JSM-IT210
สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

ง่ายต่อการรับข้อมูลสำหรับตัวอย่างทุกประเภท

JSM-210 เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแบบอยู่กับที่ที่กะทัดรัดที่สุดของ JEOL
ระยะที่พัฒนาขึ้นใหม่ขับเคลื่อนด้วยมอเตอร์สำหรับแกนการเคลื่อนไหวทั้งห้า ทำให้ใช้งานได้อย่างปลอดภัยและรวดเร็วยิ่งขึ้น
นอกจากนี้ "SEM แบบง่าย" ที่ติดตั้งใหม่จะรับการสังเกตและการวิเคราะห์โดยอัตโนมัติเพียงแค่เลือกมุมมอง JSM-IT210 เป็น SEM เจเนอเรชั่นใหม่ที่มีขนาดกะทัดรัดและสามารถใช้งานได้โดยไม่ต้องมีคนดูแล

คุณสมบัติ

คำแนะนำจากการแลกเปลี่ยนสิ่งส่งตรวจสู่การสังเกตการณ์อัตโนมัติ "Specimen Exchange Navi"

1. ทำตาม Navi เพื่อตั้งค่าชิ้นงาน

2. เตรียมความพร้อมสำหรับการสังเกตระหว่างการอพยพ

3. เริ่มการสังเกตโดยอัตโนมัติ

*1 ระบบนำทางบนเวที (SNS) เป็นตัวเลือก
*2 SNSLS เป็นตัวเลือก สามารถใช้กับ SNS ได้พร้อมกัน
*3 ขอบเขตห้องเพาะเลี้ยง (CS) เป็นทางเลือก

ขยายภาพออปติคัล เปลี่ยนเป็นภาพ SEM "Zeromag"

ฟังก์ชัน Zeromag ช่วยให้การนำทางง่ายขึ้นโดยให้การเปลี่ยนจากภาพออปติก* เป็นภาพ SEM ได้อย่างราบรื่น
SEM, ภาพออปติคัล และกราฟิคที่ยึดทั้งหมดเชื่อมโยงกันสำหรับมุมมองทั่วโลกของตำแหน่งการวิเคราะห์

* ระบบนำทางบนเวที (SNS, ตัวเลือกเสริม) จำเป็นสำหรับการจับภาพด้วยแสง

EDS แบบฝังสำหรับองค์ประกอบองค์ประกอบตามเวลาจริงระหว่างการสังเกต* "การวิเคราะห์แบบสด"

การวิเคราะห์สดเป็นฟังก์ชันที่แสดงสเปกตรัม EDS หรือแผนที่องค์ประกอบในแบบเรียลไทม์ระหว่างการสังเกตภาพ ฟังก์ชันนี้สามารถรองรับการค้นหาและแจ้งเตือนองค์ประกอบเป้าหมายได้

*ต้องใช้แบบจำลอง A (การวิเคราะห์) หรือ LA (สุญญากาศต่ำและการวิเคราะห์)

ระบบอัตโนมัติเพื่อเพิ่มผลผลิต "SEM แบบง่าย"

Simple SEM ทำให้การเก็บภาพอัตโนมัติในหลายตำแหน่ง เงื่อนไข และการขยายภาพ

เครื่องมือสำหรับความเร็ว

สเตจที่มีความแม่นยำของตำแหน่งสูง ย้ายตำแหน่งการวิเคราะห์ด้วยความแม่นยำ

มาตรฐาน 60 มม² EDS เส้นผ่านศูนย์กลางใหญ่*
เพื่อการวิเคราะห์ที่รวดเร็ว*

วิเคราะห์เร็ว

มม. 60²  ขนาดเซ็นเซอร์ EDS ที่ติดตั้งเป็นมาตรฐานกับ JSM-IT210 สามารถรับคุณภาพเดียวกันโดยใช้เวลาน้อยกว่าเครื่องตรวจจับพื้นที่ขนาดเล็ก การวิเคราะห์แบบหลายจุดสามารถทำได้อย่างมีประสิทธิภาพมากขึ้น

การประยุกต์ใช้กับชิ้นงานที่ไวต่อความร้อน

เครื่องตรวจจับ EDS พื้นที่ขนาดเล็กต้องการกระแสไฟฟ้าขนาดใหญ่สำหรับการวิเคราะห์ ชิ้นงานที่ไวต่อความร้อนได้รับความเสียหายเนื่องจากการฉายรังสีของลำแสง ซึ่งส่งผลเสียต่อแผนที่องค์ประกอบ

มม. 60² EDS รวบรวมแผนที่องค์ประกอบด้วยกระแสโพรบที่ต่ำกว่า
 ทำให้สามารถวิเคราะห์ได้อย่างรวดเร็วในขณะที่ลดความเสียหายที่เกิดจากความร้อนให้เหลือน้อยที่สุด

แผนที่องค์ประกอบที่รวดเร็วและชัดเจน

60 มม² EDS รวบรวมแผนผังองค์ประกอบที่ชัดเจนแม้จะวัดเพียงหนึ่งนาที

ตัวอย่าง: อุกกาบาตพัลลาไซต์
แรงดันไฟเร่ง: 15 kV
เวลาในการวัด: 1 นาที

* EDS นี้เข้ากันได้กับรุ่น LV (สุญญากาศต่ำ) และ LA (สุญญากาศต่ำ & การวิเคราะห์)

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

โปรดดูที่แคตตาล็อกผลิตภัณฑ์ของเรา 

ดาวน์โหลดแคตตาล็อก

JSM-IT210 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

สินค้าที่เกี่ยวข้อง

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)

อุปกรณ์สำหรับเตรียมตัวอย่าง (CP)

ข้อมูลเพิ่มเติม