ผู้ถือชิ้นงาน

นี่คืออะแดปเตอร์สำหรับที่จับตัวอย่างมาตรฐานของ JSM-F ซีรี่ส์ของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดภาคสนาม การติดตั้งชิ้นงานทดสอบที่แตกต่างกัน 3 ชิ้นพร้อมกันบนตัวต่อนี้ช่วยลดความถี่ในการแลกเปลี่ยนชิ้นงานทดสอบและช่วยให้สามารถทำงานได้ดีขึ้น

ลักษณะ

◇อะแดปเตอร์นี้ช่วยให้สามารถติดตั้งแท่นชิ้นงานทดสอบ 3Φ จำนวน 12.5 แท่นได้พร้อมกัน

◇ สกรูสองตัวสำหรับแต่ละบล็อกยึดจากด้านข้าง
◇ ร่องลึก 4 มม. ของแต่ละพอร์ตช่วยให้แหนบหยิบบล็อกได้
◇ปรับความสูงของชิ้นงานทดสอบ:
ตั้งแต่ -2mm ถึง +4mm
(อ้างอิงพื้นผิวด้านบนของตัวยึดชิ้นงานทดสอบสำหรับบล็อกความสูง 10 มม.)

ข้อควรระวัง

• ใน FESEM ความสูงของชิ้นงานทดสอบมักจะถูกกำหนดไว้ที่ความสูงพื้นผิวด้านบนของตัวจับยึดชิ้นงานทดสอบเพื่อหลีกเลี่ยงไม่ให้สัมผัสกับส่วนประกอบภายใน หากตัวอย่างยื่นออกมาจากตัวยึด โปรดระวังการตั้งค่าและการทำงานของอุปกรณ์ ระวังการสัมผัสกับ Backscattered Electron Detector ด้วย

• ต้องถอดวงแหวนของตัวจับยึดมาตรฐานออกจากตัวจับยึดชิ้นงานทดสอบขนาด 32 มม.Φ เพื่อตั้งค่าตัวต่อนี้

การใช้

1) ปลดแหวน
2) ติดแท่นยึดชิ้นงานทดสอบกับตัวต่อ และตั้งตัวต่อเข้ากับตัวจับมาตรฐานหลังจากปรับความสูงของตัวต่อ

ตัวอย่าง) สำหรับ JSM-6500F P/N：804410496

ขนาด

รูปแบบที่ใช้งานได้

เจเอสเอ็ม-6300F / 6301F / 6400F / 6401F / 6330F / 6335F / 6340F / 6500F / 6700F / 6701F
เจเอสเอ็ม-7000F / 7001F / 7100F / 7200F / 7400F / 7401F / 7500F / 7600F / 7610F / 7800F
ซีรีส์ JXA

• มีให้สำหรับรุ่น SEM นอกเหนือจากข้างต้น หากประกอบด้วยตัวยึด 32mmφ

• ไม่แนะนำสำหรับ JIB-4600F ซีรีส์ เนื่องจากพิจารณาปัญหาบางอย่างในกระบวนการ

ข้อมูลการสั่งซื้อ

อื่นๆ

โปรดทราบว่าตัวยึด32mmΦจะแตกต่างกันไปตามประเภทของอุปกรณ์หลัก