ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

คุณสมบัติ

กระแสโพรบที่เสถียรสูงและเลนส์ควบคุมรูรับแสงช่วยให้ได้ภาพที่มีความละเอียดสูง กระบวนการกัดสามารถดูและวิเคราะห์พร้อมกันในการถ่ายภาพ SEM ซึ่งมีประสิทธิภาพสำหรับการวิเคราะห์โครงสร้างภายในและการเตรียมตัวอย่างฟิล์มบาง TEM

รวม FE-SEM ความละเอียดสูงเพื่อการตัดขวางที่แม่นยำ
การถ่ายภาพ SEM ความละเอียดสูงสำหรับการตรวจสอบการกัด FIB แบบเรียลไทม์
รวมปืนอิเลคตรอนความร้อนไว้ในเลนส์ที่สามารถวิเคราะห์ความเร็วสูงได้อย่างเสถียรที่กระแสสูงสุด 200 nA
ห้องตัวอย่างแบบหลายพอร์ตสำหรับการทำงานที่สมบูรณ์ตั้งแต่การกัด FIB ไปจนถึงการสร้างภาพ SEM ไปจนถึงการวิเคราะห์โดยเครื่องตรวจจับที่หลากหลาย รวมถึง EDS และ EBSD
รองรับการติดตั้งแก๊สหลายชนิดพร้อมกันเพื่อการเคลือบฟิล์มป้องกัน
การถ่ายภาพ SEM ความละเอียดสูงสำหรับการเตรียมตัวอย่างฟิล์มบาง TEM

อุปกรณ์เสริมกล้อง

EDS (เครื่องวิเคราะห์เอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนต์แบบกระจายพลังงาน)
ระบบอีบีเอสดี
CLD (เครื่องตรวจจับการเรืองแสงแคโทด)
IR-CAM (กล้อง IR สำหรับการดู)
GIS (ระบบหัวฉีดแก๊ส) x3
ระบบเก็บตัวอย่าง
ระบบหุ่นยนต์นาโน
PCD (เครื่องตรวจจับกระแสโพรบ)
AEM (เครื่องวัดกระแสไฟดูด)
TED (เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน)
BEI (เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบกระจายกลับ)
ของเหลว กับดักไนโตรเจน
อุปกรณ์ตัดลำแสง
สร้างใหม่ 3 มิติ ซอฟต์แวร์

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

FIB (ลำแสงไอออนเฉพาะจุด)

แหล่งกำเนิดไอออน แหล่งกำเนิดไอออนโลหะเหลวของ Ga
แรงดันไฟฟ้าเร่ง 1 ถึง 30 kV
การอวดอ้าง 30x (ดูพื้นที่ค้นหา) 100 ถึง 300,000x
ความละเอียดของภาพ 5 นาโนเมตร (ที่ 30 กิโลโวลต์)
กระแสไฟสูงสุด 30 nA (ที่ 30 kV)
รูรับแสงที่ปรับได้ 12 ขั้นตอน, มอเตอร์ไดรฟ์
รูปแบบการกัดด้วยลำแสงไอออน สี่เหลี่ยมผืนผ้า เส้น จุด

SEM (ลำแสงอิเล็กตรอน)

แรงดันไฟฟ้าเร่ง 0.2 ถึง 30 kV
การอวดอ้าง 20 ถึง 1,000,000x
ความละเอียดของภาพ รับประกัน 1.2 นาโนเมตร (แรงดันเร่ง 30 kV)
รับประกัน 3.0 นาโนเมตร (แรงดันเร่ง 1 kV)
กระแสไฟสูงสุด 200 นาโนเมตร
ขั้นตอนตัวอย่าง ระยะโกนิโอมิเตอร์
X: 50 มม. Y: 50 มม.; Z: 1.5 ถึง 41 มม.; T: -5 ถึง 70°; R: 360°
ปั๊มสุญญากาศ 2 SIP (SEM), 1 SIP (FIB), 1 TMP, 1 RP

ความต้องการติดตั้ง

แหล่งจ่ายไฟ เฟสเดียว 200 V 10%, 50/60 Hz. 6 เควีเอ
ขั้วกราวด์ หนึ่งประเภท D (100 โอห์มหรือน้อยกว่า)
อุณหภูมิห้อง 20 ° C ± 5 ° C
ความชื้น 60% หรือน้อยกว่า

ข้อมูลเพิ่มเติม

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา