โหมดการกัดละเอียดความเร็วสูงแบบใหม่ทำให้ได้ปริมาณงานตัดขวางคุณภาพสูงที่มากขึ้น
โหมดการกัดแบบไม่ต่อเนื่องเป็นโหมดมาตรฐาน ทำให้การจัดการชิ้นงานทดสอบที่ไวต่อความเสียหายจากความร้อนทำได้ง่ายขึ้น
การปรับปรุงเพื่ออำนวยความสะดวกในการประมวลผลวัสดุที่หลากหลาย ได้แก่ :
คุณสมบัติ
วิวัฒนาการของเครื่องขัดแบบ Cross Section Polisher (CP)
การประมวลผลความเร็วสูงทำได้ด้วยแหล่งไอออนใหม่
ลดความเสียหายของชิ้นงานด้วยการกัดละเอียดและโหมดไม่ต่อเนื่อง
ฟังก์ชัน Quick Start ช่วยลดเวลาดำเนินการทั้งหมด
กล้องมอนิเตอร์เป็นอุปกรณ์มาตรฐานที่ช่วยให้สามารถตรวจสอบกระบวนการกัดได้แบบเรียลไทม์
ฟังก์ชันการเคลือบป้องกันการชาร์จในแหล่งกำเนิด (ตัวเลือก)
คุณสมบัติของ IB-19510
★แหล่งไอออนความเร็วสูงใหม่
ส่ง500μm/h (เฉลี่ย 8kV/2 ชั่วโมง)
ผลการประมวลผลสำหรับ 8kV, 2 ชั่วโมง (Si)
★การตกแต่งที่เลือกได้
โดยการตั้งค่าพารามิเตอร์การกัดละเอียดหลังจากการประมวลผลด้วยความเร็วสูง
ความเสียหายของไอออนต่อส่วนตัดขวางสามารถลดลงได้
★การลดความเสียหายด้วยโหมดไม่ต่อเนื่อง
โหมดการกัดเป็นระยะเป็นมาตรฐาน ช่วยลดความเสียหายจากความร้อนของชิ้นงาน
การตั้งค่าไม่ต่อเนื่องสามารถเพิ่มได้ครั้งละ 1 วินาที
★ ฟังก์ชั่นการตรวจสอบกระบวนการ
กระบวนการของภาพตัดขวางสามารถตรวจสอบได้แบบเรียลไทม์ด้วยกล้อง CCD เป็นไปได้ที่จะเปลี่ยนกำลังขยาย
★ ฟังก์ชั่นการเคลือบป้องกันการชาร์จในแหล่งกำเนิด (ตัวเลือก)
สามารถเคลือบคาร์บอนคุณภาพสูงแบบบางได้ เหมาะสำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบ EBSD และ EDS ของชิ้นงานที่ไม่นำไฟฟ้า
★ ที่จับชิ้นงานแบบหมุนได้ (ตัวเลือก)
ตัวจับยึดที่ช่วยให้การกัดลำแสงไอออนในขณะที่ชิ้นงานหมุน
สามารถทำได้ทั้งแบบภาคตัดขวางและการกัดผิว
เหมาะสำหรับชิ้นงานที่มีแนวโน้มที่จะเกิดสิ่งประดิษฐ์ เช่น วัสดุที่มีรูพรุน ผงแป้ง และเส้นใย
เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการเก็บผิวละเอียดเพื่อขจัดความผิดเพี้ยนของงานกัด
ข้อมูลเพิ่มเติม
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป