ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

JIB-4601F เป็นระบบการประมวลผลและการสังเกตการณ์ MultiBeam ที่รวม SEM ชนิด Schottky และคอลัมน์ FIB กำลังสูง หลังจากทำการกัดแบบภาคตัดขวางของพื้นที่โดยใช้ FIB แล้ว จะสามารถสังเกตและวิเคราะห์ส่วนภายในโดยใช้ SEM ได้ FIB สามารถใช้สำหรับการกัดละเอียดและการเตรียมตัวอย่าง TEM ตลอดจนการวิเคราะห์โครงสร้าง 3 มิติด้วยการกัด/ การสังเกตและการวิเคราะห์แบบภาคตัดขวางอัตโนมัติตามช่วงเวลาที่กำหนด Schottky-type SEM ช่วยให้สามารถระบุตำแหน่งไซต์เป้าหมายได้ง่าย ตลอดจนการสังเกตและการวิเคราะห์โครงสร้างขนาดเล็ก นี่คือระบบที่สามารถนำไปใช้งานได้อย่างหลากหลาย รวมถึงการวิจัยและพัฒนา ตลอดจนการควบคุมคุณภาพผลิตภัณฑ์

คุณสมบัติ

เครื่องมือ All-in-one – การใช้งานที่หลากหลายในเครื่องมือเดียว

การวิเคราะห์แบบหลายฟังก์ชันผ่านการรวมกันของคอลัมน์ High-Power FIB และ High-Power Optics SEM

คอลัมน์ FIB กำลังสูงที่มีกระแสโพรบสูงสุด 60 nA ทำให้สามารถกัดงานตัดขวางได้อย่างรวดเร็ว ในขณะที่ Schottky SEM นำเสนอการสังเกตภาคตัดขวางที่มีความละเอียดสูง High-Power Optics (กระแสสูงสุด 200 nA @ 15 kV) ที่รวมอยู่ใน SEM ทำให้สามารถทำการวิเคราะห์ความเร็วสูงและความละเอียดสูงได้ เช่น การวิเคราะห์องค์ประกอบโดยใช้ EDS หรือ WDS และการวิเคราะห์การวางแนวผลึก EBSD นอกจากนี้ ยังมีอุปกรณ์ต่อพ่วงเสริมให้เลือกมากมาย เช่น ตัวตรวจจับอิเลคตรอนแบบส่องผ่าน กลไกการทำให้เย็นตัวอย่าง เช่น หน่วยการแช่แข็งและแท่นเย็น และตัวตรวจจับแบบคาโธโดลูมิเนสเซนซ์

ฟังก์ชันการวิเคราะห์โครงสร้าง 3 มิติ

โดยการสลับระหว่างการกัดส่วน FIB โดยอัตโนมัติโดยใช้ฟังก์ชันการแบ่งส่วนและการสุ่มตัวอย่างแบบอนุกรม และการสังเกตและวิเคราะห์ SEM (การทำแผนที่ EDS หรือการวิเคราะห์โครงสร้างผลึก EBSD) ทำให้สามารถวิเคราะห์โครงสร้าง 3 มิติของชิ้นงานทดสอบได้ การวัดสามารถทำได้อย่างรวดเร็วเนื่องจากไม่จำเป็นต้องเปลี่ยนระยะของชิ้นงานทดสอบ

เข้ากันได้กับผลิตภัณฑ์ JEOL อื่น ๆ

ตัวจับยึดชิ้นงานที่ใช้กับ JIB-4601F เป็นแบบเดียวกับที่ใช้โดยระบบ JEOL FE-SEM นอกจากนี้ หากใช้ตัวยึดกระสวยระหว่างส่วนปลายของตัวยึด TEM และสเตจซีรีส์ JIB ก็ไม่มีความจำเป็นในการจัดการตัวอย่าง TEM ที่ซับซ้อนซึ่งติดตั้งเข้ากับกริดตาข่าย ซึ่งให้ปริมาณงานที่ดีขึ้น

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

ปืนอิเล็กตรอน Schottky Field Emission Type △TFE(ZrO/W)
เลนส์ใกล้วัตถุ เลนส์ใกล้วัตถุชนิดนอกเลนส์
ความละเอียด 1.2 นาโนเมตร @ 30 กิโลโวลต์ WD4 มม
3.0 นาโนเมตร @ 1 กิโลโวลต์ WD2 มม
แรงดันเร่ง 0.2 ถึง 30kV
โพรบปัจจุบัน หลาย pA ถึง 200nA @ 15 kV
เลนส์ปรับมุมรูรับแสง Built-in
การอวดอ้าง x20 ถึง x1,000,000
เครื่องตรวจจับ เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนตอนล่าง (LED)
ตัวเลือก(*)
อาร์-เบด*
ต้นกำเนิด*
ลำแสงที่อ่อนโยน ในตัว (แรงดันไฟฟ้าที่ใช้กับชิ้นงาน 0 ถึง 300V)
ห้องแลกเปลี่ยนตัวอย่าง Built-in
(พร้อมฟังก์ชั่นแนะนำไนโตรเจนแห้ง)
ขั้นตอนตัวอย่าง ระยะขับมอเตอร์ 6 แกน
ช่วงการเดินทางของตัวอย่าง X: 50 มม. , Y: 50 มม.
Z: 1.5 ถึง 41 มม
ความเอียง: -5 ถึง 70°, การหมุน: 360°,
Fz: -3 ถึง +3 มม
วิธีการแลกเปลี่ยนสิ่งส่งตรวจ ประเภทหัวจับแบบสัมผัสเดียว
ผู้ถือชิ้นงาน ผู้ถือมาตรฐาน:
ที่จับ φ12.5
ตัวยึด φ32mm
ผู้ถือตัวเลือก:
ที่ใส่เวเฟอร์ 76.2 มม
 ที่ใส่เวเฟอร์ 100 มม
 ที่ใส่เวเฟอร์ 125 มม
 ที่ใส่เวเฟอร์ 150 มม
2,4,6 ประเภทผู้ถือจำนวนมาก
ตัวจับชิ้นงานหลายชิ้นบนพื้นผิว
ที่ยึด STEM
ที่ยึดกระสวย
ที่จับแบบสัมผัสเดียว
ขอบเขตหอการค้า กล้องห้องเก็บตัวอย่าง (ตัวเลือก)
ฟังก์ชั่นอัตโนมัติ ระบบออโต้โฟกัส
ควบคุมความสว่างอัตโนมัติ
ระบบควบคุม ระบบควบคุม SEM
   พีซี รองรับ IBM PC/AT〔SM-77360PC〕
RAM 2 GB ขึ้นไป
 ระบบปฏิบัติการ Windows 7® Professional*
การตรวจสอบ 23 นิ้ว
แสดงภาพ พื้นที่แสดงภาพ 1280×960 พิกเซล, 800×600 พิกเซล
โหมดการแสดงผล มาตรฐาน : SEM_SEI, FIB_SEI
ตัวเลือก : SEM_COMPO, SEM_TOPO, AUX, CCD
โหมดการสแกน / การแสดงผล การสแกนพื้นที่จำกัด, การเพิ่ม iamge, scaler
การแสดงผลหน้าจอ: 1 หน้าจอ 2 หน้าจอ (มาตรฐาน) 4 หน้าจอ
สูญญากาศ เอชวี ; < 2.0 x 10E-4 ป่า
(เมื่อใช้งาน GIS; <3.0E-3Pa) 
ระบบอพยพ จิบ x 2 (SEM), 
จิบ x 1 (FIB)
TMP x 1, v RP x 1
โหมดประหยัดการใช้ไฟฟ้า ใช้งานปกติประมาณ. 2.0kVA
Co2เทียบเท่าการปล่อย         Co2 การปล่อยในปี
ใช้งานปกติ 4967กก
อุปกรณ์ความปลอดภัย ป้องกันการตกจากสุญญากาศ, ความล้มเหลวของน้ำ, N2 แรงดันแก๊สตก กระแสไฟรั่ว
อย่างไรก็ตาม ไม่รวมกลไกการบำรุงรักษาสุญญากาศสูงเป็นพิเศษเมื่อไฟฟ้าขัดข้อง
รอยพระบาท 3200มม.ขึ้นไป ×3000mmขึ้นไป
ความต้องการในการติดตั้ง พาวเวอร์ซัพพลาย เฟสเดียว 100 V, 50/60 Hz, สูงสุด 4kVA,
ใช้งานปกติประมาณ 2.0kVA
ความผันผวนของแหล่งจ่ายไฟอินพุตที่อนุญาตภายใน ±10%
ขั้วต่อสายดิน 100Ω หรือน้อยกว่า x 1
น้ำเย็น
ก๊อกน้ำออก เส้นผ่านศูนย์กลาง 14 มม. x 1 หรือ JIS B 0203 Rc 1/4 x 1
อัตราการไหล 0.5 ลิตร/นาที
แรงดันน้ำ 0.1 ถึง 0.25 MPa (เกจวัดแรงดัน) อุณหภูมิของน้ำ 20°± 5°C
เดรนอินน์ เส้นผ่านศูนย์กลาง 25 มม. ขึ้นไป x1 หรือ JIS B 0203 Rc 1/4 x 1
ก๊าซไนโตรเจนแห้ง JIS B 0203 Rc 1/4 (ผู้ใช้เป็นผู้จัดเตรียม)
 แรงดัน 0.45 ถึง 0.55 MPa (เกจวัดแรงดัน) 
ห้องติดตั้ง 
 อุณหภูมิห้อง 20℃±5℃
 ความชื้น 60% หรือต่ำกว่า
 สนามแม่เหล็กจรจัด 0.3μT (PP) หรือน้อยกว่า (50/60 Hz sin wave,WD 10 mm,15 kV)*1
 การสั่นสะเทือนของพื้น 3μm (PP) หรือต่ำกว่า*1 ที่ความถี่คลื่นไซน์มากกว่า 5Hz
 เสียงรบกวน 70 dB หรือต่ำกว่า *1 เป็นลักษณะ FLAT
 ขนาดห้องติดตั้ง 3,000 มม. x 3,000 มม. ขึ้นไป
ความสูง 2,300 มม. ขึ้นไป
 ประตูขนาด1,000*2 มม.(ก) x 2,000 มม.(ส) ขึ้นไป
  • ไม่สามารถใช้ได้กับเงื่อนไขอื่นนอกเหนือจากนี้ เราจะทำการสำรวจห้องติดตั้งก่อนส่งมอบ และปรึกษาคุณเกี่ยวกับกำลังขยายสูงสุดของการสังเกต 

  • โปรดปรึกษาว่าความกว้างของประตูคือ 900 มม.

ไฟล์แนบเสริมหลัก EDS, WDS, EBSD, CL, SNS เป็นต้น
  • Windows เป็นเครื่องหมายการค้าจดทะเบียนของ Microsoft Corporation ในสหรัฐอเมริกาและประเทศอื่น ๆ

ข้อมูลเพิ่มเติม

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา