การเปิดตัวกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดภาคสนามชอตต์กีรุ่นใหม่ JSM-F100 — อีกระดับของความอัจฉริยะในการวิเคราะห์ใน FE-SEM สำหรับการรวมความละเอียดและความสามารถในการใช้งานสูง —
วันวางจำหน่าย: 2019/08/04
JEOL Ltd. (ประธานและประธานเจ้าหน้าที่ฝ่ายปฏิบัติการ Izumi Oi) ประกาศเปิดตัวกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสนาม Schottky ใหม่ JSM-F100 ที่จะวางจำหน่ายในเดือนสิงหาคม 2019
พื้นหลังการพัฒนาผลิตภัณฑ์
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEMs) ใช้ในหลากหลายสาขา เช่น นาโนเทคโนโลยี โลหะ สารกึ่งตัวนำ เซรามิก การแพทย์ และชีววิทยา เนื่องจากแอปพลิเคชัน SEM ขยายตัวไม่เพียงแค่ครอบคลุมการวิจัยและพัฒนาเท่านั้น แต่ยังรวมถึงการควบคุมคุณภาพและการตรวจสอบผลิตภัณฑ์ที่ไซต์การผลิตด้วย ผู้ใช้ SEM จึงต้องการข้อมูลคุณภาพสูงที่รวดเร็ว รวมถึงการยืนยันข้อมูลองค์ประกอบที่เรียบง่ายพร้อมการดำเนินการวิเคราะห์ที่ราบรื่น
เพื่อตอบสนองความต้องการเหล่านี้ JSM-F100 ไม่เพียงรวมเอาปืนยิงอิเล็กตรอนในสนาม Schottky Plus ที่ปล่อยในเลนส์ที่ได้รับการยอมรับอย่างสูงและ "Neo Engine" (ระบบควบคุมออปติคอลอิเล็กตรอน) แต่ยังรวมถึง GUI ใหม่ "SEM Center" และนวัตกรรม "LIVE -ตัวกรอง AI (Live Image Visual Enhancer-Artificial Intelligence)" ซึ่งช่วยให้สามารถผสมผสานการถ่ายภาพที่มีความละเอียดเชิงพื้นที่สูงและความสามารถในการใช้งานสูงได้อย่างลงตัว นอกจากนี้ JSM-F100 ยังมาพร้อมกับเครื่องสเปกโตรมิเตอร์รังสีเอกซ์แบบกระจายพลังงาน JEOL (EDS) ซึ่งผสานรวมอย่างสมบูรณ์ภายใน "SEM Center" เพื่อการได้มาซึ่งภาพที่ไร้รอยต่อจากผลการวิเคราะห์องค์ประกอบ JSM-F100 ได้รับแรงบันดาลใจจากผู้ใช้ในการติดตามวิวัฒนาการและการผสานรวมของประสิทธิภาพและความสามารถในการปฏิบัติงานสูง ทำให้มีประสิทธิภาพการทำงานที่ยอดเยี่ยม 50% หรือสูงกว่าซีรี่ส์ JSM-7000 ก่อนหน้าของเรา ซึ่งนำไปสู่ความสามารถในการรับส่งข้อมูลสูงที่เพิ่มขึ้นอย่างมาก
คุณสมบัติหลัก
- ปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนามไฟฟ้า Schottky Plus ในเลนส์
การผสานรวมที่ดีขึ้นของปืนอิเล็กตรอนและเลนส์คอนเดนเซอร์ที่มีความคลาดเคลื่อนต่ำทำให้มีความสว่างสูงขึ้น กระแสโพรบที่เพียงพอมีให้ที่แรงดันเร่งต่ำ รองรับความสามารถที่หลากหลาย ตั้งแต่การสร้างภาพความละเอียดสูงไปจนถึงการแมปองค์ประกอบด้วยความเร็วสูง - เลนส์ไฮบริด (HL)
เลนส์ไฮบริด (HL) ซึ่งเป็นการผสมผสานระหว่างเลนส์สนามไฟฟ้าสถิตและสนามแม่เหล็ก รองรับการถ่ายภาพที่มีความละเอียดสูงและการวิเคราะห์ชิ้นงานต่างๆ ตั้งแต่วัสดุแม่เหล็กไปจนถึงฉนวน - Neo Engine (เอ็นจิ้นออปติคัลอิเล็กตรอนใหม่)
Neo Engine ซึ่งเป็นระบบควบคุมออปติคอลอิเล็กตรอนที่ล้ำหน้า ได้รับการปรับปรุงความแม่นยำของฟังก์ชั่นอัตโนมัติอย่างมีนัยสำคัญ รวมถึงความสามารถในการทำงานที่สูงขึ้นอย่างยอดเยี่ยม - ฟังก์ชันใหม่ของ "SEM Center" สำหรับการบูรณาการ EDS
GUI การดำเนินการที่พัฒนาขึ้นใหม่ "SEM Center" รวมภาพ SEM และการวิเคราะห์ EDS ไว้อย่างสมบูรณ์ ฟังก์ชันอันทรงพลังนี้ให้ความสามารถในการทำงานในยุคถัดไปและภาพความละเอียดสูงที่ได้รับจาก FE-SEM - ฟังก์ชันใหม่ "Zeromag"
"Zeromag" ซึ่งรวมอยู่ในการเปลี่ยนจากการถ่ายภาพออปติคอลเป็น SEM ทำให้ง่ายต่อการค้นหาพื้นที่ตัวอย่างเป้าหมาย - ตัวกรอง LIVE-AI ใหม่*
การใช้ความสามารถของ AI (ปัญญาประดิษฐ์) ตัวกรอง LIVE-AI ถูกรวมเข้าด้วยกันเพื่อคุณภาพของภาพสดที่สูงขึ้น ต่างจากการประมวลผลการรวมรูปภาพ ฟิลเตอร์ใหม่นี้สามารถแสดงภาพเคลื่อนไหวที่เคลื่อนไหวได้อย่างราบรื่นโดยไม่มีภาพตกค้าง คุณลักษณะเฉพาะนี้มีประสิทธิภาพมากสำหรับการค้นหาพื้นที่การสังเกต การโฟกัส และการปรับสติกมาเตอร์อย่างรวดเร็ว
*ไม่จำเป็น
ข้อมูลจำเพาะที่หน้าหลัก
| ความละเอียด (1 กิโลโวลต์) | นาโนเมตร 1.3 |
|---|---|
| ความละเอียด (20 กิโลโวลต์) | นาโนเมตร 0.9 |
| แรงดันไฟฟ้าเร่ง | 0.01 ถึง 30 kV |
| เครื่องตรวจจับมาตรฐาน | ตัวตรวจจับอิเลคตรอนตัวบน (UED), ตัวตรวจจับอิเล็คตรอนตัวที่สอง (SED) |
| ปืนอิเล็กตรอน | ปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนามไฟฟ้า Schottky Plus ในเลนส์ |
| โพรบปัจจุบัน | ไม่กี่ pA ถึง 300 nA (30 kV) ไม่กี่ pA ถึง 100 nA (5 kV) |
| เลนส์ใกล้วัตถุ | เลนส์ไฮบริด (HL) |
| ขั้นตอนตัวอย่าง | ระยะโกนิโอมิเตอร์แบบยูเซนตริกแบบเต็ม |
| การเคลื่อนไหวของตัวอย่าง | X: 70 มม., Y: 50 มม., Z: 2 ถึง 41 มม เอียง: –5 ถึง 70°, หมุน: 360° |
| เครื่องตรวจจับ EDS | ความละเอียดพลังงาน: 133 eV หรือน้อยกว่า ธาตุที่ตรวจจับได้: B (โบรอน) ถึง U (ยูเรเนียม) พื้นที่ตรวจจับ: 60 มม2 |
เป้าหมายการขายต่อหน่วยประจำปี
60 หน่วย / ปี
ลิงค์
คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป