จังหวะ

รหัส-04320เทมโป  
ระบบปรับเปลี่ยนตามเหตุการณ์ TEMPO (2 ช่อง)
รหัส-04340เทมโป  
ระบบปรับเปลี่ยนตามเหตุการณ์ TEMPO (4 ช่อง)

TEMPO (Trigger-Event Modulated Probability Observation) ช่วยเพิ่มปริมาณข้อมูลที่ได้รับจากปริมาณอิเล็กตรอนที่กำหนด หรือประสิทธิภาพของข้อมูล ในการทดลอง STEM แนวคิดนั้นเรียบง่าย: ผลตอบแทนของข้อมูลจะลดลงอย่างมากเมื่อตรวจจับอิเล็กตรอนมากขึ้นจากแต่ละจุดในการสแกน STEM ดังนั้นสำหรับแต่ละช่วงเวลาการตรวจจับ ให้ปิดลำแสงอิเล็กตรอนอย่างรวดเร็วหลังจากนับอิเล็กตรอนได้จำนวนหนึ่ง (โดยทั่วไป 1-25 ตัว) และเปิดใหม่อีกครั้งเมื่อเริ่มต้นช่วงเวลาการตรวจจับถัดไป ในรูปแบบการสร้างภาพใหม่นี้ TEMPO ความเข้มของพิกเซลถูกกำหนดโดยเวลาที่ใช้ในการตรวจจับอิเล็กตรอนจำนวนคงที่ แทนที่จะเป็นจำนวนอิเล็กตรอนที่ตรวจพบในเวลาคงที่ แม้ว่าความแตกต่างนี้อาจดูเล็กน้อย แต่ผลกระทบต่อการลดความเสียหายของชิ้นงานนั้นมีมาก TEMPO เป็นอุปกรณ์เสริมที่ต้องใช้ EDM Synchrony โปรดตรวจสอบให้แน่ใจว่าได้รวม EDM Synchrony ไว้ในการกำหนดค่าแล้ว หาก EDM Synchrony ได้รับการกำหนดค่าไว้แล้วใน TEM ที่จัดส่งมา สามารถติดตั้ง TEMPO เพิ่มเติมได้

คุณสมบัติ

• สามารถใช้งานร่วมกับเครื่องตรวจจับ STEM อนาล็อกที่มีอยู่และเครื่องปิดลำแสงที่ขับเคลื่อนด้วย TTL

• ประสิทธิภาพข้อมูลสูงสุดที่สกัดมาจากปริมาณอิเล็กตรอนที่ส่งมอบขั้นต่ำ

• ปรับสมดุลปริมาณยาหรือความแม่นยำได้อย่างยืดหยุ่นตลอดช่วงรอบการทำงานเต็มรูปแบบผ่านเงื่อนไขการทริกเกอร์การปิดการทำงาน

ข้อบ่งชี้จำเพาะ

รูปภาพ

การใช้วัสดุ

การเปรียบเทียบความคมชัดของภาพระหว่าง TEMPO และการถ่ายภาพ STEM ทั่วไปของ SrTiO₃ภาพทั้งสองภาพแสดงเป็นหน่วยเหตุการณ์ต่อไมโครวินาที ข้อมูลเชิงปริมาณที่นำเสนอโดย TEMPO นั้นเหมือนกับวิธีการทั่วไปทุกประการ ภาพ TEMPO ใช้ปริมาณอิเล็กตรอน 210 ตัวต่อพิกเซล ในขณะที่ภาพทั่วไปใช้ปริมาณเฉลี่ยโดยรวมที่ใกล้เคียงกัน

ตัวอย่าง: Zeolite FAU Y-type <110>
วิธีการ: ADF STEM
เครื่องดนตรี : JEM-ARM300F2 (ช่องว่างกว้าง)
ตัวแก้ไข: ตัวแก้ไข STEM-ETA (ตัวแก้ไข JEOL)
แรงดันเร่ง: 300 กิโลโวลต์
กำลังขยายการสแกน: ×12,000,000
การรับข้อมูล: ซ้อนภาพ 20 ภาพ
ระยะเวลาเปิดรับแสง: 10 μs/พิกเซล
กึ่งมุมบรรจบ: 8 มิลลิเรเดียน
การแพร่กระจายพลังงาน: 0.37 eV (ค่าอ้างอิง)
กระแสโพรบ: 0.57 pA

ซีโอไลต์มีความไวต่อการฉายรังสีอิเล็กตรอน ทำให้เป็นตัวอย่างที่ท้าทายมากสำหรับการถ่ายภาพความละเอียดสูงด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน ภาพ STEM ของซีโอไลต์ด้านบนได้มาจากการลดความเสียหายของลำแสงอิเล็กตรอนอย่างมีนัยสำคัญโดยใช้ตัวปรับปริมาณอิเล็กตรอนและระบบปรับเปลี่ยนตามเหตุการณ์ (TEMPO) จาก IDES, Inc และ turboTEM ภาพ STEM ได้รับมาจากอิเล็กตรอนที่ตรวจพบสองตัวต่อพิกเซล และได้ภาพ STEM ติดต่อกัน 20 ภาพภายใต้เงื่อนไขเดียวกัน ภาพ A ทางซ้ายแสดงภาพ STEM แรก ในขณะที่ภาพ B ทางขวาแสดงภาพ STEM ที่ 20 ภาพ STEM ทั้ง 20 ภาพซ้อนทับผ่านการจับคู่เทมเพลตเพื่อแก้ไขการเบี่ยงเบนของตัวอย่าง ส่งผลให้ได้ภาพ C ด้านบน ปริมาณรังสีอิเล็กตรอนเฉลี่ยอยู่ที่ 371 e-/Ų.

การปรับปรุงอัตราส่วนสัญญาณต่อสัญญาณรบกวน (S/N) ใน STEM โดยใช้วิธีการนับอิเล็กตรอน

ด้วยการติดตั้งอุปกรณ์ประมวลผลดิจิทัล STEM (ID-04420PULSE / ID-04440PULSE) เข้ากับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่งผ่าน ทำให้สามารถบันทึกภาพ STEM โดยใช้การนับอิเล็กตรอนแทนการประมวลผลสัญญาณอนาล็อกแบบเดิม เทคนิคนี้ช่วยให้แสดงภาพที่คมชัดและมีสัญญาณรบกวนน้อยลง โดยเฉพาะอย่างยิ่งในระหว่างการสแกนความเร็วสูง ด้วยการกำจัดแหล่งกำเนิดสัญญาณรบกวนหลัก รวมถึงเอฟเฟกต์แสงเรืองรองที่เกิดขึ้นในตัวตรวจจับ

ฟังก์ชันนี้ยังมีให้บริการในระบบการมอดูเลชั่นแบบอิงเหตุการณ์ระดับสูงกว่า (ID-04320TEMPO / ID-04340TEMPO) อย่างไรก็ตาม เพื่อใช้ประโยชน์จากความสามารถของระบบการมอดูเลชั่นแบบอิงเหตุการณ์อย่างเต็มประสิทธิภาพ จำเป็นต้องใช้ EDM Basic หรือ EDM Synchrony

การประยุกต์ใช้ทางชีวภาพ

1 เหตุการณ์ต่อพิกเซล

3 เหตุการณ์ต่อพิกเซล

7 เหตุการณ์ต่อพิกเซล

14 เหตุการณ์ต่อพิกเซล

ภาพ TEMPO ของเซลล์แมคโครฟาจของมนุษย์ที่บันทึกด้วยเครื่องปิดลำแสงที่กระตุ้นหลังจากเหตุการณ์ต่างๆ คอนทราสต์แสดงค่าอัตราการกระเจิง เครดิตข้อมูล: turboTEM

ตัวอย่างความเสียหายที่ลดลงของตัวอย่างแมโครฟาจของมนุษย์เมื่อใช้ TEMPO ในการสร้างภาพเทียบกับ STEM ทั่วไป หลังจากการสร้างภาพด้วย TEMPO (โดยใช้อิเล็กตรอน 3 ตัวต่อพิกเซล เฟรมเฉลี่ย 10 เฟรม) สถานะเริ่มต้นจะคงอยู่ ระหว่างและหลังการสร้างภาพแบบทั่วไป (เฟรมเฉลี่ย 10 เฟรม) ตัวอย่างจะแสดงความเสียหายและการบิดเบือนอย่างมีนัยสำคัญ เครดิตข้อมูล: turboTEM

ข้อมูลที่เกี่ยวข้อง

งานวิจัยความร่วมมือได้รับการตีพิมพ์ในหัวข้อ "วิทยาศาสตร์"