Open Innovation USA : มหาวิทยาลัยอิลลินอยส์ ชิคาโก - การวิจัย
เกี่ยวกับ UIC
ในปี 2012 ศูนย์ได้ติดตั้งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่งผ่านความละเอียดอะตอมที่แก้ไขความคลาดเคลื่อน JEM-ARM200F นักวิจัยที่ใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสามารถเข้าใช้เทคนิคการวิเคราะห์ที่หลากหลาย รวมทั้งการถ่ายภาพด้วยความคมชัด Z และสเปกโตรสโคปีการสูญเสียพลังงานอิเล็กตรอนสำหรับการตรวจสอบวัสดุขั้นสูง ทั้งวัสดุคอมโพสิตและการทดลองทางชีววิทยาสามารถสังเกตพบได้ในแหล่งกำเนิดระหว่างการศึกษาความร้อนแบบไดนามิกโดยใช้ขั้นตอนของตัวอย่างที่ให้ความร้อน
นักวิจัยหลัก ดร. Robert Klie ให้ความสำคัญกับข้อบกพร่องและส่วนต่อประสานในตัวนำยิ่งยวดออกไซด์หรือบอไรด์ โครงสร้างเฮเทอโรของสารกึ่งตัวนำ และระบบตัวเร่งปฏิกิริยาต่างกัน นักวิจัยของมหาวิทยาลัยเพิ่มเติมศึกษาท่อนาโนและเส้นใยนาโนกลวง อนุภาคนาโนของเซมิคอนดักเตอร์ที่ฝังอยู่ในฟิล์มอินทรีย์ กระบวนการธรณีเคมีที่ส่วนติดต่อของแร่ธาตุและน้ำ นิวเคลียสและการเติบโตของอนุภาคนาโนแร่ และองค์ประกอบที่ใช้เป็นตัวเร่งปฏิกิริยา
การพักผ่อน
มหาวิทยาลัยอิลลินอยส์ที่ชิคาโกเป็นศูนย์กลางของการวิจัยความละเอียดของอะตอมด้วยการติดตั้ง S/TEM ที่แก้ไขความคลาดเคลื่อน ARM200F พร้อมปืนปล่อยสนามเย็น ความสามารถในการมองเห็นโครงสร้างอะตอมในความละเอียดนี้จะช่วยเพิ่มการวิจัยเกี่ยวกับพลังงานของมหาวิทยาลัย ARM200F ได้รับการติดตั้งในห้องที่ควบคุมโดยสิ่งแวดล้อมพร้อมระบบแผงไฮโดรเรเดียนท์
ผลิตภัณฑ์
JEM-ARM200CF TEM/STEM พร้อมปืนปล่อยสนามเย็น, เครื่องมือแก้ไขความคลาดเคลื่อนของโพรบ CEOS, กล้องดิจิตอล Gatan, เอ็กซ์เรย์สเปกโทรสโกปีแบบกระจายพลังงานออกซ์ฟอร์ด (XEDS) และกาทานอิเล็กตรอนพลังงานสูญเสียสเปกโทรสโกปี (EELS)
JEM-3010 พร้อมกล้องดิจิตอล Gatan และ Thermo-Noran XEDS
JSM-6320F ความละเอียดสูง Field Emission SEM พร้อม Thermo-Noran XEDS
แกลเลอรี่ภาพ
