ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

การทดสอบ / วิเคราะห์สิ่งแปลกปลอมบนพื้นผิวเรซินโดยการวิเคราะห์ด้วยรังสีเอกซ์

การวิเคราะห์สารต่างประเทศโดย XRF และ SEM-EDS

การวิเคราะห์สารปนเปื้อนที่อยู่ในผลิตภัณฑ์หรือสารปนเปื้อนสามารถให้ข้อมูลที่สำคัญเกี่ยวกับเส้นทางที่นำสารแปลกปลอมเข้ามาหรือแหล่งที่มาของความล้มเหลว
เนื่องจากเอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนซ์สเปกโตรมิเตอร์ (ED-XRF) สามารถวิเคราะห์ธาตุได้อย่างรวดเร็วและไม่ทำลายตัวอย่างทุกประเภท เช่น ของแข็ง ของเหลว และผง จึงสามารถใช้เป็นเครื่องมือในการคัดกรองได้ 
โปรดดูไฟล์ PDF สำหรับข้อมูลเพิ่มเติม
หน้าต่างอื่นจะเปิดขึ้นเมื่อคุณคลิก

PDF350KB

การแก้ปัญหาตามสาขา

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา