ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

ความหนาของฟิล์มโดยวิธี Thin Film FP

ตัวอย่างการวัดบนตัวอย่างมาตรฐานการชุบ

บทนำ

การเคลือบผิว เช่น การชุบโลหะ ถูกนำมาใช้กับชิ้นส่วนต่างๆ เพื่อเพิ่มความต้านทานการกัดกร่อน การตกแต่ง และฟังก์ชันการใช้งาน เนื่องจากความหนาของฟิล์มเหล่านี้เกี่ยวข้องกับคุณลักษณะ คุณภาพ และต้นทุนการผลิตของผลิตภัณฑ์ จึงจำเป็นอย่างยิ่งที่จะต้องควบคุมความหนา เครื่องวัดสเปกตรัมฟลูออเรสเซนซ์เอ็กซ์เรย์ของ JEOL สามารถวัดความหนาของฟิล์มได้โดยไม่ทำลายชิ้นงาน (สูงสุด 5 ชั้น) ด้วยวิธี FP ขั้นสูงของเรา จึงไม่จำเป็นต้องใช้มาตรฐานใดๆ

ตัวอย่างการวัดฟิล์มบาง

การชุบทองคำ

ตัวอย่าง
เงื่อนไขการวัด

แรงดันไฟฟ้า: 50 กิโลโวลต์
เส้นผ่านศูนย์กลางของคอลลิเมเตอร์: 0.9 มม.
บรรยากาศ: อากาศ
ระยะเวลาการวัด: 60 วินาที

สเปกตรัม
ผลการวิเคราะห์
ค่าที่ได้รับการรับรอง (µm) ผลการวิเคราะห์ (µm)
1.99 2.06

การชุบนิกเกล

ตัวอย่าง
เงื่อนไขการวัด

แรงดันไฟฟ้าของหลอด: 50 kV
เส้นผ่านศูนย์กลางของคอลลิเมเตอร์: 0.9 มม.
บรรยากาศ: อากาศ
ระยะเวลาการวัด: 60 วินาที

สเปกตรัม
ผลการวิเคราะห์
ค่าที่ได้รับการรับรอง (µm) ผลการวิเคราะห์ (µm)
0.99 1.10

การชุบสังกะสี

ตัวอย่าง
เงื่อนไขการวัด

แรงดันไฟฟ้าของหลอด: 50 kV
เส้นผ่านศูนย์กลางของคอลลิเมเตอร์: 0.9 มม.
บรรยากาศ: อากาศ
ระยะเวลาการวัด: 60 วินาที

สเปกตรัม
ผลการวิเคราะห์
ค่าที่ได้รับการรับรอง (µm) ผลการวิเคราะห์ (µm)
2.61 2.81

การชุบเงิน

ตัวอย่าง
เงื่อนไขการวัด

แรงดันไฟฟ้าของหลอด: 50 kV
เส้นผ่านศูนย์กลางของคอลลิเมเตอร์: 0.9 มม.
บรรยากาศ: อากาศ
ระยะเวลาการวัด: 60 วินาที

สเปกตรัม
ผลการวิเคราะห์
ค่าที่ได้รับการรับรอง (µm) ผลการวิเคราะห์ (µm)
8.97 8.89
 

การแก้ปัญหาตามสาขา

รายการสินค้า ที่เกี่ยวข้อง

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

พื้นฐานเครื่องดนตรี JEOL

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ช่องทางการติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา