โซลูชันสำหรับการถ่ายภาพและการวิเคราะห์ระดับไมโครของแบตเตอรี่ลิเธียมไอออนโดยใช้ SEM, EPMA (Electron Probe Micro Analyzer), SXES และ Auger

วันวางจำหน่าย: 2022/10/26

นี่เป็นการสัมมนาผ่านเว็บครั้งแรกจากซีรี่ส์การสัมมนาผ่านเว็บเกี่ยวกับเทคนิคขั้นสูงในแบตเตอรี่ลิเธียมไอออนและการวิเคราะห์ลักษณะของวัสดุแบตเตอรี่ยุคหน้า (รวม 3 เว็บบินาร์)

การสัมมนาผ่านเว็บครั้งที่ 1 จะดูที่ 2 พื้นที่ อันดับแรก โฟกัสที่การเตรียมตัวอย่างด้วย CROSS SECTION POLISHER™ ที่แยกด้วยอากาศของ JEOL การถ่ายภาพด้วย SEM และการวิเคราะห์ด้วย EnergyDispersive X-ray Spectrometer (EDS) ส่วนที่ 2 จะมุ่งเน้นไปที่ข้อมูลการวิเคราะห์แบตเตอรี่ขั้นสูงจากเครื่องวิเคราะห์ Electron Probe Microanalyzer ที่ปล่อยภาคสนาม (FEG EPMA) พร้อมเครื่องสเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายความยาวคลื่น (สูงสุด 5 WDS + EDS) เครื่องสเปกโตรมิเตอร์การปล่อยรังสีเอกซ์แบบอ่อน (SXES) ที่เป็นเอกลักษณ์ของ JEOL และไมโครโพรบหัวสว่าน .

การสัมมนาผ่านเว็บนี้จัดทำโดย JEOL USA แต่จัดโดย AZO Materials นี่คือลิงค์ไปยังการลงทะเบียนการสัมมนาผ่านเว็บนี้ใน AZO Materials

วันที่/งวด

• วันที่: วันพฤหัสบดีที่ 27 ตุลาคม 14:00 น. EDT
  ประมาณ 60 นาที

• สถานที่: เว็บ

ค่าใช้จ่าย:

• ฟรี

ผลิตภัณฑ์

อุปกรณ์สำหรับเตรียมตัวอย่าง (CP)

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)

อิเล็กตรอนโพรบไมโครอนาไลเซอร์ (EPMA)

Auger ไมโครโพรบ (Auger)

ลงทะเบียน

การสัมมนาผ่านเว็บเหล่านี้จัดทำโดย JEOL USA แต่จัดโดย AZO Materials
นี่คือลิงค์ไปยังการลงทะเบียนการสัมมนาผ่านเว็บเหล่านี้ใน AZO Materials

ติดต่อ

อีเมล：tyajima[at]jeol.co.jp
(โปรดใช้ @ สำหรับ [at])
USA Group, SI ฝ่ายขายต่างประเทศ,
ฝ่ายขายเครื่องมือวิทยาศาสตร์และเครื่องมือวัด
บริษัท จอล จำกัด