-S3000 “SpiralTOF™” (MSTips No. 235)

  • การวิเคราะห์กาวไซยาโนอะคริเลตโดยใช้เครื่อง JMS-S3000 “SpiralTOF™”
    ― การประยุกต์ใช้การวิเคราะห์พล็อต Kendrick Mass Defect ― (MSTips ฉบับที่ 220)

  • การวัดค่ามาตรฐานอ้างอิง Dendritic MS

  • การวิเคราะห์โคโพลีเมอร์สุ่ม EO-PO โดยใช้ HPLC และ MALDI SpiralTOF™ MS แบบธรรมดา (MSTips หมายเลข 203)

  • การวิเคราะห์มาตรฐานโพลีสไตรีนน้ำหนักโมเลกุลสูงโดยใช้ JMS-S3000 SpiralTOF™ พร้อมตัวเลือก Linear TOF (MSTips No. 199)

  • การวัดโพลีเมอร์สังเคราะห์ [1]: โพลีสไตรีน (MSTips No. 163)

  • การวัดโพลีเมอร์สังเคราะห์ [2]: โพลีเมทิลเมทาคริเลต (MSTips No. 164)

  • การวัดโพลีเมอร์สังเคราะห์ [3]: โพลีเอทิลีนไกลคอล (MSTips No. 165)

  • ลักษณะโครงสร้างโดยละเอียดของโพลีเมอร์โดย MALDI-TOFMS พร้อมด้วยวิถีโคจรไอออนแบบเกลียว (Sato, H., JEOL News, 50, 46-52, 2015)

  • การตรวจวัดมวลแบบความละเอียดสูง MALDI SpiralTOF และการวิเคราะห์ข้อบกพร่องมวลแบบ Kendrick ที่นำไปใช้ในการจำแนกลักษณะของโคพอลิเมอร์โพลี(เอทิลีน-โค-ไวนิลอะซิเตท) (Fouquet, T., Nakamura, S. & Sato, H., Rapid Commun. Mass Spectrom. 30, 973 – 981, 2016)

สารเติมแต่งโพลีเมอร์ P109〜

  • การวิเคราะห์โครงสร้างของสารเติมแต่งโพลีเมอร์โดยใช้สเปกตรัมมวลการแยกตัวที่เกิดจากการชนกันของพลังงานสูงที่ได้มาจาก JMS-S3000 พร้อมตัวเลือก TOF/TOF (MSTips No. 254)

  • MALDI สำหรับการวิเคราะห์โพลีเมอร์: โพลีเมอร์สังเคราะห์และสารเติมแต่ง (MSTips No. 205)

การแก้ปัญหาตามสาขา

รายการสินค้า ที่เกี่ยวข้อง

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา