การทดสอบ / วิเคราะห์สิ่งแปลกปลอมบนพื้นผิวเรซินโดยการวิเคราะห์ด้วยรังสีเอกซ์
การวิเคราะห์สารต่างประเทศโดย XRF และ SEM-EDS
การวิเคราะห์สารปนเปื้อนที่อยู่ในผลิตภัณฑ์หรือสารปนเปื้อนสามารถให้ข้อมูลที่สำคัญเกี่ยวกับเส้นทางที่นำสารแปลกปลอมเข้ามาหรือแหล่งที่มาของความล้มเหลว
เนื่องจากเอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนซ์สเปกโตรมิเตอร์ (ED-XRF) สามารถวิเคราะห์ธาตุได้อย่างรวดเร็วและไม่ทำลายตัวอย่างทุกประเภท เช่น ของแข็ง ของเหลว และผง จึงสามารถใช้เป็นเครื่องมือในการคัดกรองได้
เนื่องจากเอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนซ์สเปกโตรมิเตอร์ (ED-XRF) สามารถวิเคราะห์ธาตุได้อย่างรวดเร็วและไม่ทำลายตัวอย่างทุกประเภท เช่น ของแข็ง ของเหลว และผง จึงสามารถใช้เป็นเครื่องมือในการคัดกรองได้
- โปรดดูไฟล์ PDF สำหรับข้อมูลเพิ่มเติม
หน้าต่างอื่นจะเปิดขึ้นเมื่อคุณคลิก
PDF350KB
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
การแก้ปัญหาตามสาขา


คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?
ไม่
โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป