การเปิดตัวกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดรุ่นใหม่ JSM-IT510 ซีรี่ส์ InTouchScope(TM) - ง่ายต่อการรับข้อมูลสำหรับตัวอย่างทุกประเภท -
วันวางจำหน่าย: 2021/11/08
JEOL Ltd. (ประธานและประธานเจ้าหน้าที่ฝ่ายปฏิบัติการ Izumi Oi) ประกาศการพัฒนาและการเปิดตัว Scanning Electron Microscope (SEM) รุ่นใหม่ในซีรีส์ JSM-IT510 ในเดือนพฤศจิกายน พ.ศ. 2021
ประวัติการพัฒนาผลิตภัณฑ์
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดใช้ในหลากหลายสาขา เช่น นาโนเทคโนโลยี โลหะ เซมิคอนดักเตอร์ เซรามิก ยารักษาโรค และชีววิทยา นอกจากนี้ แอปพลิเคชัน SEM ไม่เพียงแต่ขยายไปสู่การวิจัยขั้นพื้นฐานเท่านั้น แต่ยังรวมถึงการควบคุมคุณภาพที่ไซต์การผลิตด้วย ด้วยเหตุนี้ ความต้องการในการเก็บข้อมูลทั้งภาพ SEM และผลการวิเคราะห์ เช่น สเปกตรัมเอ็กซ์เรย์สเปกโตรสโคปี (EDS) แบบกระจายพลังงานจึงเพิ่มขึ้นอย่างรวดเร็วและง่ายขึ้น
เพื่อตอบสนองความต้องการเหล่านี้และเพิ่มปริมาณงาน เราได้พัฒนาซีรีส์ JSM-IT510 ซึ่งพัฒนาความสามารถในการใช้งานของ InTouchScope™ ยอดนิยมของเราต่อไป ด้วยฟังก์ชัน Simple SEM ใหม่ คุณสามารถ "ปล่อย" กิจวัตรประจำวันของคุณ (การทำงานซ้ำๆ) ไปที่เครื่องมือได้
คุณสมบัติหลัก
- ฟังก์ชัน "SEM อย่างง่าย" ใหม่
ฟังก์ชัน Simple SEM ช่วยให้ผู้ใช้สามารถเลือกเงื่อนไขการรับข้อมูลและขอบเขตการมองเห็นสำหรับอิมเมจ SEM จากนั้นจึงรับอิมเมจ SEM โดยอัตโนมัติ งานประจำสามารถทำให้มีประสิทธิภาพมากขึ้น - ใหม่ "เครื่องตรวจจับอิเลคตรอนรองแบบไฮบริดสูญญากาศต่ำ (LHSED)"
เครื่องตรวจจับใหม่นี้รวบรวมทั้งสัญญาณอิเล็กตรอนและโฟตอนโดยให้ภาพที่มี S/N สูงและข้อมูลภูมิประเทศที่ได้รับการปรับปรุงแม้ภายใต้สุญญากาศต่ำ - การบูรณาการของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) และระบบเอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายพลังงาน (EDS)
การผสานรวมของ SEM และ EDS ได้รับการพัฒนาเพิ่มเติม และฟังก์ชัน Live Map ช่วยให้สามารถแสดงแผนที่องค์ประกอบของเขตข้อมูลการสังเกตการณ์แบบสดได้ - ฟังก์ชัน "Live 3D" ใหม่
ภาพ 3 มิติสามารถสร้างได้ทันทีในขณะที่ทำการสังเกต SEM เพื่อให้ได้ข้อมูลที่ไม่เท่ากันและความลึก - ฟังก์ชันวิเคราะห์สด
ระบบ EDS แบบฝังจะแสดงสเปกตรัม EDS แบบเรียลไทม์ในระหว่างการสังเกตภาพเพื่อการวิเคราะห์องค์ประกอบที่มีประสิทธิภาพ - ฟังก์ชัน LS ระบบนำทางบนเวทีใหม่
ระบบนำทางสำหรับเวที LS ใหม่สามารถรับภาพออปติคัลของพื้นที่ที่ใหญ่กว่ารุ่นทั่วไปถึงสี่เท่า (200 มม. x 200 มม.) ฟังก์ชันนี้ช่วยให้ผู้ใช้สามารถรับภาพออปติคัลของตัวอย่างการสังเกตและย้ายไปยังฟิลด์การสังเกตการณ์ที่ต้องการได้ด้วยการคลิกที่ภาพออปติคัล - ซีโร่แม็ก
ด้วยฟังก์ชัน Zeromag การนำทางตัวอย่างทำได้ง่ายกว่าที่เคย คุณสามารถค้นหาพื้นที่สำหรับการถ่ายภาพหรือระบุตำแหน่งการวิเคราะห์ในหลายฟิลด์ได้โดยใช้ภาพออปติคัลหรือกราฟิคที่ยึด - การแสดงลักษณะเฉพาะของความลึกของการสร้างเอ็กซ์เรย์
สิ่งนี้สนับสนุนความเข้าใจในทันทีเกี่ยวกับความลึกของการวิเคราะห์ (ข้อมูลอ้างอิง) สำหรับตัวอย่าง - SMILE VIEW™ Lab ช่วยให้สามารถจัดการภาพและข้อมูลการวิเคราะห์ได้แบบบูรณาการ
อำนวยความสะดวกในการสร้างรายงานสำหรับข้อมูลทั้งหมดตั้งแต่ภาพ SEM ที่รวบรวมไปจนถึงผลการวิเคราะห์องค์ประกอบในเวลาอันสั้น
ข้อมูลจำเพาะที่หน้าหลัก
ความละเอียดโหมด HV | 3.0 นาโนเมตร (30 kV) 15.0 นาโนเมตร (1.0 kV) |
ความละเอียดโหมด LV | 4.0 นาโนเมตร (30 kV พร้อมภาพอิเล็กตรอนแบบกระจัดกระจาย) |
กำลังขยายโดยตรง | ×5 ถึง ×300,000 (กำหนดด้วยขนาดจอแสดงผล 128 มม. × 96 มม.) |
กำลังขยายที่แสดง | ×14 ถึง ×839,724 (กำหนดด้วยขนาดจอแสดงผล 358 มม. × 269 มม.) |
ปืนอิเล็กตรอน | ไส้หลอดทังสเตน (W) |
แรงดันไฟฟ้าเร่ง | 0.3 กิโลโวลต์เพื่อ 30 กิโลโวลต์ |
โพรบปัจจุบัน | 1 pA ถึง 1 μA |
การปรับแรงดัน LV | 10 ถึง 650 Pa |
ฟังก์ชั่นอัตโนมัติ | การปรับเส้นใย, การจัดตำแหน่งปืน, โฟกัส / สติกมาเตอร์ / ความสว่าง / ความคมชัด |
ขนาดตัวอย่างสูงสุด | เส้นผ่านศูนย์กลาง 200 มม. ความสูง 90 มม. |
ขั้นตอนตัวอย่าง | ประเภทยูเซนตริกขนาดใหญ่ X: 125 มม. Y: 100 มม. Z: 80 มม. เอียง: -10 ถึง 90° การหมุน: 360° |
สูตรมาตรฐาน | ในตัว (รวมถึงเงื่อนไข EDS) |
โหมดภาพ | ภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิ, ภาพอ้างอิง, ภาพองค์ประกอบ, ภาพภูมิประเทศ, ภาพสามมิติด้วยกล้องจุลทรรศน์สเตอริโอ |
ฟังก์ชัน EDS | การวิเคราะห์สเปกตรัม, การวิเคราะห์เชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ, การวิเคราะห์เส้น (เส้นแนวนอน, เส้นทิศทางเฉพาะ), การทำแผนที่องค์ประกอบ, การติดตามโพรบ |
หมายเหตุ: ข้อมูลจำเพาะและรูปถ่ายของอุปกรณ์เป็นของ JSM-IT510 (LA)
เป้าหมายการขาย
200 หน่วย / ปี
ลิงค์
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป