ศูนย์โซลูชัน JEOL-Nikon CLEM
การพักผ่อน
JEOL Ltd. (ประธาน Gon-emon Kurihara) มีความยินดีที่จะประกาศเปิดตัว “JEOL-Nikon CLEM Solution Center” ซึ่งเป็นโครงการความร่วมมือระหว่าง Nikon และ JEOL Ltd. ก่อตั้งขึ้นเมื่อวันที่ 1 กันยายน 2017 โดยศูนย์จะเปิดให้บริการใน R & D การสร้าง JEOL เพื่อให้ประสบการณ์ในการรวบรวมและส่งมอบข้อมูลทางเทคนิคเกี่ยวกับโซลูชั่น CLEM* ที่ทันสมัย
* CLEM: กล้องจุลทรรศน์แสงและอิเล็กตรอนที่สัมพันธ์กัน
ภาพรวมของ JEOL-Nikon CLEM Solution Center
| ที่อยู่ | เจโอล ลิมิเต็ด 3-1-2 มูซาชิโนะ อากิชิมะ โตเกียว |
|---|---|
| การติดตั้งที่สำคัญ | กล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล (กล้องจุลทรรศน์สเตอริโอ, กล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรม, ระบบกล้องจุลทรรศน์แบบเลเซอร์คอนโฟคอล)
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด, กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด, เครื่องวิเคราะห์ไมโครโพรบอิเล็กตรอน) และอุปกรณ์การเตรียมตัวอย่างประเภทต่างๆ |
| โทร | สายด่วนของเรา +81-3-6262-3567 |
| สาธิต | โปรดติดต่อศูนย์เพื่อจัดเตรียมการสาธิต การสาธิตทำได้โดยการนัดหมายเท่านั้น |
CLEM เป็นวิธีสังเกตและวิเคราะห์ที่มีประสิทธิภาพซึ่งรวมข้อดีของกล้องจุลทรรศน์สองประเภทเข้าด้วยกัน: กล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล ซึ่งช่วยให้สามารถสังเกตการณ์ภาคสนามที่กว้างอย่างรวดเร็วและรับข้อมูลตำแหน่งและการโลคัลไลเซชันของโมเลกุล และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ซึ่งช่วยให้ได้ข้อมูลโครงสร้างนาทีโดยการสังเกต ของตัวอย่างที่มีความละเอียดเชิงพื้นที่สูง ในช่วงไม่กี่ปีที่ผ่านมา ความจำเป็นในการใช้ CLEM อย่างมีประสิทธิภาพมากขึ้นโดยการเชื่อมโยงกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลและอิเล็กตรอนผ่านซอฟต์แวร์ ได้เพิ่มขึ้นในการวิจัยด้านวิทยาศาสตร์ชีวภาพและการพัฒนาวัสดุที่ทันสมัย
ในปี 2013 JEOL ได้พัฒนา “miXcroscopy™ Linked Optical & Scanning Electron Microscopy System” โดยความร่วมมือกับ Nikon นอกจากนี้ ในเดือนกุมภาพันธ์ 2014 JEOL ได้ลงนามในข้อตกลงร่วมทุนและพันธมิตรทางธุรกิจกับ Nikon และได้ส่งเสริมความร่วมมือระหว่างทั้งสองบริษัทเพื่อสร้างโซลูชัน CLEM ที่รวมเอากล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลของ Nikon และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนของ JEOL เข้าไว้ด้วยกัน ตลอดจนเพิ่มความสามารถในการพัฒนาผลิตภัณฑ์และการขาย
ที่ศูนย์โซลูชันแห่งใหม่ เราจะแนะนำ "miXcroscopy™" และนำเสนอโซลูชัน CLEM เพื่อส่งเสริมการใช้ CLEM นอกจากนี้ เราจะรวบรวมและส่งมอบข้อมูลที่จะปรับปรุงเทคโนโลยี CLEM ผ่านการพูดคุยกับลูกค้าของเรา และมีส่วนช่วยในการสร้างประโยชน์ใหม่ๆ ในการวิจัยด้านวิทยาศาสตร์ชีวภาพและการพัฒนาวัสดุ
ตัวอย่าง: การสังเกต CLEM ของวัสดุแปลกปลอมบนเซรามิกแก้ว
การตรวจจับสิ่งแปลกปลอมโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง (ซ้าย) จับภาพความละเอียดสูงเหล่านั้นโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (กลาง) และวิเคราะห์องค์ประกอบของสารผ่านการวิเคราะห์เอ็กซ์เรย์ที่มีลักษณะเฉพาะโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (ขวา) เป็นผลให้สารแปลกปลอมถูกระบุว่าเป็นเหล็ก CLEM ช่วยให้สามารถตรวจจับ ระบุและวิเคราะห์สารแปลกปลอมได้อย่างรวดเร็วและแม่นยำ รวมทั้งตรวจสอบและวิเคราะห์คุณภาพผลิตภัณฑ์ได้อย่างมีประสิทธิภาพมากขึ้น ซึ่งมีส่วนช่วยในการปรับปรุงประสิทธิภาพการผลิตในโรงงานและห้องปฏิบัติการ