JEOL NEWS｜วารสารเทคนิค

ข่าว JEOL
ปีที่ 61 No.1, 2026
PDF: 27.1 MB

เนื้อหา

การกำหนดตำแหน่งระดับนาโนของข้อบกพร่องสปินที่มีความสอดคล้องสูงในเพชรโดยใช้ JBX-8100FS

ซองฮุน คิม¹ปาซ ลอนดอน¹ไดเผิง หยาง¹ลิเลียน บี. ฮิวส์¹เจฟฟรีย์ อาห์เลอร์ส¹ไซมอน เมย์เนลล์¹วิลเลียม เจ. มิตเชลล์²คุนัล มูเคอร์จี³ และ อานิอา ซี. เบลซินสกี จายิช¹

¹ ภาควิชาฟิสิกส์ มหาวิทยาลัยแคลิฟอร์เนีย ซานตาบาร์บารา ² ศูนย์การผลิตระดับนาโน มหาวิทยาลัยแคลิฟอร์เนีย ซานตาบาร์บารา ³ ภาควิชาวิทยาศาสตร์และวิศวกรรมวัสดุ มหาวิทยาลัยสแตนฟอร์ด

การพัฒนาระบบ ED/MicroED 3 มิติแบบกึ่งอัตโนมัติและการใช้งานในฐานะสิ่งอำนวยความสะดวกแบบใช้ร่วมกัน

นารูฮิโกะ อาดาจิ^1,2,อายากะ ฮาราดะ1, เคนจิ อิวาซากิ¹

¹ TARA, มหาวิทยาลัยสึกุบะ ² ศูนย์พัฒนาโซลูชั่น JEOL Ltd.

การวิเคราะห์โครงสร้างของอะลูมินาอสัณฐานโดยใช้สเปกโทรสโกปีนิวเคลียร์แมกเนติกเรโซแนนซ์

ฮิเดกิ ฮาชิโมโตะ

¹ ภาควิชาเคมีประยุกต์ คณะวิศวกรรมศาสตร์ขั้นสูง มหาวิทยาลัยโคกาคุอิน ² สถาบันวัสดุศาสตร์แห่งชาติ (NIMS) ³ เจเอสที เพรสโต (วัสดุแห่งอนาคต)

วิธีสร้างภาพ STEM ความละเอียดสูงสำหรับชิ้นงานเอียงโดยใช้ตัวแก้ไขความคลาดเคลื่อนชนิดใหม่

วาตารุ โคอิบุจิ, ริวสุเกะ ซากาวะ

หน่วยธุรกิจ EM, ฝ่ายปฏิบัติการธุรกิจ SI, บริษัท JEOL จำกัด

การหาโครงสร้างของผงนาโนคริสตัลไลน์: แนวทางของโยโกกุชิที่ผสานรวม ED, HRMS, NMR และการคำนวณ

ยูสุเกะ นิชิยามะ

ศูนย์พัฒนาโซลูชั่น JEOL Ltd.

มุ่งสู่ระบบอัตโนมัติเต็มรูปแบบสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน: การเปลี่ยนตัวอย่างและการวัดโดยอัตโนมัติด้วย Neo Action Robo

ทัตสึโระ นาโกชิ, โนริยูกิ อิโนะอุเอะ, ยาสุยูกิ โอคาโนะ

หน่วยธุรกิจ EP, ฝ่ายปฏิบัติการธุรกิจ SI, บริษัท JEOL จำกัด

บทนำเกี่ยวกับระบบวงจรการชาร์จ-คายประจุแบบในสถานที่และการประยุกต์ใช้แบตเตอรี่

ทัตสึฮิโตะ คิมูระ, ยาสุอากิ ยามาโมโตะ

หน่วยธุรกิจ EP, ฝ่ายปฏิบัติการธุรกิจ SI, บริษัท JEOL จำกัด

การขยายขอบเขตการวิเคราะห์การวางแนวผลึกในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนระดับเริ่มต้น

โยเฮอิโคจิมะ¹ และฮิโรคิ บาบา²

¹ บริษัท จอล จำกัด ² บรูเกอร์ เจแปน เคเค

การพัฒนาระบบสเปกโทรสโกปีอิเล็กตรอน (f-HSA) และการประยุกต์ใช้ในการถ่ายภาพสเปกตรัมความเร็วสูง

โนโบรุ ทากุจิ¹,ทัตสึยะ อุจิดะ¹,ฟุยูกิ นาเบชิมะ¹,โคโนมิ อิคิตะ¹อากิฮิโระ ทานากะ²,คาซึชิโระ โยโกอุจิ¹,โทชิยูกิ โอฮามะ¹, เคนอิจิ สึสึมิ¹

¹ หน่วยธุรกิจ SA, ฝ่ายปฏิบัติการธุรกิจ SI, บริษัท JEOL จำกัด ² ศูนย์พัฒนาโซลูชั่น JEOL Ltd.

การพัฒนาระบบ DNP-NMR แบบโซลิดสเตทอุณหภูมิต่ำพิเศษโดยใช้แหล่งกำเนิดไมโครเวฟขนาดกะทัดรัด

ฮิโรกิ ทากาฮาชิ

หน่วยธุรกิจ NM, ฝ่ายปฏิบัติการธุรกิจ SI, บริษัท JEOL จำกัด

การวิเคราะห์เมตาบอไลต์ในเซลล์ HeLa โดยใช้ GC×GC-TOFMS และซอฟต์แวร์วิเคราะห์โครงสร้างสารประกอบที่ไม่ทราบชนิด msFineAnalysis AI

อาซึสะ คูโบตะ, อายูมิ คูโบะ

หน่วยธุรกิจ MS, ฝ่ายปฏิบัติการธุรกิจ SI, บริษัท JEOL จำกัด