ปิด Btn

เลือกไซต์ภูมิภาคของคุณ

ปิดหน้านี้

JSX-3400RII เอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนซ์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายพลังงาน

ยกเลิก

JSX-3400RII เอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนซ์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายพลังงาน

เอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนซ์สเปกโตรมิเตอร์ที่มีความไวสูง เครื่องตรวจจับสารกึ่งตัวนำไนโตรเจนเหลว Si (Li) ความละเอียดสูง

คุณสมบัติ

JSX-3400RII เป็นเครื่องมือ XRF สำหรับวัตถุประสงค์ทั่วไปซึ่งยอดเยี่ยมเกี่ยวกับอัตราส่วนประสิทธิภาพต้นทุนซึ่งใช้เครื่องตรวจจับประเภทไนโตรเจนเหลว

JSX-3400RII ใช้เครื่องตรวจจับ Si(Li) ที่มีความไวสูงสำหรับธาตุหนัก ระบบออปติคัล shot-path ในอดีตที่มากกว่าเครื่องและตัวกรองพิเศษ JSX-3400RⅡ สามารถวัดองค์ประกอบการติดตามได้ในเวลาอันสั้น

ความละเอียดของตัวตรวจจับของ JSX-3400RⅡ นั้นสูง จึงสามารถแยกจุดสูงสุดขององค์ประกอบแสง เช่น Mg, Al และ Si ได้อย่างชัดเจน

การวิเคราะห์เชิงปริมาณดำเนินการโดยไม่มีสารมาตรฐานและใช้วิธี FP (วิธีพารามิเตอร์พื้นฐาน)

เนื่องจาก Collimator ขนาด 1 mmphi ได้รับการติดตั้งตามมาตรฐาน จึงสามารถวิเคราะห์และตรวจสอบสารแปลกปลอมได้

JSX-3400RII มีคุณสมบัติที่เหมือนจริงของผลรวมสูงสุดเป็นมาตรฐาน และการวิเคราะห์เชิงคุณภาพก็เป็นเรื่องง่าย
หากใช้ซอฟต์แวร์กำจัด Sum-Peak ของตัวเลือก เราจะปรับปรุงความแม่นยำของวิธีการวิเคราะห์เชิงปริมาณให้มากขึ้น

วิธี FP ฟิล์มบางสามารถวิเคราะห์ความหนาและองค์ประกอบ
ของแต่ละชั้นในฟิล์มบางหลายชั้น เช่น การชุบคอมโพสิต การชุบโลหะผสมโดยไม่มีตัวอย่างอ้างอิง

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

ช่วงองค์ประกอบการตรวจจับ นาถึงยู
เครื่องกำเนิดรังสีเอกซ์ 5 ถึง 50kV 1mA 50W
เป้า Rh
ตัวกรอง การแลกเปลี่ยนอัตโนมัติสี่ตำแหน่ง (รวมเปิด)
Collimator 1mm/3mm/7mm
เครื่องตรวจจับ เครื่องตรวจจับสารกึ่งตัวนำ Si(Li)
ไนโตรเจนเหลว น้ำค้าง 3 ลิตร บริโภค 1 ลิตร/วัน
ขนาดห้องตัวอย่าง เส้นผ่านศูนย์กลาง 300 มม. x 150 มม. (ส)
บรรยากาศในห้องตัวอย่าง อากาศ (สุญญากาศ: ตัวเลือก)
คอมพิวเตอร์ส่วนบุคคล ระบบปฏิบัติการ:Windows®7
เครื่องพิมพ์สีจอแสดงผลคริสตัลเหลว
ซอฟต์แวร์ การวิเคราะห์ RoHS: การวิเคราะห์องค์ประกอบ 5 พลาสติก, การวิเคราะห์องค์ประกอบวัสดุโลหะ 5, ซอฟต์แวร์การรายงานผลการวิเคราะห์
การวิเคราะห์ทั่วไป: วิธี FP จำนวนมาก วิธี FP แบบฟิล์มบาง วิธีเส้นโค้งการสอบเทียบ
ซอฟต์แวร์บำรุงรักษา ซอฟต์แวร์สอบเทียบเครื่องมือ สตาร์ทเตอร์ JSX
ให้ตัวอย่าง ตัวอย่างการสอบเทียบพลังงาน ตัวอย่างการตรวจสอบเครื่องมือ ตัวอย่างมาตรฐานความเข้ม
  • ประกาศ: Windows เป็นเครื่องหมายการค้าจดทะเบียนของ Microsoft Corporation ในสหรัฐอเมริกาและประเทศอื่นๆ

ข้อมูลเพิ่มเติม

พื้นฐานวิทยาศาสตร์

คำอธิบายง่ายๆ เกี่ยวกับกลไกและ
การใช้งานผลิตภัณฑ์ JEOL

ปิดหน้านี้
แจ้งให้ทราบ

คุณเป็นผู้เชี่ยวชาญทางการแพทย์หรือบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการรักษาพยาบาลหรือไม่?

ไม่

โปรดทราบว่าหน้าเหล่านี้ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อให้ข้อมูลเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์แก่ประชาชนทั่วไป

ติดต่อ

เจอีโอแอล ให้บริการสนับสนุนที่หลากหลายเพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าของเราสามารถใช้ผลิตภัณฑ์ของเราได้อย่างสบายใจ
โปรดติดต่อเรา