JSX-3100RII เอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนซ์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายพลังงาน

เอ็กซเรย์ฟลูออเรสเซนซ์สเปกโตรมิเตอร์ที่มีความไวสูง เครื่องตรวจจับสารกึ่งตัวนำ Si (Li) ปราศจากไนโตรเจนเหลวที่มีความละเอียดสูง

คุณสมบัติ

JSX-3100RII เป็นเอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนซ์สเปกโตรมิเตอร์ (XRF) ที่ติดตั้งเครื่องตรวจจับ Si(Li) ความไวสูง ความละเอียดสูง ปราศจากไนโตรเจนเหลว
JSX-3100RII ติดตั้งเครื่องทำความเย็นที่ไม่เหมือนใคร ซึ่งกำจัดไนโตรเจนเหลวสำหรับการตรวจวัด
JSX-3100RII ติดตั้งระบบการอพยพซ้ำสำหรับเครื่องตรวจจับรังสีเอกซ์ ซึ่งทำให้การทำงานมีเสถียรภาพเป็นเวลานาน
JSX-3100RII ติดตั้งเครื่องตรวจจับ Si(Li) ความไวสูง ระบบออปติคอลเส้นทางสั้น และตัวกรองพิเศษ ซึ่งทำให้สามารถวัดองค์ประกอบการติดตามได้ในเวลาอันสั้น
JSX-3100RII ติดตั้งเครื่องตรวจจับ SI(Li) ความละเอียดสูง ซึ่งทำให้สามารถแยกจุดสูงสุดขององค์ประกอบที่เบา เช่น Mg, Al และ Si ได้อย่างชัดเจน
การวิเคราะห์เชิงปริมาณสามารถทำได้โดยไม่มีสารมาตรฐานใดๆ โดยวิธี FP (วิธีพารามิเตอร์พื้นฐาน)
JSX-3100RII ติดตั้ง collimator เส้นผ่านศูนย์กลาง 1 มม. และกล้อง CCD เป็นมาตรฐาน ซึ่งช่วยให้ผู้ใช้สามารถสังเกตและวิเคราะห์ตัวอย่างขนาดเล็ก เช่น สารแปลกปลอม
JSX-3100RII มีฟังก์ชันการบ่งชี้ผลรวมสูงสุดเป็นมาตรฐาน ซึ่งทำให้ผู้ใช้ดำเนินการวิเคราะห์เชิงคุณภาพได้ง่าย
นอกจากนี้ ซอฟต์แวร์เสริม Sum-peak Removal ช่วยเพิ่มความแม่นยำของการวิเคราะห์เชิงปริมาณได้
วิธี Thin Film FP สามารถวิเคราะห์ความหนาและองค์ประกอบของแต่ละชั้นในตัวอย่างฟิล์มบางหลายชั้น เช่น การชุบคอมโพสิต และการชุบโลหะผสมโดยไม่ต้องใช้ตัวอย่างมาตรฐาน
วิธีฟิล์มบาง FP ได้รับการติดตั้งเป็นอุปกรณ์มาตรฐาน

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

• ประกาศ: Windows เป็นเครื่องหมายการค้าจดทะเบียนของ Microsoft Corporation ในสหรัฐอเมริกาและประเทศอื่นๆ

ข้อมูลเพิ่มเติม