JSM-IT710HR
สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

การมองเห็นที่ชัดเจนส่งเสริมการค้นพบใหม่

ในปัจจุบัน ไม่เพียงแต่ความละเอียดและประสิทธิภาพการวิเคราะห์ในระดับนาโนเมตรเท่านั้น แต่ยังถือว่าทรูพุตในการรับข้อมูลมีความสำคัญอีกด้วย JSM-IT710HR ที่เพิ่งเกิดใหม่เป็นรุ่นที่สี่ของซีรี่ส์ HR* ของ JEOL ซึ่งใช้ธีม "SEM ที่ช่วยให้ทุกคนสามารถถ่ายภาพความละเอียดสูงได้อย่างง่ายดาย
JSM-IT710HR ทำให้ผู้ใช้ต้องการติดตามมากกว่าที่เคยเห็น เนื่องจากใช้งานง่ายด้วยฟังก์ชันอัตโนมัติที่ได้รับการปรับปรุงและประสิทธิภาพการสังเกตที่ดีขึ้นจากเครื่องตรวจจับใหม่

*HR=ความละเอียดสูง

คุณสมบัติ

วิดีโอสินค้า

ฉันเห็นมัน ฉันต้องการที่จะเห็นมันมากขึ้น

1. ภาพ SEM สามารถมองเห็นได้ร่วมกับภาพแสง

ตัวอย่าง: ได้รับความอนุเคราะห์จาก Hino Tonton ZOO (สวนสัตว์ฮามูระ)

2. มองเห็นภาพได้ดีขึ้นเนื่องจากปืนอิเล็กตรอนที่มีความละเอียดสูง

ฉันเห็นมัน ฉันต้องการที่จะเห็นมันมากขึ้น

ลดค่าธรรมเนียม

สูญญากาศต่ำ

การสังเกต 3 มิติ

เครื่องตรวจจับหลายส่วน

ข้อมูลธาตุ

EDS^※

การวิเคราะห์โครงสร้างผลึก

โรคอีบีเอสดี^※

※ไม่จำเป็น

ลดค่าธรรมเนียม
ตัวอย่าง: ได้รับความอนุเคราะห์จาก Prof. Tetsuro Asakura, Department of Biotechnology and Life Science, Tokyo University of Agriculture and Technology

การวิเคราะห์โครงสร้างผลึก
ตัวอย่าง: ได้รับความอนุเคราะห์จาก Prof. Kaneaki Tsuzaki, National Institute for Material Science (NIMS)

ฟังก์ชั่นใหม่

การสังเกตการณ์อัตโนมัติ：SEM/EDS อย่างง่าย

ฟังก์ชัน Simple SEM ช่วยให้การวัดอัตโนมัติโดยการลงทะเบียนหลายเงื่อนไขพร้อมกัน เรียบง่าย
สิ่งนี้ช่วยปรับปรุงประสิทธิภาพของงานประจำ

Live 3D: สร้างภาพ 3 มิติ ณ จุดนั้น

สามารถถ่ายภาพได้โดยใช้กำลังขยายต่ำโดยมีการบิดเบี้ยวเล็กน้อยเนื่องจากเลนส์ใกล้วัตถุที่อยู่นอกเลนส์

ภาพที่ได้มาโดยใช้ตัวตรวจจับ Quadrant

ตัวอย่าง: พื้นผิวแตกหักของพลาสติก

ภาพ 3 มิติสด

ใหม่ เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิแบบไฮบริดสุญญากาศต่ำ (LHSE) ※ฟังก์ชั่นเสริม

LHSED ซึ่งเป็นเครื่องตรวจจับสุญญากาศต่ำรุ่นใหม่ ช่วยให้สามารถสังเกตได้ในขณะที่สลับไปมาระหว่างภาพที่มีข้อมูลการปล่อยแสงและภาพภูมิประเทศ

คุณสมบัติ LHSED

• ปรับปรุงคุณภาพของภาพสดอิเล็กตรอนทุติยภูมิสูญญากาศต่ำ
• การได้มาซึ่งข้อมูลการปล่อยแสง
• การสลับระหว่างภาพภูมิประเทศและข้อมูลการปล่อยแสง

ความเสถียรของปืนอิเล็กตรอน Schottky FE ได้รับการปรับปรุงมากกว่า 4 เท่าเมื่อเทียบกับรุ่นก่อนหน้า

การปรับลำแสงอัตโนมัติ

JSM-IT710HR ไม่ต้องการการปรับด้วยตนเองที่ซับซ้อนและให้การปรับอัตโนมัติตั้งแต่การจัดแนวแกนไปจนถึงการแก้ไขสายตาเอียงและการโฟกัส

ระบบตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิ

เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิ
(เอสอีดี)

ตัวอย่าง: ขนนกยูง^*
*ภาพตัวอย่าง: ได้รับความอนุเคราะห์จากสวนสัตว์ Hinotonton (สวนสัตว์ Hamura)

เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิสูญญากาศต่ำ
(แอลวีแซด/แอลเอชแซด)

ตัวอย่าง: เซลลูโลสไมโครไฟเบอร์

ทั้งความละเอียดสูงและกระแสไฟฟ้าขนาดใหญ่

ปืนปล่อยสนาม Schottky ที่ใช้ใน JSM-IT710HR ช่วยให้สามารถสังเกตและวิเคราะห์ที่มีความละเอียดสูงได้ เนื่องจากปืนอิเล็กตรอนถูกรวมเข้ากับเลนส์คอนเดนเซอร์เพื่อสร้างกระแสขนาดใหญ่ในขณะที่ใช้หัววัดขนาดเล็ก

ระบบตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจายกลับ

เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจายกลับแบบหลายเซกเมนต์ใหม่จะรับภาพอิเล็กตรอนแบบกระจายกลับจากสี่ทิศทางพร้อมกัน เพื่อให้สามารถสร้างภาพ 3 มิติที่เรียบง่ายและแสดงสดแบบเรียลไทม์ได้

ทุกการวิเคราะห์เริ่มต้นด้วย Zeromag　

ภาพแสงของ Zeromag ช่วยให้การนำทางง่ายขึ้น
ภาพ SEM สามารถเชื่อมโยงกับภาพออปติกเพื่อการสังเกต การวิเคราะห์ และการวัดแบบอัตโนมัติที่ง่ายดาย

การรวม EDS

JEOL ผลิตและจำหน่ายไม่เพียงแค่ SEM เท่านั้น แต่ยังรวมถึง EDS ด้วย
EDS ที่ฝังตัวอย่างสมบูรณ์พร้อม SEM สำหรับเวิร์กโฟลว์ การดำเนินการ และการจัดการข้อมูลที่เรียบง่าย

การวิเคราะห์เฟส

ระบบ EDS ของ JEOL รองรับฟังก์ชันการวิเคราะห์เฟสใหม่ สามารถสร้างแผนที่เฟสได้จากชุดข้อมูลแผนที่

ภาพอิเล็กตรอนแบบกระจายกลับ

การทำแผนที่เฟส (การซ้อนทับของหลายเฟส)

ตัวอย่าง: ภาพตัดขวางของเครื่องมือตัดสำหรับการตัดเฉือนที่มีความแม่นยำ

การวิเคราะห์เฟสบ่งชี้ถึงความแตกต่างขององค์ประกอบระหว่างพื้นที่ที่มีความอุดมสมบูรณ์ของ Co, Cu และ Sn

Co พื้นที่: 68.15%

CuSn (คูริช) พื้นที่: 16.25%

CuSn (สน์ริช) พื้นที่: 14.54%

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

โปรดดูที่แคตตาล็อกผลิตภัณฑ์ของเรา 

ดาวน์โหลดแคตตาล็อก

JSM-IT710HR กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

การใช้งาน

อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์

คุณสมบัติที่ใช้ได้ของ JSM-IT710HR: ความละเอียด r สูง คอนทราสต์สูง การสังเกต ea ที่กว้าง

LED

การสังเกตที่ชัดเจนของ nanovoid ที่ส่วนต่อประสานของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์

ชิ้นงานทดสอบ: ภาพตัดขวาง LED ที่เตรียมโดยใช้ CP*
กำลังขยาย: ×250 (บนสุด), ×1,000 (ล่างซ้าย), ×40,000 (ล่างขวา)
แรงดันไฟเร่ง: 5 kV

*CP: CROSS Section POLISHER™

รูปแบบการเดินสาย

การใช้ฟังก์ชันสูญญากาศต่ำเพื่อสังเกตพื้นผิวรูปแบบการเดินสายไฟเป็นบริเวณกว้าง

ชิ้นงานทดสอบ: พื้นผิวรูปแบบสายไฟ กำลังขยาย: ×200 (ซ้าย) ×300 (ขวา) แรงดันสุญญากาศ: 70 Pa แรงดันเร่ง: 15 kV

SRAM

แผนที่ EDS ความละเอียดสูง

ตัวอย่าง: ภาพตัดขวาง SRAM ที่เตรียมโดยใช้ CP
กำลังขยาย: ×10,000 (บนสุด), ×50,000 (ล่าง)
แรงดันเร่ง: 5 kV (SEM), 7 kV (EDS)

ภาพอิเล็กตรอนแบบกระจายกลับ

แผนที่ สพป

แผ่นประสานอัล

ด้วยการรับทั้งภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิสุญญากาศต่ำและภาพอิเล็กตรอนแบบกระจายกลับในเวลาเดียวกัน ทำให้สามารถรับข้อมูลภูมิประเทศและข้อมูลองค์ประกอบของพื้นที่ผิวตัวอย่างที่กว้างได้

ภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิสุญญากาศต่ำ

ภาพอิเล็กตรอนที่มีการกระเจิงกลับในสุญญากาศต่ำ

ชิ้นงาน: พื้นผิวแผ่นกาว, กำลังขยาย: ×100, แรงดันสุญญากาศ: 70 Pa, แรงดันเร่ง: 15 kV

เหล็ก

คุณสมบัติที่ใช้ได้ของ JSM-IT710HR: ระบบออพติคอลที่เหมาะสำหรับการวิเคราะห์ EBSD (ปืนยิงสนาม Schottky และเลนส์ใกล้วัตถุนอกเลนส์)

พลังงานและเซรามิกส์

คุณลักษณะที่ใช้งานได้ของ JSM-IT710HR: ความสามารถในการวิเคราะห์และฟังก์ชันสุญญากาศต่ำ

พื้นผิวเซลล์แสงอาทิตย์ Perovskite

การวิเคราะห์ชั้นระดับนาโนในพื้นผิวเซลล์แสงอาทิตย์ด้วยความแม่นยำสูง

พื้นผิวเซรามิก (Si₃N₄)

ฟังก์ชันสุญญากาศต่ำช่วยให้สามารถวิเคราะห์องค์ประกอบของชิ้นงานที่ไม่นำไฟฟ้าได้

ภาพอิเล็กตรอนที่มีการกระเจิงกลับในสุญญากาศต่ำ

แผนที่ธาตุสุญญากาศต่ำ

แรงดันเร่ง: 5 kV, การทำแผนที่องค์ประกอบสุญญากาศต่ำ (30 Pa), พื้นผิวที่กลึงด้วยเครื่องจักรของ Si₃N₄ วัสดุพิมพ์*
*ผิวสำเร็จ: การกัดแบบระนาบด้วยอาร์กอนไอออนหลังการกัดด้วยเครื่องจักร

วัสดุอ่อนนุ่มและวิทยาศาสตร์ชีวภาพ

คุณสมบัติที่ใช้ได้ของ JSM-IT710HR: แรงดันไฟฟ้าเร่งต่ำ ฟังก์ชันสุญญากาศต่ำ และการสังเกตกำลังขยายต่ำพิเศษ

เรซิน ABS

แม้แต่ภาพหลายภาพที่สังเกตด้วยกำลังขยายนับหมื่นก็สามารถรับได้ด้วยความแม่นยำสูงและความสว่างที่คงที่

วุ้น

ภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิที่มีความสว่างสูงและมีความละเอียดสูง

เรือประดิษฐ์

การสังเกตตัวอย่างทางชีวภาพบนกระจกสไลด์จากกำลังขยายต่ำไปสูง

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)

อุปกรณ์สำหรับเตรียมตัวอย่าง (CP)

ข้อมูลเพิ่มเติม